第一章 簡介 .........................................................................................................1
1.1 安全須知 ......................................................................................................................... 1
1.2 技術(shù)用語 ......................................................................................................................... 4
1.3 安裝準備 ......................................................................................................................... 7
1.4 安裝說明 ......................................................................................................................... 8
第二章 技術(shù)規(guī)範 .................................................................................................9
2.1 產(chǎn)品規(guī)格書 ..................................................................................................................... 9
第三章 面板和背板...........................................................................................11
3.1 前面板說明 ................................................................................................................... 11
3.2 背面板說明 ................................................................................................................... 13
第四章 操作說明 ...............................................................................................15
4.1 測試參數(shù)設(shè)定 ............................................................................................................... 16
4.2 一般參數(shù)設(shè)定 ............................................................................................................... 25
4.3 顯示器訊息 ................................................................................................................... 30
4.4 測試功能確認 ............................................................................................................... 37
4.5 操作程序及步驟 ........................................................................................................... 39
4.6 耐壓/絕緣測試器和接地阻抗測試器連動測試 .......................................................... 41
第五章 界面說明 ...............................................................................................42
5.1 標準遙控界面 ( Remote I / O ).................................................................................... 42
5.2 RS485 界面(選購).......................................................................................................... 46
第六章 儀錶校正 ...............................................................................................49
6.1 校正步驟 ....................................................................................................................... 49
6.2 校正完成 ....................................................................................................................... 51 1
第一章 簡介
高電壓測試前應(yīng)該注意的規(guī)定和事項 !!!
1.1 安全須知
• 使用本耐壓測試器以前,請先了解本機所使用和相關(guān)的安全標誌,以策安全。
• 本儀器所引用的安全規(guī)範為 Safety Class I 的規(guī)定(機體具有保護用的接地端子)。
• 在開啟本機的輸入電源開關(guān)前,請先選擇正確的輸入電壓(115V 或 230V 輸入)規(guī)格。
安全符號
小心標誌。 請參考手冊上所列的警告和注意說明,以避免人員受傷害或儀器
受損。
電擊危險標誌,可能會有高電壓存在,請避免接觸。
機體接地符號。
警告應(yīng)注意所執(zhí)行的程序、應(yīng)用、或條件均具有很高的危險性,可能導(dǎo)致
人員受傷或甚至死亡。
提醒須注意所執(zhí)行的程序、應(yīng)用、或條件均可能造成儀器損壞或失掉儀器
內(nèi)所有儲存的資料。
耐壓測試器所產(chǎn)生的電壓和電流足以造成人員傷害或感電,為了防止意外傷害或死亡發(fā)
生,在搬移和使用儀器時,請務(wù)必先觀察清楚,然後再進行動作。
WARNING
CAUTION 請尋求 電子或其指定的經(jīng)銷商給予維護。
使用未經(jīng) 電子認可的零件或附件也不予保證。
儀器被更改, 電子會將儀器的電路或零件修復(fù)回原來設(shè)計的狀態(tài)
嘉仕
2
維護和保養(yǎng)
使用者的維護
為了防止感電的發(fā)生,請不要掀開儀器的蓋子。 本儀器內(nèi)部所有的零件,絕對不需使用
者的維護。 如果儀器有異常情況發(fā)生, 所
附的線路和方塊圖僅供參考之用。
定期維護
本耐壓測試器、輸入電源線、測試線、和相關(guān)附件等每年至少要仔細檢驗和校驗一次,
以保護使用者的安全和儀器的精確性。
使用者的修改
使用者不得自行更改儀器的線路或零件,如被更改,儀器的保證則自動失效並且本公司
不負任何責任。 如發(fā)現(xiàn)送回檢修的
,並收取修護費用。
測試工作站
工作位置
工作站的位置選定必須安排在一般人員非必經(jīng)的處所,使非工作人員遠離工作站。 如果
因為生產(chǎn)線的安排而無法做到時,必須將工作站與其它設(shè)施隔開並且特別標明“高壓測
試工作站”。 如果高壓測試工作站與其它作業(yè)站非常接近時,必須特別注意安全的問題。
在高壓測試時,必須標明“危險! 高壓測試進行中,非工作人員請勿靠近”。
輸入電源
耐壓測試器必須有良好的接地,作業(yè)前務(wù)必將地線接妥,以確保人員安全。 測試站的電
源必須有單獨的開關(guān),裝置於測試站的入口顯眼處並予特別標明,讓所有的人都能辨別
那是測試站的電源開關(guān)。 一旦有緊急事故發(fā)生時,可以立即關(guān)閉電源,再進入處理事故。
工作場所
儘可能使用非導(dǎo)電材質(zhì)的工作桌工作臺。 操作人員和待測物之間不得使用任何金屬。 操
作人員的位置不得有跨越待測物去操作或調(diào)整耐壓測試器的現(xiàn)象。 如果待測物體積很
小,儘可能將待測物放置於非導(dǎo)電的箱體內(nèi),例如壓克力箱等。
測試場所必須隨時保持整齊、乾淨,不得雜亂無章。 不使用之儀器和測試線請放固定位
置,一定要讓所有的人員都能立即分出何者為正在測試的物件、待測物件、和已測物件。
測試站及其周邊之空氣中不能含有可燃氣體或在易燃物質(zhì)的旁邊使用耐壓測試器。
嘉仕
嘉仕因為 電子的耐壓器要準確的量測微小的漏電電流,所以有些儀器的回路線不是直接
3
操作人員規(guī)定
人員資格
耐壓測試器所輸出的電壓和電流在錯誤的操作誤觸感電時,足以造成人員傷害或致命,
必須由訓(xùn)練合格的人員使用和操作。
安全守則
操作人員必須隨時給予教育和訓(xùn)練,使其了解各種操作規(guī)則的重要性,並依安全規(guī)則操
作耐壓測試器。
衣著規(guī)定
操作人員不可穿有金屬裝飾的衣服或配戴金屬的手飾和手錶等,這些金屬飾物很容易造
成意外的感電。 意外感電時,後果也會更加嚴重。
醫(yī)學(xué)規(guī)定
耐壓測試器絕對不能讓有心臟病或配戴心律調(diào)整器的人員操作。
測試安全程序規(guī)定
絕對不可在帶電的電路上或設(shè)備上,使用耐壓測試器!
耐壓測試器之接地線一定要按照規(guī)定接妥。 在接測試線時一定要先將耐壓測試器上的回
路線[Return Lead]接到待測物上。 只有在做測試之前,才能將高壓測試線插入高壓輸出
端子。 在拿取高壓測試線時必須握在絕緣體的部位,絕對不能握在導(dǎo)電體上。 操作人
員必須確定能夠完全自主掌控耐壓測試器的控制開關(guān)和遙控開關(guān),遙控開關(guān)不用時應(yīng)放
置定位,不可任意放置。
∗[
接地。] 在作測試時待測物必須與地線和大地完全絕緣。 如果待測物與地線或大地接觸,
可能會造成無法量測電流,或所量測的電流不準確。
在耐壓測試進行中,絕對不能碰觸測試物件或任何與待測物有連接的物
件。
必須記著下列安全要點
• 非合格的操作人員和不相關(guān)的人員應(yīng)遠離高壓測試區(qū)。
• 隨時保持高壓測試區(qū)在安全和有秩序的狀態(tài)。
• 在高壓測試進行中絕對不碰觸測試物件或任何與待測物有連接的物件。
• 萬一發(fā)生任何問題,請立即關(guān)閉高壓輸出和輸入電源。
• 在直流耐壓測試後,必須先妥善放電,才能進行拆除測試線的工作。
WARNING
WARNING
嘉仕4
1.2 技術(shù)用語
測試的重要性 ••• 使用者的安全
在消費意識高漲的現(xiàn)今世界,每一個電氣和電子產(chǎn)品的製造商,必須盡最大的能力,將
產(chǎn)品的安全做好。 每一種產(chǎn)品的設(shè)計必須盡其可能,不讓使用者有被感電的機會。 縱
然是使用者發(fā)生錯誤使用也應(yīng)無感電機會。 為了達到一般公認的安全要求,“耐壓測試
器”就必須被使用。 目前安規(guī)執(zhí)行單位,例如 UL CSA IEC BSI VDE TUV 和 JSI 等都要
求各製造商在設(shè)計和生產(chǎn)電子或電氣產(chǎn)品時要使用“耐壓測試器”作為安全測試。
耐壓測試(Dielectric Withstand Voltage Test)
如果一個產(chǎn)品能在非常惡劣的環(huán)境下正常的運轉(zhuǎn),就可以確定在正常的環(huán)境下也一定可
以很正常的運轉(zhuǎn)。 最常使用耐壓測試的情況為:
• 設(shè)計時的功能測試 ••• 確定所設(shè)計的產(chǎn)品能達到其功能要求的條件。
• 生產(chǎn)時的規(guī)格測試 ••• 確認所生產(chǎn)的產(chǎn)品能達到其規(guī)格要求的標準。
• 品保時的確認測試 ••• 確認產(chǎn)品的品質(zhì)能符合安規(guī)的標準。
• 維修後的安全測試 ••• 確認維修後的產(chǎn)品能維持符合安規(guī)的標準。
不同的產(chǎn)品有不同的技術(shù)規(guī)格,基本上在耐壓測試時是將一個高於正常工作的電壓加在
產(chǎn)品上測試,這個電壓必須持續(xù)一段規(guī)定的時間。 如果一個零組件在規(guī)定的時間內(nèi),其
漏電電流量亦保持在規(guī)定的範圍內(nèi),就可以確定這個零組件在正常的條件下運轉(zhuǎn),應(yīng)該
是非常安全。 而優(yōu)良的設(shè)計和選擇良好的絕緣材料可以保護使用者,讓他免予受到意外
感電。
本儀器所做的耐壓測試,一般稱之為“高電壓介電測試”,簡稱為“耐壓測試”。 基本的規(guī)
定是以兩倍於待測物的工作電壓,再加一千伏特,作為測試的電壓標準。 有些產(chǎn)品的測
試電壓可能高於 2 X 工作電壓 + 1000 V。 例如有些產(chǎn)品的工作電壓範圍是從 100V 到
240V,這類產(chǎn)品的測試電壓可能在 1000V 到 4000V 之間或更高。 一般而言,具有“雙絕
緣”設(shè)計的產(chǎn)品,其使用的測試電壓可能高於 2 X 工作電壓+ 1000 V 的標準。
耐壓測試在產(chǎn)品的設(shè)計和樣品製作時比正式生產(chǎn)時的測試更為精密,因為產(chǎn)品在設(shè)計測
試階段便已決定產(chǎn)品的安全性。 雖然在產(chǎn)品設(shè)計時只是用少數(shù)的樣品來作判斷,然而生
產(chǎn)時的線上測試更應(yīng)嚴格要求所有的產(chǎn)品都必須能通過安規(guī)標準,可以確認沒有不良品
會流出生產(chǎn)線。
耐壓測試器的輸出電壓必須保持在規(guī)定電壓的 100%到 120%的範圍內(nèi)。AC 耐壓測試器的
輸出頻率必須維持在 40 到 70Hz 之間,同時其波峰值不得低於均方根(RMS)電壓值的 1.3
倍,並且其波峰值不得高於均方根(RMS)電壓值的 1.5 倍。5
交流(AC)測試和直流(DC)測試的優(yōu)缺點
請先與受測試產(chǎn)品所指定的安規(guī)單位確認該產(chǎn)品應(yīng)該使用何種電壓,有些產(chǎn)品可以同時
接受直流和交流兩種測試選擇,但是仍然有多種產(chǎn)品只允許接受直流或交流中的一種測
試。 如果安規(guī)規(guī)範允許同時接受直流或交流測試,製造廠就可以自己決定何種測試對於
產(chǎn)品較為適當。 為了達成此目地,使用者必須了解直流和交流測試的優(yōu)缺點。
交流耐壓(ACW)測試的特點
大部份做耐壓測試的待測物都會含有一些雜散電容量。 用交流測試時可能無法充飽這些
雜散電容,會有一個持續(xù)電流流過這些雜散電容。
交流耐壓(ACW)測試的優(yōu)點
1. 一般而言,交流測試比直流測試更容易被安規(guī)單位接受。 主因是大部份的產(chǎn)品都使
用交流電,而交流測試可以同時對產(chǎn)品作正負極性的測試,與產(chǎn)品使用的環(huán)境完全一
致,合乎實際使用狀況。
2. 由於交流測試時無法充飽那些雜散電容,但不會有瞬間衝擊電流發(fā)生,因此不需讓測
試電壓緩慢上升,可以一開始測試就全電壓加上,除非這種產(chǎn)品對衝擊電壓很敏感。
3. 由於交流測試無法充滿那些雜散電容,在測試後不必對測試物作放電的動作,這是另
外一個優(yōu)點。
交流(AC)測試的缺點
1. 主要的缺點為,如果待測物的雜散電容量很大或待測物為電容性負載時,這樣所產(chǎn)生
的電流,會遠大於實際的漏電電流,因而無法得知實際的漏電電流。
2. 另外一個缺點是由於必須供應(yīng)待測物的雜散電容所需的電流,儀器所需輸出的電流會
比採用直流測試時的電流大很多。 這樣會增加操作人員的危險性。
直流(DC)測試的特點
在直流耐壓測試時,待測物上的雜散電容會被充滿,直流耐壓測試時所造成的容性電流,
在雜散電容被充滿後,會下降到零。
直流(DC)測試的優(yōu)點
1. 一旦待測物上的雜散電容被充滿,只會剩下待測物實際的漏電電流。 直流耐壓測試
可以很清楚的顯示出待測物實際的漏電電流。
2. 另外一個優(yōu)點是由於僅需在短時間內(nèi),供應(yīng)待測物的充電電流,其它時間所需供應(yīng)的
電流非常小,所以儀器的電流容量遠低於交流耐壓測試時所需的電流容量。6
直流(DC)測試的缺點
1. 除非待測物上沒有任何電容量存在,否則測試電壓必須由“零”開始,緩慢上升,以
避免充電電流過大,電容量越大所需的緩升時間越長,一次所能增加的電壓也越低。
充電電流過大時,一定會引起測試器的誤判,使測試的結(jié)果不正確。
2. 由於直流耐壓測試會對待測物充電,所以在測試後,一定要先對待測物放電,才能做
下一步工作。
3. 與交流測試不一樣,直流耐壓測試只能單一極性測試,如果產(chǎn)品要使用於交流電壓
下,這個缺點必須被考慮。 這也是大多數(shù)安規(guī)單位都建議使用交流耐壓測試的原因。
4. 在交流耐壓測試時,電壓的波峰值是電錶顯示值的 1.4 倍,這一點是一般電錶所不能
顯示的,也是直流耐壓測試所無法達到的。 所以多數(shù)安規(guī)單位都要求,如果使用直
流耐壓測試,必須提高測試電壓到相等的數(shù)值。
只有耐壓測試能檢測出下列狀況
• 絕緣材料的絕緣強度太弱
• 絕緣體上有針孔
• 零組件之間的距離不夠
• 絕緣體被擠壓而破裂如果有損壞,請立即通知
在未通知 電子或其經(jīng)銷商前,請勿立即退回產(chǎn)品。
本章主要介紹 電子產(chǎn)品的拆封、檢查、使用前的準備、和儲存等的規(guī)則。
電子的產(chǎn)品是包裝在一個使用泡綿保護的包裝箱內(nèi),如果收到時的包裝箱有破損,
7
1.3 安裝準備
拆封和檢查
請檢查儀器的外觀是否有無變形、刮傷、或面板損壞等。
電子或其經(jīng)銷商。 並請保留包裝箱和泡綿,以便了解發(fā)生的原因。 我們的服務(wù)中心會
幫您修護或更換新機。
使用前的準備
輸入電壓的需求和選擇
71 系列的耐壓測試器使用 115V AC 或 230V AC ± 15% 47-63 Hz 單相的電源。 在開啟儀
器的電源開關(guān)以前,請先確認背板上的電壓選擇開關(guān),是否放置在正確的位置。 同時必
須使用正確規(guī)格的保險絲,保險絲使用規(guī)格已標示在儀器的背板上。 更換保險絲前,必
須先關(guān)閉輸入電源,以避免危險。
注意 !!! 本機使用的保險絲為 3.15A 快速熔斷型。
輸入電源的要求
在接上輸入電源之前,必須先確認電源線上的地線已經(jīng)接妥,同時也將地
線接到機體上的接地端子上。 儀器上的電源插頭只能插在帶有地線的電源
插座上。 如果使用延長線,必須注意延長線是否帶有接地線。 耐壓測試器是使用三芯
電纜線。 當電纜線插到具有地線的插座時,即已完成機體接地。
使用的週圍環(huán)境條件
溫 度 : 0°-40°C (32°-104°F)。
相對濕度 : 在 20 到 80%之間。
高 度 : 在海拔 2000 公尺(6500 英呎)以下。
WARNING
嘉仕
嘉仕
嘉仕
嘉仕先與 電子的維修中心連絡(luò)。
電子的
8
儲存和運輸
週圍環(huán)境
71 系列的耐壓測試器可以在下列的條件下儲存和運輸:
週圍溫度 .....…........... -40°到 75°C
高度 ............................ 7620 公尺(25000 英呎)
本機必須避免溫度的急劇變化,溫度急劇變化可能會使水氣凝結(jié)於機體內(nèi)部。
包裝方式
原始包裝:
請保留所有的原始包裝材料,如果儀器必須回廠維修,請用原來的包裝材料包裝。 並請
送修時,請務(wù)必將電源線和測試線等全部的附件一起送
回,請註明故障現(xiàn)象和原因。 另外,請在包裝上註明“易碎品”請小心搬運。
其它包裝:
如果無法找到原始包裝材料來包裝,請按照下列說明包裝:
1.先用氣泡布或保麗龍將儀器包妥。
2.再將儀器置於可以承受 150KG (350lb.) 的多層紙箱包裝。
3. 儀器的週圍必須使用可防震的材料填充,厚度大約為 70 到 100mm (3 到 4inch) ,儀器
的面板必須先用厚紙板保護。
4.妥善密封箱體。
5.註明“易碎品”請小心搬運。
1.4 安裝說明
嘉仕 71 系列的耐壓測試器不需其它附屬的現(xiàn)場安裝程序。
嘉仕8% of setting+2counts
5% of setting+2counts
2% of setting+2counts
2% of setting + 5V
2% of setting + 2counts
2% of setting + 2counts
2% of setting + 5V
2% of setting + 2counts
2% of setting + 2counts
2% of setting + 5V
9
第二章 技術(shù)規(guī)範
2.1 產(chǎn)品規(guī)格書
MODEL 7130 7132 7140 7142
AC WITHSTAND VOLTAGE
Output Rating 5KVAC/20mA
Range Resolution Accuracy
Output Voltage, KVAC 0-5.00 0.01 ±( )
Output Frequency 50Hz/60Hz ±100ppm, User Selection
Output Waveform Sine Wave ,THD.<2% (Resistive Load), Crest Factor = 1.3 - 1.5
Output Regulation ± (1% of output + 5V), From no load to full load
SETTINGS
Max-Limit AC Current, mA 0 - 20.00 0.01 ±( )
Min-Limit AC Current, mA 0 - 9.999 0.001 ±( )
Ramp Up Time, second 0.1 - 999.9 0.1
Ramp Down Time, second 0 - 999.9 0.1
Dwell Time, second 0, 0.3 - 999.9
(0=continuous)
0.1
±(0.1% + 0.05sec)
Arc Detection 0, 1 - 9 ranges (0=OFF, 9 is the most sensitivity)
DC WITHSTAND VOLTAGE (7140,7142 ONLY)
Output Rating 6KVDC/7500µA
Output Voltage, KVDC 0 - 6.00 0.01 ±( )
Output Ripple <5% (6KV/7500µA at Resistive Load)
SETTINGS
Max-Limit DC Current, µA 0 - 7500 1 ±( )
Min-Limit DC Current, µA 0 - 999.9 0.1 ±( )
Ramp Up Time, second 0.1 - 999.9 0.1
Ramp Down Time, second 0, 1.0 - 999.9 0.1
Dwell Time, second 0, 0.4 - 999.9
(0=continuous)
0.1
±(0.1% + 0.05sec)
Arc Detection 0, 1 - 9 ranges (0=OFF, 9 is the most sensitivity)
Discharge Time < 200 msec
INSULATION RESISTANCE (7132,7142 ONLY)
Output Rating 1KVDC/9999M?
Output Voltage, DCV 30 - 1000 10 ±( )
SETTINGS
Max-Limit Resistance, M? 0, 1 - 9999 (0=OFF) 1
Min-Limit Resistance, M? 1 - 9999 1
±( )at 500-1000VDC, 1 -1000 MΩ
±( )at 500-1000VDC, 1000 -9999 MΩ
±( )at 30-500VDC, 1 -1000 MΩ
Ramp Up Time, second 0.1 - 999.9 0.1
Ramp Down Time, second 0, 1.0 - 999.9 0.1 8% of setting+2counts
5% of setting+2counts
2% of setting+2counts
2% of reading + 2counts
2% of reading + 2counts
1.5% of reading + 5V
1.5% of reading + 1count
10
Delay Time, second 0, 0.5 - 999.9
(0=continuous)
0.1 ±(0.1% + 0.05sec)
MEASUREMENT
AC/DC Voltage, KV 0 - 6.00 0.01 ±( )
DC Voltage, V (IR only) 30 - 1000 1 ±( )
AC Current, mA 0 - 3.500 0.001
3.00 - 20.00 0.01
±( )
DC Current, µA 0 - 350.0 0.1
DC Current, mA 0.300 - 3.500 0.001
3.00 - 7.50 0.01
±( )
Resistance, M?
1 - 9999
(Auto Range)
0.001
0.01
0.1
1
±( )at 500-1000VDC, 1 -1000 MΩ
±( )at 500-1000VDC, 1000 -9999 MΩ
±( )at 30-500VDC, 1 -1000 MΩ
GENERAL
Input Voltage AC 115/230Vac±15%, 50/60Hz ± 5%, Fuse 3.15A
PLC Remote Control Input : Test , Reset , Memory1.2.3 , Interlock
Output : Pass , Fail , Processing , Reset-Out
Interface(Option) RS485 Interface
Memory 10 memories, 3 steps/memory
Graphic Display 128×64 Graphic LCD
Safety Built-in Smart GFI circuit,GFI trip current 450µA max, HV shut down speed: <1mS
Key Lock To prevent unauthorized alteration of the test Parameters
Calibration Build-in software and external calibrated meters
Verification Build-in software driven verification menu to test fault detection circuits
Alarm Volume Setting Range: 0-9 ;0=OFF, 1 is softest volume, 9 is loudest volume.
Environment 0-40℃, 20-80%RH
Dimension/Net Weight 215mm(W)×89mm(H)×370mm(D)/ 10Kg
STANDARD ACCESSORIES
Power Cord(10A) ×1
Fuses ×2 (Including a spare contained in the fuse holder)
Interlock Disable Key(1505) ×1
High Voltage Test Cable(1101) ×1
Return Test Cable(1102) ×1 11
第三章 面板和背板
3.1 前面板說明
2 3 4 5 6 7
1 11 10 9 8
1. POWER 輸入電源開關(guān)
標有國際標準“1”(ON)和“0”(OFF)符號的開關(guān),作為輸入的電源開關(guān)。
2. RESET 開關(guān)
紅色的瞬時接觸開關(guān)同時內(nèi)含 FAIL 的指示燈。 在設(shè)定模式時其功能和 EXIT 鍵相
同,可以作為離開設(shè)定模式的開關(guān)。 在測試進行時,作為關(guān)閉警報聲進入下一個待
測狀態(tài)的開關(guān)。 在測試進行之中,也可以作為中斷測試的開關(guān)。 在待測物未能通
過測試時,這個紅色指示燈會亮。
3. TEST 開關(guān)
綠色的瞬時接觸開關(guān)同時內(nèi)含 PASS 的指示燈,作為測試的起動開關(guān)。 在待測物通
過測試時,這個綠色指示燈會亮。
4. LCD 顯示器
128*64 背光式液晶顯示器,作為顯示設(shè)定資料或測試結(jié)果的顯示器。
5. Menu/Result 鍵
作為選擇進入設(shè)定模式和選擇記憶組、測試項目、交流或直流耐壓測試及其參數(shù)設(shè)
定和絕緣阻抗測試及其參數(shù)設(shè)定的操作鍵,及輸入確認和功能設(shè)定以及檢視測試記12
錄之功能鍵,同時也作為鍵盤鎖定的設(shè)定鍵。
6. Memory/Test 鍵
記憶組選擇鍵,可以從 10 組記憶組之中任意選擇一組執(zhí)行測試在設(shè)定模式時作為功
能模式選擇和各項測試參數(shù)數(shù)值輸入的功能鍵。
7. RETURN 端子
回線端子,配合回路測試線 P/N 1102 使用。
8. H. V. 端子
高壓輸出端子,配合高壓測試線 P/N 1101 使用。
9. 高電壓標誌
當儀器開始輸出電壓時,高電壓標誌內(nèi)的指示燈
會閃爍,表示“高電壓輸出中、危險”。
10. Step/System 鍵
測試步驟選擇鍵,每個記憶組含有 3 測試步驟 (STEP),可以使用 STEP 鍵任意選擇
其中一個步驟,設(shè)定該步驟的測試參數(shù), 操作和環(huán)境條件設(shè)定之選擇鍵,如、顯示
器反襯亮度、蜂鳴器音量、遙控或手動模式選擇和 DUT 測試結(jié)果顯示之設(shè)定。
11. EXIT/ESC 鍵
作為離開設(shè)定模式之功能鍵, 如所輸入的數(shù)字有錯誤,可以按 Esc 鍵清除錯誤的數(shù)
字,再重新輸入正確的數(shù)字,如果所輸入的數(shù)字超出本分析儀規(guī)格範圍,儀器會發(fā)
出警報聲音。
(P/N 1101)
(P/N 1102)13
3.2 背面板說明
11 5 7 8 9 10
6 1 2 3 4
1. OPTION 端子排
提供一選購界面 RS485(詳細請參閱 Pag.47)。
2. SIGNAL OUTPUT 端子排
遙控訊號輸出端子排,D 型 (9PIN) 端子排母座,使用繼電器 (RELAY) 接點輸出
PASS、FAIL 和 PROCESSING 等功能的訊號,以供遙控裝置使用。(詳細請參閱
Pag.44)。
3. SIGNAL INPUT 端子排
遙控訊號輸入端子排,D 型 (9PIN) 型端子排公座,可以輸入 TEST 和 RESET 的控
制訊號,以及選擇執(zhí)行記憶組 #1、#2 和 #3 等功能的遙控輸入訊號。(詳細請參閱
Pag.44)。
4. 校正按鍵開關(guān)
要進入校正模式時,需先按住此開關(guān),再開啟輸入電源開關(guān)。
5. H. V. 端子
高壓輸出端子,配合高壓測試線 P/N 1101 使用。
(P/N 1101)14
6. RETURN 端子
回線端子 ,配合回路測試線 P/N 1102 使用。
7. 輸入電源保險絲座
先關(guān)閉輸入電源開關(guān),才能更換保險絲,並且應(yīng)更換標準規(guī)格的保險絲。
8. 輸入電源插座
標準的 IEC 320 電源插座,可以接受標準的 NEMA 電源插頭。
9. 接地(EARTH)端子
機體的接地端子,請務(wù)必接妥接地線以確保操作人員安全。
10. 輸入電壓選擇開關(guān)
選擇輸入電源電壓,開關(guān)向左為 115V,開關(guān)向右為 230V,儀器出廠時設(shè)定在 230V 的位置。
11. 散熱風扇
連續(xù)運轉(zhuǎn)排熱風扇,請保持背板後方良好的排風散熱空間。
(P/N 1102)15
第四章 操作說明
71 系列的耐壓測試器備有連結(jié)鎖定功能,要進入?yún)?shù)設(shè)定
前,需先確認鍵盤是否被鎖定。 於按下 Test 鍵後,如果
本儀器已被鎖定,會發(fā)出兩聲短暫“嗶”的警告聲,同時顯
示器也會顯示: 如右圖。
隨後又回到原先的畫面。 因此必須先解除鎖定,才能進行測試, 請安裝解除鎖定裝置,
解除連結(jié)的鎖定。
71 系列的耐壓測試器也備有鍵盤鎖定功能,要進入?yún)?shù)設(shè)
定前,需先確認鍵盤是否被鎖定。 於按下 Menu 鍵後,
進入?yún)?shù)設(shè)定畫面後,如果本儀器的鍵盤已被鎖定,會發(fā)
出兩聲短暫“嗶”的警告聲,同時顯示器也會顯示:如右圖。
隨後又回到原先的畫面。 因此必須先解除鎖定,才能進行測試參數(shù)的設(shè)定。 請參照鍵
盤鎖定的說明,解除鍵盤的鎖定。
“Menu”鍵是進入?yún)?shù)設(shè)定模式的操作鍵,當進入主目錄設(shè)定模式後可選擇 Menu,
Memory, Step 及 Exit 功能,再按一次 Menu 鍵,會進入到下一個子目錄模式,同時會
自動將設(shè)定的測試參數(shù)存入記憶體內(nèi)。 存入記憶體內(nèi)的測試參數(shù)或模式,在關(guān)閉輸入電
源後仍然被繼續(xù)保留而不會被清除,除非再經(jīng)過人為的重新設(shè)定,如下圖。
轉(zhuǎn)動到最後一個測試參數(shù)設(shè)定的項目之後會再回到最初第一個參數(shù)設(shè)定項目。 然而轉(zhuǎn)動
的參數(shù)項目會依所選擇的參數(shù)設(shè)定為交流耐壓測試、直流耐壓測試或絕緣阻抗測試等而
有所不同,程式會依照不同的項目而提供不同的參數(shù)設(shè)定項目。
在測試參數(shù)設(shè)定的過程中,如果不必全部重新設(shè)定時,可以在任何一個步驟完成後,按16
“EXIT”鍵離開測試參數(shù)設(shè)定模式,程式會自動進入待測模式,並將已設(shè)定的測試參數(shù)存
入記憶體內(nèi)。
程式不接受不合理的設(shè)定和輸入,如有不合理的設(shè)定或輸入時,會發(fā)出兩個短暫嗶的警
告聲並且回到原先的設(shè)定。
4.1 測試參數(shù)設(shè)定
Memory 鍵
10 個測試程式記憶組 (MEMORY) 具有 3 個測試步驟 (STEP),每個測試步驟均可依序
連結(jié)到下一個測試程式記憶組的測試步驟。但每個測試步驟只能設(shè)定一種測試功能,下
表為各測試程式記憶組和各測試步驟功能設(shè)定的說明圖 :
MEMORY 0 STEP 1 STEP 2 STEP 3
每個測試步驟
只可選擇一個
測試功能
ACW
DCW
IR
ACW
DCW
IR
ACW
DCW
IR
MEMORY 2 STEP 1 STEP 2 STEP 3
每個測試步驟
只可選擇一個
測試功能
ACW
DCW
IR
ACW
DCW
IR
ACW
DCW
IR
.
.
MEMORY 9 STEP 1 STEP 2 STEP3
每個測試步驟
只可選擇一個
測試功能
ACW
DCW
IR
ACW
DCW
IR
ACW
DCW
IR
註解 : 1.在 7130 和 7140 的機型上,沒有絕緣阻抗 IR 測試功能,在儀器上也不會出
現(xiàn)這項功能的設(shè)定鍵和參數(shù)。
2.按 Memory 鍵會依序進入下一個記憶組,在第 9 個測試步驟之後,會回到
第 0 個步驟。
Step 鍵
在按 STEP 鍵後,液晶顯示器上將會顯示,該步驟所設(shè)定測試項目的測試參數(shù),也就是
交流耐壓、直流耐壓、絕緣阻抗測試參數(shù)。再按一次 STEP 鍵,會依序進入下一個測試
步驟,在第 3 個測試步驟之後,會回到第 1 個步驟。17
當測試步驟被連結(jié)到下一個測試步驟時,液晶顯示器上會在
步驟的代表數(shù)字之後顯示一個 _ ,例如:進行第 1 記憶組的第
1 測試步驟之後,會自動連結(jié)到第 1 記憶組的第 2 測試步驟,
如右圖。
EXIT 鍵
作為離開設(shè)定模式之功能鍵。
Test 鍵
在按 Test 鍵後,則進入耐壓測試參數(shù)設(shè)定模式,LCD 顯示器即顯示如下圖。
Test Type XXX : 耐壓測試項目設(shè)定模式
Voltage X.XXKV : 測試電壓設(shè)定(單位為 10V)
Max Lmt XX.XXmA :上限設(shè)定 。
Min Lmt X.XXX mA :下限設(shè)定 。
Ramp UP X.Xs: 緩升時間設(shè)定, (其單位為 0.1 sec/step)。
Dwell X.Xs: 測試時間參數(shù)設(shè)定, (其單位為 0.1 sec/step)。
Ramp DN X.Xs: 緩降時間設(shè)定, (其單位為 0.1 sec/step)。
Arc Sense X :電弧靈敏度(0-9)設(shè)定
Frequency XXHz: 輸出頻率設(shè)定,( 50 或 60 Hz) 。
Connect ON/OFF: 步驟連結(jié)設(shè)定。
註明 : 1.X 為數(shù)字 (0~9) 。
2.按 Edit 鍵進入至各項測試參數(shù)的編輯鍵。
耐壓測試參數(shù)設(shè)定
耐壓測試的參數(shù)設(shè)定是使用 ∧ 或 ∨ 鍵作為選擇參數(shù)項目的操作鍵。,每按一次則進入
下一個參數(shù)項目,耐壓測試參數(shù)設(shè)定項目依序為 :測試項目(Test Type)、電壓(Voltage)、
電流上限 (Max Lmt)、電流下限 (Min Lmt)、緩升時間 (Ramp UP)、測試時間 (Dwell
Time)、緩降時間 (Ramp DN)、電弧靈敏度 (ARC Sense)、頻率 (Frequency) (直流耐
壓測試無此項目)、步驟連結(jié) ( Connect)。
測試項目(Test Type)選擇
請用“+”或“-”鍵選擇要作測試的項目,本儀器備有交流耐壓測試(ACW)、直流耐壓測試
(DCW)、絕緣阻抗測試(IR)、等三種測試項目可供選擇, 如下圖。 不同的機型可供選
擇的測試項目會有所不同,下面表列為各機型可選擇的測試項目對照表: 18
輸出電壓(Voltage)設(shè)定
請用面板上的“∧”或“∨”鍵移動至 Voltage 檔位後按 Edit 鍵後,程式會進入耐壓測試的輸
出電壓設(shè)定模式,請用面板上的“+”或“-”鍵輸入所要設(shè)定的輸出電壓,再按 ENTER 鍵,
將設(shè)定數(shù)值存入,其單位為“KV” ,如下圖。
漏電電流上限(Max Lmt)設(shè)定
請用面板上的“∧”或“∨”鍵移動至 Max Lmt 檔位後按 Edit 鍵後,程式會進入漏電電流上限
設(shè)定模式,請用面板上的“+”或“-”鍵輸入所要設(shè)定的輸出交流或直流耐壓測試的漏電電流
上限值,再按 ENTER 鍵,將設(shè)定數(shù)值存入,其單位為“mA”, 如下圖。
漏電電流下限(Min Lmt)設(shè)定
請用面板上的“∧”或“∨”鍵移動至 Min Lmt 檔位後按 Edit 鍵後,程式會進入漏電電流下限
設(shè)定模式,請用面板上的“+”或“-”鍵輸入所要設(shè)定的輸出交流或直流耐壓測試的漏電電流
下限值,再按 ENTER 鍵,將設(shè)定數(shù)值存入,其單位為“mA”,如下圖。
機 型 可選擇的測試項目
7130 ACW
7132 ACW、IR
7140 ACW、DCW
7142 ACW、DCW、IR 19
緩升時間(Ramp Up)設(shè)定
請用面板上的“∧”或“∨”鍵移動至 Ramp Up 檔位後按 Edit 鍵後,程式會進入緩升時間設(shè)
定模式,請用面板上的“+”或“-”鍵輸入所要設(shè)定的輸出交流或直流耐壓測試的緩升時間
值,再按 ENTER 鍵,將設(shè)定數(shù)值存入,其單位為“s” ,如下圖。
測試時間(Dwell)設(shè)定
請用面板上的“∧”或“∨”鍵移動至 Dwell 檔位後按 Edit 鍵後,程式會進入測試時間設(shè)定模
式,請用面板上的“+”或“-”鍵輸入所要設(shè)定的輸出交流或直流耐壓測試的測試時間值,
再按 ENTER 鍵,將設(shè)定數(shù)值存入,其單位為“s” ,如下圖。
緩降時間(Ramp DN)設(shè)定
請用面板上的“∧”或“∨”鍵移動至 Ramp DN 檔位後按 Edit 鍵後,程式會進入緩降時間設(shè)
定模式,請用面板上的“+”或“-”鍵輸入所要設(shè)定的輸出交流或直流耐壓測試的緩降時間
值,再按 ENTER 鍵,將設(shè)定數(shù)值存入,其單位為“s” ,如下圖。20
電弧靈敏度 (Arc Sense) 設(shè)定
請用面板上的“∧”或“∨”鍵移動至 Arc Sense 檔位後按 Edit 鍵後,程式會進入電弧靈敏度
設(shè)定模式,請用面板上的“+”或“-”鍵輸入輸入電弧靈敏度數(shù)值 (計有 0 ~ 9 段),再按
ENTER 鍵,將設(shè)定數(shù)值存入,9 為靈敏度最高,而“0”為不偵測待測物的電弧狀況,如下
圖。
輸出頻率(Frequency)設(shè)定
請用面板上的“∧”或“∨”鍵移動至 Frequency 檔位後按 Edit 鍵後,程式會進入輸出頻率設(shè)
定模式,請用面板上的“+”或“-”鍵輸入所要設(shè)定的輸出交流或直流耐壓測試的輸出頻率
選擇切換輸出頻率為 50 或 60 Hz,再按 ENTER 鍵,將設(shè)定數(shù)值存入,如下圖。(本功能
只有交流耐壓才有)
Level 9 2.8 mAp
Level 8 5.5 mAp
Level 7 7.7 mAp
Level 6 10 mAp
Level 5 (Default) 12 mAp
Level 4 14 mAp
Level 3 16 mAp
Level 2 18 mAp
Level 1 20 mAp
電弧偵測靈敏度
設(shè)定
設(shè)定範圍:1 ~ 9 設(shè)定範圍:2 ~ 20mAp 21
步驟連結(jié)(Connect)設(shè)定
請用面板上的“∧”或“∨”鍵移動至 Connect 檔位後按 Edit 鍵後,程式會進入步驟連結(jié)設(shè)定
模式,請用面板上的“+”或“-”鍵輸入所要設(shè)定的輸出交流或直流耐壓測試的步驟連結(jié)選
擇切換為 ON 或 OFF。再按 ENTER 鍵,將設(shè)定數(shù)值存入,如步驟連結(jié)設(shè)定為 ON 時,
在本步驟測試完成後,會自動連結(jié)到下一個步驟繼續(xù)進行測試。如果設(shè)為 OFF 時,在本
步驟測試完成後,則會立即停止測試,不會接續(xù)到下一個測試步驟,如下圖。
這是耐壓測試參數(shù)(Test)設(shè)定的最後一個步驟,可以再按 Exit 鍵回到程式記憶組參數(shù)設(shè)定
步驟,檢查所設(shè)定的測試參數(shù)是否有誤,或直接按“EXIT”鍵離開測試參數(shù)設(shè)定模式,而
進入待測模式,準備正式進行耐壓測試。
絕緣阻抗測試參數(shù)(IR)設(shè)定
絕緣阻抗測試的參數(shù)設(shè)定也是使用∧或∨鍵作為選擇參數(shù)項目的操作鍵。,每按一次則進
入下一個參數(shù)項目,耐壓測試參數(shù)設(shè)定項目依序為 :測試項目(Test Type)、電壓
(Voltage)、絕緣阻抗上限 (Max Lmt)、絕緣阻抗下限 (Min Lmt)、緩升時間 (Ramp UP)、
延遲判定時間 (Delay)、緩降時間 (Ramp DN)、步驟連結(jié) ( Connect)。
測試項目(Test Type)選擇
請用“+”或“-”鍵選擇要作測試的項目,本儀器備有交流耐壓測試(ACW)、直流耐壓測試
(DCW)、絕緣阻抗測試(IR)、等三種測試項目可供選擇。 不同的機型可供選擇的測試項
目會有所不同,下面表列為各機型可選擇的測試項目對照表。
機 型 可選擇的測試項目
7130 ACW
7132 ACW、IR
7140 ACW、DCW
7142 ACW、DCW、IR 22
Test 鍵
在按 Test 鍵後,則進入耐壓測試參數(shù)設(shè)定模式,LCD 顯示器即顯示,如下圖。
Test Type xxx : 絕緣阻抗測試項目設(shè)定模式
Voltage X.XXkV : 測試電壓設(shè)定(單位為 1V)
Max Lmt X MΩ : 絕緣阻抗上限設(shè)定 。
Min Lmt XX MΩ: 絕緣阻抗下限設(shè)定 。
Ramp UP X.Xs: 緩升時間設(shè)定, (其單位為 0.1sec/step)。
Delay X.Xs: 延遲判定時間參數(shù)設(shè)定,
(其單位為 0.1 sec/step)。
Ramp DN X.Xs: 緩降時間設(shè)定,
(其單位為 0.1 sec/step)。
Connect ON/OFF: 步驟連結(jié)設(shè)定。
註明 : 1.X 為數(shù)字 (0~9) 。
2.按 Edit 鍵進入至各項測試參數(shù)的編輯鍵。
輸出電壓(Voltage)設(shè)定
請用面板上的“∧”或“∨”鍵移動至 Voltage 檔位後按 Edit 鍵後,程式會進入絕緣阻抗測試
的輸出電壓設(shè)定模式,請用面板上的“+”或“-”鍵輸入所要設(shè)定的輸出電壓,再按 ENTER
鍵,將設(shè)定數(shù)值存入,,其單位為(其單位為 1 Volt/step) ,如下圖。
絕緣阻抗上限(Max Lmt)設(shè)定
請用面板上的“∧”或“∨”鍵移動至 Max Lmt 檔位後按 Edit 鍵後,程式會進入絕緣阻
抗上限設(shè)定模式,請用面板上的“+”或“-”鍵輸入絕緣阻抗上限值 (其單位為 1 M?/step),
然後再按 ENTER 鍵,將設(shè)定數(shù)值存入。如不作絕緣阻抗上限判定,必須將這項功能的
參數(shù)設(shè)定為 0,如下圖。23
絕緣阻抗下限(Min Lmt)設(shè)定
請用面板上的“∧”或“∨”鍵移動至 Min Lmt 檔位後按 Edit 鍵後,程式會進入絕緣阻抗下
限設(shè)定模式,請用面板上的“+”或“-”鍵輸入絕緣阻抗下限值 (單位為 1M?/step),然後再
按 ENTER 鍵,將設(shè)定數(shù)值存入,如下圖。
緩升時間(Ramp Up)設(shè)定
請用面板上的“∧”或“∨”鍵移動至 Ramp Up 檔位後按 Edit 鍵後,程式會進入緩升時間設(shè)
定模式,請用面板上的“+”或“-”鍵輸入所要設(shè)定的輸出絕緣阻抗測試的緩升時間值,再按
ENTER 鍵,將設(shè)定數(shù)值存入,其單位為“s”。 如下圖
判定延遲時間(Delay)設(shè)定
請用面板上的“∧”或“∨”鍵移動至 Delay 檔位後按 Edit 鍵後,程式會進入判定延遲時間設(shè)
定模式,請用面板上的“+”或“-”鍵輸入判定延遲時間值 (單位為 0.1sec/step),然後再按
ENTER 鍵,將設(shè)定數(shù)值存入。判定延遲時間設(shè)定是作為本分析儀在執(zhí)行絕緣阻抗上、下
限判定的時間依據(jù),因為被測物大多數(shù)都具有電容性 (Capacitive) 而產(chǎn)生很大的充電電
流,判定延遲時間可以讓本分析儀在充電電流穩(wěn)定之後,才做判定。判定延遲的時間必
須依據(jù)被測物的電容性大小和絕緣阻抗所需要的精確度,作為設(shè)定的參考和依據(jù),如下
圖。
緩降時間(Ramp DN)設(shè)定
請用面板上的“∧”或“∨”鍵移動至 Ramp DN 檔位後按 Edit 鍵後,程式會進入緩降時間設(shè)
定模式,請用面板上的“+”或“-”鍵輸入所要設(shè)定的輸出絕緣阻抗測試的緩降時間值,再
按 ENTER 鍵,將設(shè)定數(shù)值存入,其單位為“s” ,如下圖。24
步驟連結(jié)(Connect)設(shè)定
請用面板上的“∧”或“∨”鍵移動至 Connect 檔位後按 Edit 鍵後,程式會進入步驟連結(jié)設(shè)定
模式,請用面板上的“+”或“-”鍵輸入所要設(shè)定的輸出絕緣阻抗測試的步驟連結(jié)選擇切換
為 ON 或 OFF。再按 ENTER 鍵,將設(shè)定數(shù)值存入,如步驟連結(jié)設(shè)定為 ON 時,在本步
驟測試完成後,會自動連結(jié)到下一個步驟繼續(xù)進行測試。如果設(shè)為 OFF 時,在本步驟測
試完成後,則會立即停止測試,不會接續(xù)到下一個測試步驟,如下圖。
這是絕緣阻抗測試參數(shù)(Test)設(shè)定的最後一個步驟,可以再按 Exit 鍵回到程式記憶組參數(shù)
設(shè)定步驟,檢查所設(shè)定的測試參數(shù)是否有誤,如有錯誤,依程序進行修正錯誤部份即可,
或直接按“EXIT”鍵離開測試參數(shù)設(shè)定模式,而進入待測模式,準備正式進行絕緣阻抗測
試。25
4.2 一般參數(shù)設(shè)定
一般參數(shù)設(shè)定選擇鍵
使用 System 鍵作為選擇一般參數(shù)項目的操作鍵。按一下“∨”鍵,會順向轉(zhuǎn)動一個參數(shù)項
目,依序為 PLC 遙控 (PLC Remote)、單一步驟連結(jié)測試(Single Step)、警報音量 (Alarm)、
LCD 反襯亮度 (Contrast)、測試結(jié)果選擇(Results)、鍵盤鎖定(Lock)、程式記憶組鎖定(Mem
Lock)、接地中斷停止(Smart GFI),轉(zhuǎn)動到最後一項後,會再轉(zhuǎn)到第一項從新開始。
這些儀器的系統(tǒng)參數(shù)為測試時在儀器上的一般設(shè)定條件,與儀器測試的功能參數(shù)並無任
何關(guān)聯(lián),這些系統(tǒng)參數(shù)設(shè)定的儲存的位置,也與功能參數(shù)完全分開,如下圖。
System 鍵
在按 System 鍵後,則進入一般參數(shù)項目設(shè)定模式,LCD 顯示器即顯示如上圖。
PLC Remote ON/OFF : PLC 遙控
Single Step ON/OFF : 單一步驟連結(jié)測試
Alarm X : 警報音量
Contrast X : LCD 反襯亮度
Results All/Last P/F : 測試結(jié)果選擇
Lock ON/OFF : 鍵盤鎖定
Mem Lock ON/OFF : 程式記憶組鎖定
Smart GFI ON/OFF : 接地中斷停止
Cal Alert ON/OFF:校驗提示訊息
Cal Date XX/XX/XX:出廠校驗日期
Cal Due XX/XX/XX:下次校驗週期日期
Alert XX/XX/XX: 校驗提示日期
Date dmy XX/XX/XX:現(xiàn)在日期
Time XX:XX AM/PM:現(xiàn)在時間
註明 : 1.X 為數(shù)字 (0~9) 。
2.按“∨”鍵進入至各項測試參數(shù)的編輯鍵。
3.“+” 鍵輸入選擇 0-9 或切換 ON/OFF 或 Last,All,P/F
4. Exit 為離開鍵。26
PLC 遙控(PLC Remote)
請用面板上的“∨”鍵移動至 PLC Remote 檔位後按“+”鍵輸入選擇切換為 ON 或 OFF。如
PLC 遙控設(shè)定為 ON,本分析儀的測試啟動功能必須經(jīng)由儀器背板的遙控端子控制,面板
上的 TEST 開關(guān)不會起作用,而 RESET 開關(guān)仍然維持可以操作,不受任何影響。如 PLC
遙控設(shè)定為 OFF,本分析儀的測試操作功能完全由面板上的 TEST 開關(guān)和 RESET 開關(guān)
操作,但是背板上的遙控 RESET 仍然有效,如下圖。
單一步驟連結(jié)測試(Single Step)
請用面板上的“∨”鍵移動至 Single Step 檔位後按“+”鍵輸入選擇切換為 ON 或 OFF。如
Single Step 遙控設(shè)定為 ON,本分析儀執(zhí)行步驟連結(jié)測試時,當?shù)谝唤M step 測試結(jié)束時,
需再按 TEST 開關(guān),才會執(zhí)行下一組 step 測試, 如 Single Step 遙控設(shè)定為 OFF, 本分
析儀執(zhí)行步驟連結(jié)測試時,當?shù)谝唤M step 測試結(jié)束時,會自動連結(jié)下一組 step 測試,如
下圖。
警報音量(Alarm)
請用面板上的“∨”鍵移動至 Alarm 檔位後按“+”鍵輸入選擇 0 ~ 9,0 是作為關(guān)閉警報聲音
之用,1 的音量最小,而 9 為最大。請用數(shù)字鍵輸入警報音量的數(shù)字,程式會立即改變警
報音量的設(shè)定,並發(fā)出設(shè)定之音量。在警報音量設(shè)定完成後,時程式會自動將所設(shè)定的
警報音量數(shù)字存入記憶程式內(nèi),如下圖。
LCD 反襯亮度(Contras)
請用面板上的“∨”鍵移動至 Contras 檔位後按“+”鍵輸入選擇 1 ~ 9,顯示器會立即改變
LCD 的反襯亮度,以供立即檢視反襯亮度是否適當。如須修改反襯亮度,可以直接修改,
在 LCD 反襯亮度設(shè)定完成後,程式會自動將所設(shè)定的反襯亮度數(shù)字存入記憶程式內(nèi)。LCD
反襯亮度的設(shè)定為 1 ~ 9 ,1 為反襯亮度最弱,而 9 為反襯亮度最強,如下圖。27
測試結(jié)果選擇(Results)
請用面板上的“∨”鍵移動至 Results 檔位後按“+”鍵輸入選擇切換為 All 或 Last 或 P/F,如
下圖。All 為在 LCD 同時顯示三種測試結(jié)果,Last 為在 LCD 顯示單一測試結(jié)果,P/F 為
在 LCD 顯示 PASS 或 FAIL 二種測試結(jié)果。
鍵盤鎖定(Lock)
請用面板上的“∨”鍵移動至 Lock 檔位後按“+”鍵輸入選擇切換為 ON 或 OFF。鎖定和解
鎖定程序如下:
1. 先按住前面面板上的 Menu 鍵,然後再開啟儀器的輸入電源開關(guān),電源開啟後放開按
鍵經(jīng)過短暫時間後,程式會自動進入開機模示,此時按二次“Menu”鍵即可進入?yún)?shù)設(shè)
定模式,進入此畫面按 System 鍵即可進入一般參數(shù)項目,按“∨”鍵移動至 Lock 檔位
後按“+”鍵輸入選擇切換為 ON 或 OFF。
2. 如果要將鎖定模式由“ON”更改設(shè)定為“OFF”時,請先關(guān)閉本儀器的輸入電源開關(guān),
然後再依照上述的程序開機,程式會自動改變鎖定的模式。
3. 設(shè)定完成後,會自動將設(shè)定參數(shù)存入記憶體內(nèi),不必操作任何其他的按鍵。
4. 鍵盤被鎖定後,面板上除 TEST 和 RESET 開關(guān)外,其餘全部的按鍵(包含呼叫記憶程
式組在內(nèi))會被鎖定而無法操作,如下圖。28
程式記憶組鎖定(Mem Lock)
請用面板上的“∨”鍵移動至 Mem Lock 檔位後按“+”鍵輸入選擇切換為 ON 或 OFF。如
Mem Lock 設(shè)定為 ON,則程式記憶組(Memory)會在鍵盤被鎖定時,被鎖定而無法被呼
叫。如果程式記憶鎖定功能被選擇為“OFF”時,則程式記憶組在鍵盤被鎖定時,仍然可以
被呼叫,但測試參數(shù)無法作任何更改。其與鍵盤未被鎖定之不同處,為只能呼叫程式記
憶組內(nèi)已設(shè)定的測試參數(shù)。本儀器在出廠時,鍵盤鎖定功能已被預(yù)先選擇為“ON” ,如下
圖。
接地中斷停止(Smart GFI)
接地中斷停止(Smart GFI)是一種來防止操作員有可能接觸高壓電路而造成觸電現(xiàn)象所設(shè)
計的保護裝置,直接量測地線的電流,如此將可避免因地位置擺錯造成錯誤的判斷及誤
動作。 請用面板上的“∨”鍵移動至 Smart GFI 檔位後按“+”鍵輸入選擇切換為 ON 或
OFF。
如 Smart GFI 設(shè)定為 ON, Smart GFI 會自動偵測此為高壓對 Return 或高壓對地的線路,
若是為高壓對地的線路,且偵測高壓對地流過的電流 >450µA 時 GFI 會動作,並會在 1mS
內(nèi)切斷輸出停止測試。 如 Smart GFI 設(shè)定為 OFF,則無此功能,但仍可進行測試,如下
圖。
這是一般參數(shù)設(shè)定(System)設(shè)定的最後一個步驟,可以直接按“EXIT”鍵離開測試參數(shù)設(shè)
定模式,而進入待測模式,準備正式進行耐壓測試。
校驗提示訊息(Cal Alert)
請用面板上的“∨”鍵移動至 Cal Alert 檔位後按“+”鍵輸入選擇切換為 ON 或 OFF,如下
圖。
29
如 Cal Alert 設(shè)定為 ON, 本分析儀到須校驗的日期時,本分析儀會再每次開機時出現(xiàn)提
示畫面,以告知使用單位,本分析儀校驗日期已到需要校驗,如右圖;如 Cal Alert 設(shè)定
為 OFF,則無此功能。
出廠校驗日期(Cal Date)
請用面板上的“∨”鍵移動至 Cal Date 檔位後按“>”選
擇所要修改的欄位,在按“+”鍵來作修改的動作,如
右圖。(備註:本功能為出廠校驗的日期,一般使用者
無法修改,如須修改,請聯(lián)絡(luò)本公司工程人員) 。
下次校驗週期日期(Cal Due)
請用面板上的“∨”鍵移動至 Cal Date 檔位後按“>”
選擇所要修改的欄位,在按“+”鍵來作修改的動
作,如右圖。 (備註:本功能可依照各公司的需求作
修改,原始設(shè)定為一年) 。
校驗提示日期(Alert)
請用面板上的“∨”鍵移動至 Cal Date 檔位後按“>”
選擇所要修改的欄位,在按“+”鍵來作修改的動
作,如右圖。 (備註:本功能預(yù)設(shè)值會比下次校驗週
期日期早一個月,可依照各公司的需求作修改) 。
現(xiàn)在日期(Date)
請用面板上的“∨”鍵移動至 Date 檔位後按“>”選擇所要修改的欄位,在按“+”鍵來作修改
的動作,日期顯示的格式有兩種,一種為日.月.年,另一種為月.日.年,如下圖。
現(xiàn)在時間(Time)
請用面板上的“∨”鍵移動至 Time 檔位後按“>”選
擇所要修改的欄位,在按“+”鍵來作修改的動作,
如右圖。
30
4.3 顯示器訊息
以下為本儀器在執(zhí)行測試時,會出現(xiàn)在液晶顯示器上的各種訊息。 如果在顯示器上的記
憶組“MX”後面緊跟“ _ ” (也就是“MX_” ),表示本測試為耐壓和絕緣連接測試或絕緣和耐
壓連接測試。 茲就單一功能測試的顯示器訊息說明如下。
交流和直流耐壓測試的顯示器訊息大致相同,只是電壓的單位後加上“AC”或“DC”以便區(qū)
別為交流或直流耐壓測試。
4.3.1 交流耐壓測試
測試中止(Abort)
假如交流耐壓測試正在進行之中,而按”RESET”開關(guān)或使用遙控裝置中斷測試,LCD 顯
示器會顯示 ACW Abort,如下圖。
緩升測試(Ramp Up)
如交流耐壓測試設(shè)定有緩升(Ramp Up)測試程序,
在本分析儀讀到第一筆測試結(jié)果之前,測試的結(jié)果
會不斷的被更新,LCD 顯示器會顯示 ACW Ramp
Up,如右圖。
緩降測試(Ramp DN)
如果交流耐壓測試設(shè)定有緩降(Ramp DN)測試程
序,在本分析儀讀到第一筆測試結(jié)果之前,液晶顯
示器會顯示 DCW Ramp DN,如右圖。
測試時間(Dwell)
在交流耐壓測試進行時,測試的結(jié)果會不斷的被更
新,在本分析儀讀到第一筆測試結(jié)果之前,LCD 顯
示器會顯示 ACW Dwell,如右圖。31
漏電電流上限(Max Lmt)
如被測物在做交流耐壓測試時的漏電電流量超過上限設(shè)定值,會被程式判定為漏電電流
上限造成的測試失敗,LCD 顯示器會顯示 Max-Fail,如下圖。
短路(Short)
如被測物在做交流耐壓測試時,漏電電流量遠超過本分析儀可以量測的範圍之外,再加
上本分析儀特殊的短路判定電路動作,會被程式判定為短路造成的測試失敗, LCD 顯
示器會顯示 ACW Short,如下圖。
耐壓崩潰(Breakdown)
如被測物在做交流耐壓測試時的漏電電流量遠超過本分析儀可以量測的範圍,並且電弧
的電流量也遠超過本分析儀所能夠量測的正常數(shù)值之外,會被程式判定為耐壓崩潰造成
的測試失敗,LCD 顯示器會顯示 ACW Breakdown,如下圖。
漏電電流下限(Min Lmt)
如被測物在做交流耐壓測試時的漏電電流量低於下限設(shè)定值,會被程式判定為漏電電流
下限造成的測試失敗,LCD 顯示器會顯示 Min-Fail,如下圖。32
電弧測試失敗(Arc Fail)
如被測物在做交流耐壓測試時的漏電電流量在設(shè)定的漏電電流上限值以內(nèi),但是電弧的
電流量超過電弧電流的設(shè)定值,造成的測試失敗,會被程定判定為被測物的電弧造成的
測試失敗,LCD 顯示器會顯示 Arc Fail,如下圖。
測試通過(Pass)
假如被測物在做交流耐壓測試時的整個過程都沒有任何異常的現(xiàn)象發(fā)生時,被認定為通
過測試,LCD 顯示器會顯示 Pass,如下圖。
4.3.1.2 直流耐壓測試:
測試中止(Abort)
如直流耐壓測試正在進行之中,而按 RESET 開關(guān)或使用遙控裝置中斷測試時,LCD 顯
示器會顯示 DCW Abort,如下圖。33
緩升測試(Ramp Up)
如果直流耐壓測試設(shè)定有緩升(Ramp Up)測試程
序,在本分析儀讀到第一筆測試結(jié)果之前,LCD 顯
示器會顯示 DCW Ramp Up,如右圖。
緩降測試(Ramp DN)
如果直流耐壓測試設(shè)定有緩降(Ramp DN)測試程
序,在本分析儀讀到第一筆測試結(jié)果之前,LCD 顯
示器會顯示 DCW Ramp DN,如右圖。
測試時間(Dwell)
在直流耐壓測試進行時,測試的結(jié)果會不斷的被更
新,在本分析儀讀到第一筆測試結(jié)果之前,LCD 顯
示器會顯示 DCW Dwell,如右圖。
漏電電流上限(Max Lmt)
如被測物在做直流耐壓測試時的漏電電流量超過上限設(shè)定值,會被程式判定為漏電電流
上限造成的測試失敗,LCD 顯示器會顯示 Max-Fail,如下圖。
短路(Short)
如被測物在做直流耐壓測試時,漏電電流量遠超過本分析儀可以量測的範圍之外,再加
上本分析儀特殊的短路判定電路動作,會被程式判定為短路造成的測試失敗,LCD 顯示
器會顯示 DCW Short,如下圖。
耐壓崩潰(Breakdown)
如被測物在做直流耐壓測試時的漏電電流量遠超過本分析儀可以量測的範圍,並且電弧
的電流量也遠超過本分析儀所能夠量測的正常數(shù)值之外,會被程式判定為耐壓崩潰造成
的測試失敗,LCD 顯示器會顯示 DCW Breakdown,如下圖。34
漏電電流下限(Min Lmt)
如被測物在做直流耐壓測試時的漏電電流量低於下限設(shè)定值,會被程式判定為漏電電流
下限造成的測試失敗,LCD 顯示器會顯示 Min-Fail,如下圖。
電弧測試失敗(Arc Fail)
如被測物在做直流耐壓測試時的漏電電流量在設(shè)定的漏電電流上限值以內(nèi),但是電弧的
電流量超過電弧電流的設(shè)定值,造成的測試失敗,會被程定判定為被測物的電弧造成的
測試失敗,LCD 顯示器會顯示 Arc Fail,如下圖。
測試通過(Pass)
假如被測物在做直流耐壓測試時的整個過程都沒有任何異常的現(xiàn)象發(fā)生時,被認定為通
過測試,LCD 顯示器會顯示 DCW Pass,如下圖。35
4.3.3 絕緣阻抗測試
測試中止(Abort)
如絕緣阻抗測試正在進行之中,而按 RESET 開關(guān)或使用遙控裝置中斷測試時,LCD 顯
示器會顯示 IR Abort,如下圖。
緩升測試(Ramp Up)
如果絕緣阻抗測試測試設(shè)定有緩升(Ramp Up)測試
程序,在本分析儀讀到第一筆測試結(jié)果之前,LCD
顯示器會顯示 IR Ramp Up,如右圖。
緩降測試(Ramp DN)
如果絕緣阻抗測試設(shè)定有緩降(Ramp DN)測試程
序,在本分析儀讀到第一筆測試結(jié)果之前,LCD 顯
示器會顯示 IR Ramp DN,如右圖。
延遲時間(Delay)
在絕緣阻抗測試剛開始時,測試電壓正逐步上升的
期間之中,此時本分析儀尚未讀到第一筆測試結(jié)
果,LCD 顯示器會顯示 IR Delay,如右圖。
絕緣阻抗上限(Max Lmt)
如被測物在做絕緣阻抗測試時的阻抗值超過上限設(shè)定值,會被程式判定為絕緣阻抗上限
造成的測試失敗,LCD 顯示器會顯示 Max-Fail,如下圖。
絕緣阻抗下限(Min Lmt)
如被測物在做絕緣阻抗測試時的阻抗值低於下限設(shè)定值,會被程式判定為絕緣阻抗下限
造成的測試失敗,LCD 顯示器會顯示 Min-Fail,如下圖。36
測試通過(Pass)
假如被測物在做絕緣阻抗測試時的整個過程都沒有任何異常的現(xiàn)象發(fā)生時,被認定為通
過測試,液晶顯示器會顯示 IR PASS,如下圖。DC Hipot failure not detected .Check leads or call Krass
AC Hipot failure not detected .Check leads or call Krass
37
4.4 測試功能確認
當開機畫面顯示產(chǎn)品型號時,按下”TEST”鍵,即可進入測試功能確認自我檢測狀態(tài),進
行判定耐壓測試的各項功能是否正常,RESET 開關(guān)和 EXIT 鍵可以作為離開正在進行中
的自我檢測的操作鍵,如下圖。
1. AC Hipot 自我檢測功能: 以”﹀””︿”KEY,選擇“AC Hipot ”,再按”Select” KEY,在
輸出 HV、RETURN 端測試線短路,按“TEST” KEY,此時 HV、RETURN 端會輸出
一電壓約 1KVAC,檢測成功,LCD 顯示 Verification OK AC Hipot failure detected,檢
測失敗,LCD 顯示 ,如下圖。
2. DC Hipot 自我檢測功能: 以”﹀””︿”KEY,選擇“DC Hipot ”,再按”Select” KEY,在
輸出 HV、RETURN 端測試線短路,按“TEST” KEY,此時 HV、RETURN 端會輸出
一電壓約 1KVDC,檢測成功,LCD 顯示 Verification OK DC Hipot failure detected,檢
測失敗,LCD 顯示 ,如下圖。
Krassnot detected .Check leads or call Krass
38
3. IR自我檢測功能: 以”﹀””︿”KEY,選擇“IR”,再按”Select” KEY,在輸出HV、RETURN
端測試線短路,按“TEST” KEY,此時 HV、RETURN 端會輸出一電壓約 1KVDC,檢
測成功,LCD 顯示 Verification OK IR failure detected,檢測失敗,LCD 顯示 IR failure
。
Krass
Krass39
4.5 操作程序及步驟
7100 系列的耐壓測試器主要是設(shè)計供生產(chǎn)線自動化以及品質(zhì)分析和檢驗使用,其操作和
設(shè)定都非常簡便。不合理的設(shè)定和操作會給予兩聲短暫嗶的警告,同時退回原來設(shè)定的
狀態(tài)。請依照下列程序和步驟操作本分析儀。
1. 在將本分析儀輸入電源線的插頭接到市電電源以前,請先關(guān)閉本分析儀的輸入電源
開關(guān),並將背板上的電壓選擇開關(guān)切換到正確的輸入電壓位置上,同時檢查保險絲
的規(guī)格是否正確。然後再將地線接到本分析儀背板上的接地端子上。
2. 請將輸入電源線分別接到本分析儀和電源插座上,但是不要先將測試線接到本分析
儀的輸出端子上。
3. 先將被測物或其測試治具端的測試線全部接妥,然後再將回路線 (Return) 接到本分
析儀的回路端子上,被測物接地線測試的測試線接到本分析儀的端子上,最後才將
高壓測線接到本分析儀的高壓端子上,並檢查所有的測試線是否全部接妥。
4. 然後開啟本分析儀的輸入電源開關(guān),然後程式會自動出現(xiàn)本分析儀最後一次測試時
的記憶組和測試參數(shù)資料,並進入待測和參數(shù)設(shè)定模式。
註明:如果記憶組 MX-X 後面帶有 _ 時,表示該步驟測試完成後,會自動連接到
下一個測試步驟。
5. 請先參考一般測試參數(shù)設(shè)定的說明,將本分析儀的一般測試參數(shù),PLC 遙控 (PLC
Remote) 、 單一步驟連結(jié)測試 (Single Step)、 警報音量 (Alarm)、LCD 反襯亮度
(Contrast)、測試結(jié)果選擇(Results)、鍵盤鎖定(Lock)、程式記憶組鎖定( Mem Lock)、
接地中斷停止(Smart GFI)設(shè)定完成。
6. 如果要重新設(shè)定測試參數(shù),請按 Test 鍵,進行參數(shù)設(shè)定模式,重新設(shè)定測試參數(shù),
詳細的設(shè)定方式、程序和步驟,請參考測試參數(shù)設(shè)定的說明。如果鍵盤被鎖定,請
先參照鍵盤鎖定的說明,先將鍵盤解鎖定,才能進行測試參數(shù)設(shè)定。
7. 如果要選擇記憶組內(nèi)的測試參數(shù)進行測試時,請按 Menu 鍵,程式會進入記憶組的
選擇模式,請用 Memory 鍵將要選擇作為測試的程式記憶組,記憶組選擇完成後,
再按 Exit 鍵離開,程式會自動叫出將該記憶組的測試參數(shù)並回到等待測和設(shè)定模式。
8. 如果要重新選擇記憶組內(nèi)測試步驟的參數(shù)進行測試時,請按 STEP 鍵,程式會進入
記憶組步驟的選擇模式。,測試步驟為 1~3 共 3 個步驟。如果要將測試步驟連接到
下一個步驟作連接測試時,請參考“測試參數(shù)設(shè)定”的說明,將 Connect 選擇為 ON。40
9. 如果要進行測試,請按 TEST 開關(guān),此時面板上紅色的高電壓符號會閃爍,測試進
行 時請勿觸碰被測物件,以策安全。
10. 如果在測試進行中要中止測試,請按 RESET 開關(guān),本分析儀立即停止測試,LCD
顯示器會保留當時的測試值。如要繼續(xù)進行測試,請再按面板上的 TEST 開關(guān),程
式會再繼續(xù)測試未完成的測試步驟,如果要重新由第一個測試步驟再開始測試時,
請再按 RESET 開關(guān),再按 TEST 開關(guān),程式會自動由第一個測試步驟開始測試。
11. 如果由於被測物的測試失敗,本分析儀立即停止測試並且顯示器會顯示的狀態(tài)和失
敗時的數(shù)值,此時紅色 REST 開關(guān)內(nèi)的指示燈會亮,同時發(fā)出嗶的警告聲音。如要
繼續(xù)進行測試,請再按面板上的 TEST 開關(guān),程式會再繼續(xù)測試未完成的測試步驟,
如果要重新由第一個測試步驟再開始測試時,請先按 RESET 開關(guān),再按 TEST 開
關(guān),程式會自動由第一個測試步驟開始測試。也可以按 RESET 開關(guān)關(guān)閉警報聲音而
保留測試讀值,但再按 TEST 開關(guān)時,程式會自動由第一個測試步驟開始測試。有
關(guān)各種測試失敗的顯示器信息,請參考顯示器信息的說明。
12. 如果要使用外部遙控裝置操作本耐壓測試器,請將遙控器接到背板上的遙控輸入端
子上。遙控器上 TEST 和 RESET 開關(guān)的功能、作用與本分析儀上的開關(guān)完全相同。
13. 本分析儀備有 PASS、FAIL 和 PROCESSING 遠端監(jiān)視信號的輸出和遙控呼三組記
憶組的功能,如要使用這些功能,請參考遙控輸入和輸出訊號的說明。
14. 7130、7132、7140 和 7142 可以和本公司的交流接地阻抗測試器 7315 作連接測試。
連接測試的方式分為兩種,一為同時進行測試,另一為接地阻抗測試或耐壓測試完
成後,再進行另一項功能的測試。 41
4.6 耐壓/絕緣測試器和接地阻抗測試器連動測試
耐壓/絕緣測試器(7130/7132/7140/7142)可與交流接地阻抗測試器(7314/7315/7316)作連動
測試有下列二種測試方式:
1. 先作交流接地阻抗測試,在交流接地阻抗測試執(zhí)行完成並且通過測試後,再執(zhí)行耐壓
測試。
2. 交流接地阻抗測試和耐壓測試同時執(zhí)行測試。
大部份的安規(guī)規(guī)範和安規(guī)執(zhí)行單位都規(guī)定採取第一種測試方式, 第二種方式大多為生產(chǎn)
廠商為了縮短製造工時,而將兩種測試同時執(zhí)行,理論上兩種測試同時執(zhí)行並不會造成
任何問題或危險,但是如果其中之一臺儀器有異常狀況發(fā)生,非常可能造成操作人員的
危險或傷害,也可能使另一臺儀器跟著出現(xiàn)異常狀況。
交流接地阻抗測試連動耐壓測試的接線和說明
1. 本接線方式為交流接地阻抗測試為主機(Msater)作控制,在交流接地阻抗測試執(zhí)行完
成並且通過測試後再執(zhí)行耐壓測試或同時輸出測試其接線方式如圖(A)。
2. 7314/7316 與 耐壓測試器作連結(jié)測時,直接將耐壓測試器輸出 Return 線與交流
接地阻抗測試線接至被測物(DUT)上,7314/7316 機器本身並無與耐壓測試器輸出作連
結(jié)的共地端子。
7142 7315
Signal Output Signal Input Signal Output Signal Input
RETURN
INTERCONNECT
圖(A) 灰色 1217
白色 1218
註:1217 灰色信號連接線接一端接 7142 Signal Output 另一端接 7314/7315/7316 Signal Input
1218 白色信號連接線接一端接 7142 Signal Input 另一端接 7314/7315/7316 Signal Input
KRASS42
第五章 界面說明
5.1 標準遙控界面 ( Remote I / O )
在本分析儀的背板上配置有兩個 D 型 (9PIN) 連接端子,提供為遙控輸入控制訊號和輸
出信息輸出。這些連接端子和標準的 D 型 (9PIN) 連接頭互相匹配,必須由使用者自備。
為了能達到最佳的效果,建議使用隔離線作為控制或信息的連接線,為了不使隔離地線
成為一個迴路而影響隔離效果,必須將隔離線一端的隔離網(wǎng)接地。
背板遙控界面
5.1.1 遙控訊號輸出 ( Signal Output )
在本分析儀的背板上備有遙控訊號輸出端子,將儀器的測試通過 (PASS)、測試失敗
(FAIL) 、測試停止/重置(REST)和測試中 (PROCESSING) 等訊號,提供為遙控監(jiān)視之
用。這些訊號的現(xiàn)狀分別由儀器內(nèi)部三個繼電器 (Relay) 提供不帶電源的常開 (N.O.) 接
點,其接點的容量為 : AC 250V 1.0 Amp / DC 250V 0.5 Amp。
備註 :這些接點沒有正負極性的限制,同時每一個信號是獨立的接線,沒有共同的地線
(COMMON )。訊號是由本分析儀背板上配置的 D 型 (9 PIN) 連接端子輸出,端子上附
有腳位編號的標示,每個輸出訊號的接線分別如下:
1. PASS 訊號 接在 PIN 1 和 PIN 2 之間。
2. FAIL 訊號 接在 PIN 3 和 PIN 4 之間。
3. PROCESSING 訊號 接在 PIN 5 和 PIN 6 之間。
4. REST OUT 訊號 接在 PIN 7 和 PIN 8 之間。
5.空腳 接在 PIN 9 為未使用的空腳。43
5.1.2 外控訊號輸入與記憶程式( Signal Input )
在本分析儀的背板上配置有遙控訊號輸入端子,可以由外接遙控裝置操作儀器的
INTERLOCK 和 TEST 及 RESET 的功能或呼叫預(yù)設(shè)於三組記憶程式中的任何一組測試
參數(shù),逕行使用另外的測試開關(guān),直接進行測試,不需由面板設(shè)定和使用面板上的”TEST”
開關(guān)。當 PLC 遙控功能設(shè)定為 ON 時,面板上的 TEST 開關(guān)被設(shè)定為不能操作,以避免
雙重操作引起的誤動作和危險,此時面板上的 RESET 開關(guān)依然可以操作,以便隨時在
任何地方都可以關(guān)閉高壓輸出。
備註:如不使用遙控裝置操作時,需將解除(INTERLOCK)鎖定附件,安裝至遙控訊號輸
入端子上。
以下為遙控裝置的接線方式 :
1. RESET 控制 控制開關(guān)接在 PIN 2 和 PIN 5 之間
2. TEST 控制 控制開關(guān)接在 PIN 3 和 PIN 5 之間
3. INTERLOCK 控制 控制開關(guān)接在 PIN 4 和 PIN 5 之間
PIN 5 為遙控電路的共同 (COMMON) 地線
注意 : 絕對不能再接上任何其它的電壓或電流電源,如果輸入其它的電源,會造成儀器
內(nèi)部控制電路的損壞或誤動作。
遙控記憶程式的訊號輸入,必須使用常開(N.O.)的瞬接(MOMENTARY)開關(guān)作為控制的
工具,以下為其接線方式:
1. 第一組記憶程式 控制開關(guān)接在 PIN 7 和 PIN 8 之間
2. 第二組記憶程式 控制開關(guān)接在 PIN 7 和 PIN 9 之間
3. 第三組記憶程式 控制開關(guān)接在 PIN7、PIN 8 和 PIN 9 三個 PIN 之間
PIN 7 為遙控記憶程式的訊號輸入電路的共同(COMMON)地線
註明 :1.PIN 1、PIN 4 和 PIN 6 為未使用的空腳。
2.遙控輸入訊號分為遙控操作和遙控記憶程式組兩個組群,每一個組群的電源和
共同地線自獨立,不能混淆。44
5.1.3 Remote 訊號時序圖
1. 測試時間最短為 0.4S, Ramp Time (0.1S) + Dwell Time (0.3S)
2. PASS LED 訊號同 PASS 訊號同步
3. FAIL LED 訊號同 FAIL 訊號同步
4. ALARM 訊號同 PASS or FAIL
ACW
Ramp Time
Dwell Time
180ms 0.1s 0.3s
O/P
PROC
PASS
FAIL
TEST
M1
M2
M3 45
DCW
特殊 DCW
Ramp Time
Dwell Time
180ms 0.1s 0.3s 250ms
O/P
PROC
PASS
FAIL
TEST
M1
M2
M3
Ramp Time
O/P Dwell Time
PROC
PASS
FAIL
TEST
M1
M2
M3
180ms 0.1s 0.3s 250ms 46
5.2 RS485 界面(選購)
在本分析儀的背板上配置有一個 D 型 (9PIN) 連接端子,提供為 RS485 界面卡連接用。
這個連接端子是用來與 RS485 界面卡連接用的標準的 D 型 (9PIN) 連接線必須互相匹
配,最多可同時進行 100 臺的連結(jié)測試。(請確實依照下列圖示作連接,切勿接錯)
5.2.1 接線方法
.
.
以下以此類推
MASTER
SLAVE 1
SLAVE 247
參數(shù)設(shè)定
Master 設(shè)定:在”SYSTEM”內(nèi)的”485 Mode”
用”+”鍵來選擇”Master”或”Slave”,選擇 Master 後
用面板的“∧”或“∨”鍵移動至 Slave Qty 設(shè)定連線的
臺數(shù),Master 需扣除在外,如右圖。
Slave 設(shè)定: 在”SYSTEM”內(nèi)的”485 Mode”用”+”鍵
來選擇”Master”或”Slave”,選擇 Slave 後用面板的
“∧”或“∨”鍵移動至 Address 設(shè)定每一臺的位置,號
碼需從 1 開始,必須連續(xù)且不可重複,如右圖。
5.2.2 指令清單
下列指令被作為驅(qū)動 ON/OFF 功能或選擇各種參數(shù)表之用。執(zhí)行這些指令時,不需使用
任何其他數(shù)值或參數(shù)。
COMMANDS & QUERY DISCRIPTION
SETTING COMMAND COMMAND
ADDRESS(X) X nnn
TEST TEST
RESET RESET
MEMORY:STEP:SELECT:mn MSS mn
ACW ACW
DCW DCW
IR IR
VOLTAGE:XXXX VOLT nnnn
MAX_LIMIT:XXXX MAXL nnnn
MIN_LIMIT:XXXX MINL nnnn
RAMP_UP:XXXX RUP nnnn
DWELL_DELAY_TIME:XXXX DDT nnnn
RAMP_DOWN:XXXX RDN nnnn
ARC:X ARC n
FREQUENCY:XX FREQ nn
CONTINUITY:X(ON=1,OFF=0) CONT n
CONTINUITY:MAX_LIMIT:XXX CMAL nnn
CONTINUITY:MIN_LIMIT:XXX CMIL nnn
CONTINUITY:OFFSET:XX COFF nn 48
CONTINUITY:AUTO_OFFSET CAOF
AUTO_OFFSET AOFF
AUTO_CHARGE ACHA
CHARGE_LOW CHAR nnnn
CONNECT:X(ON=1,OFF=0) CONN n
PLC_REMOTE:X(ON=1,OFF=0) PLC n
SINGLE_STEP:X(ON=1,OFF=0) SSTP n
ALARM:X ALAR n
CONTRAST:X CNTR n
RESULTS:X(Last=L,All=A,P/F=P) RLT n
SMART_GFI:X(ON=1,OFF=0) SGFI n
POLL:XXX POLL nn
P:XXX P nn
STEP_ALL:(ALL PARAMETER) SALL nn,nn...
TEST_DATA_QUERY:? TD?
RESULT_DATA_QUERY:n?(n=STEP) RD n?
STEP_ALL_QUERY:? SALL?
READ_RESET_QUERY:? RR?
READ_INTERLOCK_QUERY:? RI?
COMMANDS & QUERY SEND_OUT
COMMAND DISCRIPTION COMMAND
TEST TEST
RESET RESET
MEMORY:STEP:SELECT:mn MSS mn
POLL:XXX POLL nn
STEP_ALL:(ALL PARAMETER) SALL nn,nn...
TD? MX-X_,FUNC,STATUS,V,A(R),T
RD n? MX-X_,FUNC,STATUS,V,A(R),T
SALL? SALL nn,nn...
RR? n (0=CLOSE,1=OPEN)
RI? n (0=CLOSE,1=OPEN)
內(nèi),以確保儀錶的精確度完全符合 電子型錄上的規(guī)範。
電子建議本儀器至少每年需要做一次校正,校
完全符合 電子型錄上的規(guī)範,甚至更為精確,同時本手冊附有“校正聲明書”。
49
第六章 儀錶校正
本儀器在出廠前,已經(jīng)按照國家標準校正程序,校正過本儀器上的儀錶,儀錶的精確度
正用標準儀錶的精確度必須在 0.5%以
6.1 校正步驟
按背板“CAL” KEY 開機,進入校正模式(如下圖所示)。
ACW 電壓校正
以“Move” KEY,選擇“AC 5000V ”,再按”Select” KEY,在輸出 HV、 RETURN 端並接
一標準高壓電壓表,按“TEST” KEY,此時 HV、RETURN 端會輸出一電壓約 5KVAC,
將標準高壓電壓表讀值輸入,再按“ENTER” KEY 即可。
DCW 電壓校正
以“Move” KEY,選擇“DC 6000V ”, 再按”Select” KEY,在輸出 HV、RETURN 端並接
一標準高壓電壓表,按“TEST” KEY,此時會輸出一電壓約 6KVDC,將標準電壓表讀值
輸入,再按“ENTER”KEY 即可。
IR 電壓校正
以“Move” KEY,選擇“IR 1000V ”, 再按”Select” KEY,在輸出 HV、RETURN 端並接一
標準高壓電壓表,按“TEST”KEY,此時會輸出一電壓約 1KVDC,將標準電壓表讀值輸
入,再按“ENTER” KEY 即可。
ACW 高檔電流校正
嘉仕
嘉仕
嘉
仕50
以“Move” KEY,選擇“AC 20.00mA”, 再按”Select” KEY,
在輸出 HV、RETURN 端接一負載約 100K?,再串聯(lián)一標準電流表,按“TEST” KEY,此
時會輸出約 1KVAC 之電壓,將標準電流表讀值輸入,再按“ENTER” KEY 即可。
ACW 低檔電流校正
以“Move” KEY,選擇“AC 3.500mA”,再按”Select” KEY,在輸出 HV、RETURN 端接一
負載約 100K?,再串聯(lián)一標準電流表,按“TEST” KEY,此時會輸出約 300VAC 之電壓,
將標準電流表讀值輸入,再按“ENTER” KEY 即可。
DCW 高檔電流校正
以“Move” KEY,選擇“DC 7.50mA”, 再按”Select” KEY,在輸出 HV、RETURN 端接一
負載約 100K?,再串聯(lián)一標準電流表,按“TEST” KEY,此時會輸出約 700VDC 之電壓,
將標準電流表讀值輸入,再按“ENTER” KEY 即可。
DCW 低檔電流校正
以“Move” KEY,選擇“DC 3.500mA”, 再按”Select” KEY,在輸出 HV、RETURN 端接一
負載約 100K?,再串聯(lián)一標準電流表,按“TEST” KEY,此時會輸出約 300VDC 之電壓,
將標準電流表讀值輸入,再按“ENTER” KEY 即可。
DCW 低檔電流校正
以“Move” KEY,選擇“DC 350.0µA”, 再按”Select” KEY,在輸出 HV、RETURN 端接一
負載約 1M?,再串聯(lián)一標準電流表,按“TEST” KEY,此時會輸出約 300VDC 之電壓,
將標準電流表讀值輸入,再按“ENTER” KEY 即可。
IR 低阻校正
以“Move” KEY,選擇“IR 999.9MΩ”, 再按”Select” KEY,在輸出 HV、RETURN 端接一
標準電阻 50M?,按“TEST” KEY,此時會自動將標準電阻之讀值輸入,即完成低阻校正。
IR 高阻校正
以“Move” KEY,選擇“IR 9999MΩ”, 再按”Select” KEY,在輸出 HV、RETURN 端接一
標準電阻 50M?,按“TEST” KEY,此時會自動將標準電阻之讀值輸入,即完成高阻校正。51
6.2 校正完成
本儀器在輸入校正參數(shù)後,必須先關(guān)閉輸入電源,然後再開機,否則無法進入待測模式。
關(guān)閉輸入電源時,程式會自動將校正參數(shù)存入校正的記憶體內(nèi)。程式不接受不合理的輸
入,如有不合理的輸入會發(fā)出兩生短暫“嗶”的警告聲並退回原來狀態(tài),等待重新輸入。
請?zhí)貏e注意下列事項
• EXIT 鍵和 RESET 開關(guān)可以作為離開正在進行中的校正模式的操作鍵。
• 本儀器在校正後,必須先關(guān)閉輸入電源然後再開機,否則本儀器無法進入設(shè)定或待測
模式。
• 所存入的校正參數(shù)會被保存於記憶體內(nèi),除非再更改否則不會變動或消失。
• 建議本耐壓測試器的校正週期為一年。