７４００ 系列 安規(guī)綜合分析儀
( 7410 / 7420 / 7430 / 7440 )
操作使用說明書
第一章 簡介 ............................................................................................................ 1
1.1
1.2
1.3
1.4
1.5
安規(guī)符號(hào) ........................................................................................................................ 1
技術(shù)用語彙篇(本技術(shù)用語使用於操作使用手冊(cè)內(nèi)) ................................................. 2
安全規(guī)定 ........................................................................................................................ 3
安規(guī)介紹 ........................................................................................................................ 6
安規(guī)測(cè)試 ........................................................................................................................ 6
第二章 安裝 .......................................................................................................... 10
2.1 拆封和檢查 .................................................................................................................. 10
2.2 安裝 .............................................................................................................................. 10
第三章 技術(shù)規(guī)範(fàn) .................................................................................................. 12
3.1 功能及規(guī)格 .................................................................................................................. 12
3.2 前面板說明 .................................................................................................................. 15
3.3 背面板說明 .................................................................................................................. 18
第四章 操作說明 .................................................................................................. 20
4.1 程式鍵 .......................................................................................................................... 20
4.2 功能鍵 .......................................................................................................................... 22
4.3 一般參數(shù)設(shè)定選擇鍵 .................................................................................................. 37
4.4 顯示器訊息 .................................................................................................................. 41
4.5 操作程序及步驟 .......................................................................................................... 49
4.6 JigA/B 自動(dòng)交換高壓測(cè)試系統(tǒng)(Opt.727 & Opt.728 ) ............................................. 52
第五章 介面說明 .................................................................................................. 54
5.1 標(biāo)準(zhǔn)遙控介面 (Remote I/O) ..................................................................................... 54
5.2 RS232/GPIB 介面 ....................................................................................................... 55
5.3 IEEE-488 通信範(fàn)例..................................................................................................... 61
5.4 不常更改的記憶體 ( Non Volatile Memory ) .......................................................... 62
第六章 校正 .......................................................................................................... 63
6.1
6.2
6.3
6.4
進(jìn)入校正模式 .............................................................................................................. 63
密碼設(shè)定 ...................................................................................................................... 63
記憶程式鎖定選擇 ...................................................................................................... 63
校正步驟 ...................................................................................................................... 64
5第一章 簡介
高電壓測(cè)試前應(yīng)該注意的規(guī)定和事項(xiàng) !!!
1.1 安規(guī)符號(hào)
小心標(biāo)誌。 請(qǐng)參考手冊(cè)上所列的警告和注意說明，以避免人員受傷害或儀器受損。
電擊危險(xiǎn)標(biāo)誌，可能會(huì)有高電壓存在，請(qǐng)避免接觸。
機(jī)體接地符號(hào)。
警告應(yīng)注意所執(zhí)行的程序、應(yīng)用、或條件均具有很高的危險(xiǎn)性，可能導(dǎo)致
人員受傷或甚至死亡。
提醒須注意所執(zhí)行的程序、應(yīng)用、或條件均可能造成儀器損壞或失掉儀器
內(nèi)所有儲(chǔ)存的資料。
11.2 技術(shù)用語彙篇(本技術(shù)用語使用於操作使用手冊(cè)內(nèi))
交流電壓(AC): 具有規(guī)則性和正負(fù)方向的電壓，目前世界上大都使用每秒 60Hz 或 50Hz
的電壓。
耐壓崩潰(Breakdown): 絕緣體在某些情況之下會(huì)發(fā)生電弧或電暈的現(xiàn)像，如果電壓逐漸
被提升，絕緣體會(huì)在某一個(gè)電壓值突然崩潰，這時(shí)的電流的流量和電壓值不會(huì)成為等比例
增加。
導(dǎo)電(Conductive): 在每立方公分的體積內(nèi)，其電阻值不超過 1000 歐姆，或每平方公分
的表面積內(nèi)，其電阻值不超過 100000 歐姆。
導(dǎo)電體(Conductor): 一種固體或液體物質(zhì)，可以讓電流流過，在每立方公分的體積內(nèi)，
其電阻值不超過 1000 歐姆。
電流(Current): 電子在導(dǎo)體上的流動(dòng)，其量測(cè)單位為安培(ampere)、毫安培(milliampere)、
或微安培(microampere)等，其代表符號(hào)為 I。
介電體(Dielectric): 在兩個(gè)導(dǎo)電體之間的絕緣物質(zhì)，可以讓兩個(gè)導(dǎo)電體產(chǎn)生充電現(xiàn)象或出
現(xiàn)電位差。
直流電(DC): 電流只流向單一方向，具有極性的特點(diǎn)，一端的電位永遠(yuǎn)較另外一端為高。
耐壓測(cè)試器(Hipot Tester): 通常應(yīng)用在介電體耐壓的測(cè)試儀器。
絕緣體(Insulation): 具有 1000G?/cm 的氣體、液體或固體，其目的在於避免電流在兩導(dǎo)
電體之間流通。
絕緣電阻測(cè)試器(Insulation Resistance Tester): 一種具有電阻量測(cè)到 200M?以上能力
的儀器，一般都必須在電阻錶內(nèi)使用一個(gè)高壓電源供應(yīng)器，量測(cè)能力才能超過 200 M?以
上。
洩漏電流(Leakage): AC 或 DC 電流流經(jīng)絕緣體或其表面，在 AC 方面也同時(shí)會(huì)流經(jīng)電容
體，電流的流量和電壓成正比例。 絕緣和/或電容體的阻抗值為恆定，除非發(fā)生耐壓崩潰
的現(xiàn)像。
電阻( Resistance): 一種可以阻止的電流流通的物質(zhì)，在電流通過這種物質(zhì)後，會(huì)用產(chǎn)生
熱量作為表現(xiàn)的方式，其單位為 Ohm(?)，而代表符號(hào)為 R。
跳脫點(diǎn)(Trip Point): 在介電耐壓測(cè)試時(shí)可以被判定為不可接受條件的最低電流量。
電壓(Voltage): 電子流在兩導(dǎo)體之間的壓力，通常為驅(qū)動(dòng)電流在導(dǎo)體上流通的壓力，其代
表符號(hào)為 V。
21.3 安全規(guī)定
? 使用本儀器以前，請(qǐng)先了解本機(jī)所使用和相關(guān)的安全標(biāo)誌，以策安全。
? 本儀器所引用的安全規(guī)範(fàn)為 Safety Class I 的規(guī)定(機(jī)體具有保護(hù)用的接地端子)。
? 在開啟本機(jī)的輸入電源開關(guān)前，請(qǐng)先選擇正確的輸入電壓(115V 或 230V 輸入)規(guī)格。
耐壓測(cè)試器所產(chǎn)生的電壓和電流足以造成人員傷害或感電，為了防止意
外傷害或死亡發(fā)生，在搬移和使用儀器時(shí)，請(qǐng)務(wù)必先觀察清楚，然後再
進(jìn)行動(dòng)作。
1.3.1 維護(hù)和保養(yǎng)
使用者的維護(hù)
為了防止觸電的發(fā)生，請(qǐng)不要掀開機(jī)器的上蓋(機(jī)器蓋板接合處有易碎貼紙封條，封條果破
損，保證“Warranty”將自動(dòng)被取銷)。 機(jī)器內(nèi)部所有零件均非使用者所能維修，內(nèi)部零件
亦無需清潔 任何外部清潔，請(qǐng)以清潔乾淨(jìng)的擦拭布擦示即可，避免使用外來液體清潔劑
或化學(xué)溶劑以免滲入機(jī)箱孔損及控制按鍵和開關(guān)，化學(xué)溶劑也會(huì)損壞塑膠零件及印刷文
字。 因本機(jī)設(shè)計(jì)、使用零件及製程均符合 CE (EMC/LVD)，更換任何線材和高壓零件必
須由嘉仕電子或其經(jīng)銷商直接提供。
如果儀器有異常情況發(fā)生，請(qǐng)尋求嘉仕電子或其指定的經(jīng)銷商給予維護(hù)，或歡迎使用嘉仕
線上應(yīng)用諮詢及報(bào)修服務(wù)。
3使用者修改
未經(jīng)原廠許可而被修改的儀器將不給予保證。 未經(jīng)原廠許可而自行修改儀器或使用未經(jīng)
原廠認(rèn)可的零件而導(dǎo)致操作人員或儀器任何損害，嘉仕電子概不負(fù)責(zé)。 如發(fā)現(xiàn)送回檢修
的儀器被修改，嘉仕電子會(huì)將其恢復(fù)至原來狀態(tài)而其費(fèi)用須由客戶自付。
1.3.2 測(cè)試站安排
工作位置
工作站的位置安排必須在一般人員非必經(jīng)之處所。 如果工作站位置選定無法作到將工作
站與其它部門隔開時(shí)，應(yīng)特別標(biāo)明”高壓測(cè)試站”，非專職人員不得進(jìn)入。如果高壓測(cè)試站
與其它工作站非常接近時(shí)，必須特別注意安全問題。 在高壓測(cè)試時(shí)，必須特別標(biāo)明”危險(xiǎn)！
高壓測(cè)試進(jìn)行中非工作人員請(qǐng)勿靠近”。
輸入電源
本儀器必須有良好的接地，以及將設(shè)備地線與電源接妥，並確認(rèn)電源極性及低電阻的地線
迴路。 測(cè)試站電源必須有單獨(dú)的開關(guān)，一旦有緊急事故發(fā)生時(shí)，應(yīng)立即關(guān)閉電源，再進(jìn)
入處理事故。
工作場所
儘可能使用非導(dǎo)電材質(zhì)的工作臺(tái)或工作桌。 操作人員和被測(cè)物間不得使用任何金屬，如
果不能避免時(shí)，一定要確定安全接地?zé)o虞並且確認(rèn)與高電壓端確實(shí)絕緣。 操作人員作業(yè)
時(shí)不得有跨越被測(cè)物操作或調(diào)整安規(guī)測(cè)試器的狀況。 如果被測(cè)物體積允許，儘可能將被
測(cè)物放置在非導(dǎo)電材質(zhì)的箱子內(nèi)測(cè)試，例如壓克力箱等。
測(cè)試場所必須隨時(shí)保持整齊、乾淨(jìng)，不得雜亂無章。 不使用的儀器和測(cè)試線請(qǐng)遠(yuǎn)離工作
站，工作站現(xiàn)場物件必須能讓現(xiàn)場人員都能立即分辨出何者為正在測(cè)試的物件、被測(cè)物
件、和已測(cè)試的物件。
絕對(duì)禁止在空氣中含有可燃?xì)怏w的地方或易燃物質(zhì)的旁邊使用本儀器。
1.3.3 操作人員規(guī)定
人員資格
本儀器所輸出的電壓和電流足以造成人員傷害或致命的感電，必須由熟練的人員來使用和
操作。 操作人員必須了解電壓、電流和電阻等基本電學(xué)概念。 操作人員應(yīng)該確知本儀器
是一部可調(diào)式的高壓電源供應(yīng)器，將電流回線(Return)接到待測(cè)物地線端，電流會(huì)從高壓
4輸出端流經(jīng)待測(cè)物內(nèi)所有的接地迴路。
安全守則
操作人員必須隨時(shí)給予教育訓(xùn)練，使其了解各種安規(guī)測(cè)試規(guī)則及程序，安規(guī)測(cè)試應(yīng)被視為
慎重的工作，不允許無關(guān)人員及未經(jīng)訓(xùn)練合格之工作人員進(jìn)入測(cè)試工作站將被視為嚴(yán)重犯
規(guī)。
衣著規(guī)定
操作人員不可穿著有金屬裝飾物的服裝或配戴金屬飾物、手錶，這些金屬很容易造成意外
的觸電。 且意外觸電時(shí)，其後果也特別嚴(yán)重。
醫(yī)學(xué)規(guī)定
本儀器絕對(duì)不能讓有心臟病或戴心率調(diào)整器者操作。
1.3.4 測(cè)試安全程序規(guī)定
絕對(duì)禁止對(duì)帶電之電路或設(shè)備作耐壓測(cè)試!
如果儀器具有外部安全接地接點(diǎn)，應(yīng)確認(rèn)接地接點(diǎn)已被接妥。 特別注意，不論被測(cè)物為
具電極的絕緣材料、具有高壓連接點(diǎn)或線的零件或是具有二孔或三孔的電源線的機(jī)具或設(shè)
備，開機(jī)前必須確認(rèn)已將高壓回線(Return)接妥。
只有在測(cè)試時(shí)才插上高壓測(cè)線，取用高壓線(夾)必須握在絕緣部份––絕對(duì)不能直接觸摸高
壓輸出端(夾)。 必須確認(rèn)操作人員均能夠完全自主掌控本儀器之控制開關(guān)及遙控開關(guān)，遙
控開關(guān)必須放置定位，不能任意放置。
嘉仕全系列安規(guī)測(cè)試器的高壓回線(Return)並不直接接地。 這種設(shè)計(jì)可量
測(cè)到極微量的漏電電流，但是在做測(cè)試時(shí)，被測(cè)物必須與地線和大地完全
絕緣。 如果被測(cè)物地線直接接地，可能會(huì)造成無法量測(cè)到電流或所量測(cè)到的電流不準(zhǔn)確。
若有任何不清楚的地方，請(qǐng)與嘉仕電子的客支部連絡(luò)。
在耐壓測(cè)試進(jìn)行中，絕對(duì)不能碰觸測(cè)試物件或任何與被測(cè)物有連接的物
件。
1.3.5 必須記著下列安全要點(diǎn)
? 非合格的操作人員和不相關(guān)的人員應(yīng)遠(yuǎn)離高壓測(cè)試區(qū)。
? 隨時(shí)保持高壓測(cè)試區(qū)在安全和有秩序的狀態(tài)。
? 在高壓測(cè)試進(jìn)行中絕對(duì)不碰觸測(cè)試物件或任何與被測(cè)物有連接的物件。
? 萬一發(fā)生任何問題，請(qǐng)立即關(guān)閉高壓輸出。
? 在直流耐壓測(cè)試後，必須先妥善放電，才能進(jìn)行拆除測(cè)試線的工作。
51.4 安規(guī)介紹
安規(guī)測(cè)試的重要性???? 使用者的安全
在消費(fèi)意識(shí)高漲的現(xiàn)今世界，每一個(gè)電氣和電子產(chǎn)品的製造商，必須盡最大的能力，將產(chǎn)
品的安全做好。 每一種產(chǎn)品的設(shè)計(jì)必須盡其可能，不讓使用者有被感電的機(jī)會(huì)。 縱然是
使用者發(fā)生錯(cuò)誤使用也應(yīng)無感電機(jī)會(huì)。 為了達(dá)到一般公認(rèn)的安全要求，“耐壓測(cè)試器”就必
須被使用。 安規(guī)執(zhí)行單位、例如 UL、CSA、IEC、BSI、VDE、TUV 和 JSI 等都要求各
製造商在設(shè)計(jì)和生產(chǎn)電子或電氣產(chǎn)品時(shí)要使用“耐壓測(cè)試器”作為安全測(cè)試。 這些安規(guī)執(zhí)行
單位有時(shí)也會(huì)要求某些產(chǎn)品必須做絕緣電阻測(cè)試、接地電阻測(cè)試，甚至要求做洩漏電流測(cè)
試。
1.5 安規(guī)測(cè)試
1.5.1 耐壓測(cè)試(Dielectric Withstand Voltage Test)
耐壓測(cè)試的基礎(chǔ)理論是將一個(gè)產(chǎn)品暴露在非常惡劣的環(huán)境之下，如果產(chǎn)品能夠在這種惡劣
的環(huán)境之下還能維持正常狀況，就可以確定在正常的環(huán)境之下工作，也一定可以維持很正
常的狀況。 最常使用耐壓測(cè)試的情況為:
?
?
?
?
設(shè)計(jì)時(shí)的功能測(cè)試???? 確定所設(shè)計(jì)的產(chǎn)品能達(dá)到其功能要求的條件。
生產(chǎn)時(shí)的規(guī)格測(cè)試???? 確認(rèn)所生產(chǎn)的產(chǎn)品能達(dá)到其規(guī)格要求的標(biāo)準(zhǔn)。
品保時(shí)的確認(rèn)測(cè)試???? 確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì)能符合安規(guī)的標(biāo)準(zhǔn)。
維修後的安全測(cè)試???? 確認(rèn)維修後的產(chǎn)品能維持符合安規(guī)的標(biāo)準(zhǔn)。
不同的產(chǎn)品有不同的技術(shù)規(guī)格，基本上在耐壓測(cè)試時(shí)是將一個(gè)高於正常工作的電壓加在產(chǎn)
品上測(cè)試，這個(gè)電壓必須持續(xù)一段規(guī)定的時(shí)間。 如果一個(gè)零組件在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)，其漏
電電流量亦保持在規(guī)定的範(fàn)圍內(nèi)，就可以確定這個(gè)零組件在正常的條件下運(yùn)轉(zhuǎn)，應(yīng)該是非
常安全。 而優(yōu)良的設(shè)計(jì)和選擇良好的絕緣材料可以保護(hù)使用者，讓他免予受到意外感電。
本儀器所做的耐壓測(cè)試，一般稱之為“高電壓介電測(cè)試”，簡稱為“耐壓測(cè)試”。 基本的規(guī)定
是以兩倍於被測(cè)物的工作電壓，再加一千伏特，作為測(cè)試的電壓標(biāo)準(zhǔn)。 有些產(chǎn)品的測(cè)試
電壓可能高於 2 X 工作電壓 + 1000 V。
例如有些產(chǎn)品的工作電壓範(fàn)圍是從 100V 到 240V，這類產(chǎn)品的測(cè)試電壓可能在 1000V 到
4000V 之間或更高。 一般而言，具有“雙絕緣”設(shè)計(jì)的產(chǎn)品，其使用的測(cè)試電壓可能高於 2
X 工作電壓+ 1000 V 的標(biāo)準(zhǔn)。
耐壓測(cè)試在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)和樣品製作時(shí)比正式生產(chǎn)時(shí)的測(cè)試更為精密，因?yàn)楫a(chǎn)品在設(shè)計(jì)測(cè)試
階段便已決定產(chǎn)品的安全性。 雖然在產(chǎn)品設(shè)計(jì)時(shí)只是用少數(shù)的樣品來作判斷，然而生產(chǎn)
時(shí)的線上測(cè)試更應(yīng)嚴(yán)格要求所有的產(chǎn)品都必須能通過安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)，可以確認(rèn)沒有不良品會(huì)流
出生產(chǎn)線。
耐壓測(cè)試器的輸出電壓必須保持在規(guī)定電壓的 100%到 120%的範(fàn)圍內(nèi)。AC 耐壓測(cè)試器的
6輸出頻率必須維持在 40 到 70Hz 之間，同時(shí)其波峰值不得低於均方根(RMS)電壓值的 1.3
倍，並且其波峰值不得高於均方根(RMS)電壓值的 1.5 倍。
高壓測(cè)試能檢測(cè)出下列狀況
? 絕緣材料的絕緣強(qiáng)度太弱
? 絕緣體上有針孔
? 零組件之間的距離不夠
? 絕緣體被擠壓而破裂
1.5.1.1 交流(AC)測(cè)試的優(yōu)缺點(diǎn)
請(qǐng)先與受測(cè)試產(chǎn)品所指定的安規(guī)單位確認(rèn)該產(chǎn)品應(yīng)該使用何種電壓，有些產(chǎn)品可以同時(shí)接
受直流和交流兩種測(cè)試選擇，但是仍然有多種產(chǎn)品只允許接受直流或交流中的一種測(cè)試。
如果安規(guī)規(guī)範(fàn)允許同時(shí)接受直流或交流測(cè)試，製造廠就可以自己決定何種測(cè)試對(duì)於產(chǎn)品較
為適當(dāng)。 為了達(dá)成此目地，使用者必須了解直流和交流測(cè)試的優(yōu)缺點(diǎn)。
交流耐壓(ACW)測(cè)試的特點(diǎn)
大部份做耐壓測(cè)試的被測(cè)物都會(huì)含有一些雜散電容量。 用交流測(cè)試時(shí)可能無法充飽這些
雜散電容，會(huì)有一個(gè)持續(xù)電流流過這些雜散電容。
交流耐壓(ACW)測(cè)試的優(yōu)點(diǎn)
1. 一般而言，交流測(cè)試比直流測(cè)試更容易被安規(guī)單位接受。 主因是大部份的產(chǎn)品都使用
交流電，而交流測(cè)試可以同時(shí)對(duì)產(chǎn)品作正負(fù)極性的測(cè)試，與產(chǎn)品使用的環(huán)境完全一致，
合乎實(shí)際使用狀況。
2. 由於交流測(cè)試時(shí)無法充飽那些雜散電容，但不會(huì)有瞬間衝擊電流發(fā)生，因此不需讓測(cè)
試電壓緩慢上升，可以一開始測(cè)試就全電壓加上，除非這種產(chǎn)品對(duì)衝擊電壓很敏感。
3. 由於交流測(cè)試無法充滿那些雜散電容，在測(cè)試後不必對(duì)測(cè)試物作放電的動(dòng)作，這是另
外一個(gè)優(yōu)點(diǎn)。
交流耐壓(AC)測(cè)試的缺點(diǎn)
1. 主要的缺點(diǎn)為，如果被測(cè)物的雜散電容量很大或被測(cè)物為電容性負(fù)載時(shí)，這樣所產(chǎn)生的
電流，會(huì)遠(yuǎn)大於實(shí)際的漏電電流，因而無法得知實(shí)際的漏電電流。
2. 另外一個(gè)缺點(diǎn)是由於必須供應(yīng)被測(cè)物的雜散電容所需的電流，機(jī)器所需輸出的電流會(huì)
比採用直流測(cè)試時(shí)的電流大很多。 這樣會(huì)增加操作人員的危險(xiǎn)性。
71.5.1.2 直流(DC)測(cè)試的優(yōu)缺點(diǎn)
直流(DC)測(cè)試的特點(diǎn)
在直流耐壓測(cè)試時(shí)，被測(cè)物上的雜散電容會(huì)被充滿，直流耐壓測(cè)試時(shí)所造成的容性電流，
在雜散電容被充滿後，會(huì)下降到趨近於零。
直流(DC)測(cè)試的優(yōu)點(diǎn)
1.一旦被測(cè)物上的雜散電容被充滿，只會(huì)剩下被測(cè)物實(shí)際的漏電電流。 直流耐壓測(cè)試可以
很清楚的顯示出被測(cè)物實(shí)際的漏電電流。
另外一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是由於僅需在短時(shí)間內(nèi)，供應(yīng)被測(cè)物的充電電流，其它時(shí)間所需供應(yīng)的電流
非常小，所以機(jī)器的電流容量遠(yuǎn)低於交流耐壓測(cè)試時(shí)所需的電流容量。
直流(DC)測(cè)試的缺點(diǎn)
1. 除非被測(cè)物上沒有任何電容量存在，否則測(cè)試電壓必須由“零”開始，緩慢上升，以避免
充電電流過大，電容量越大所需的緩升時(shí)間越長，一次所能增加的電壓也越低。 充電
電流過大時(shí)，一定會(huì)引起測(cè)試器的誤判，使測(cè)試的結(jié)果不正確。
2. 由於直流耐壓測(cè)試會(huì)對(duì)被測(cè)物充電，所以在測(cè)試後，一定要先對(duì)被測(cè)物放電，才能做下
一步工作。
3. 與交流測(cè)試不一樣，直流耐壓測(cè)試只能單一極性測(cè)試，如果產(chǎn)品要使用於交流電壓下，
這個(gè)缺點(diǎn)必須被考慮。 這也是大多數(shù)安規(guī)單位都建議使用交流耐壓測(cè)試的原因。
4. 在交流耐壓測(cè)試時(shí)，電壓的波峰值是電錶顯示值的 1.4 倍，這一點(diǎn)是一般電錶所不能顯
示的，也是直流耐壓測(cè)試所無法達(dá)到的。 所以多數(shù)安規(guī)單位都要求，如果使用直流耐
壓測(cè)試，必須提高測(cè)試電壓到相等的數(shù)值。
1.5.2 絕緣電阻測(cè)試(Insulation Resistance Test)
新設(shè)計(jì)的一些安規(guī)分析儀大都將絕緣電阻測(cè)試的功能含蓋在內(nèi)，基本上絕緣電阻測(cè)試功能
必須提供一個(gè) 500 到 1000VDC 的電壓，同時(shí)電阻的量測(cè)範(fàn)圍也必須可以由幾百 K?量測(cè)
到幾個(gè) G?。 這些功能可以讓產(chǎn)品的製造廠符合安全要求的規(guī)定，TUV 和 VDE 等安規(guī)執(zhí)
行單位在某些特定的產(chǎn)品會(huì)要求先做絕緣電阻的測(cè)試，然後才能執(zhí)行耐壓測(cè)試，這項(xiàng)規(guī)定
目前大都被引用在產(chǎn)品設(shè)計(jì)所執(zhí)行的安規(guī)試驗(yàn)上。
絕緣電阻測(cè)試的基本理論與耐壓測(cè)試非常類似，耐壓測(cè)試的判定是以漏電流量為基準(zhǔn)，而
絕緣電阻測(cè)試則以電阻值的形態(tài)作為判定依據(jù)，通常必須為多少 M?以上。
絕緣電阻值越高表示產(chǎn)品的絕緣越好。 絕緣電阻測(cè)試的接線方式與耐壓測(cè)試完全相同，
8量測(cè)到的絕緣電阻值為兩個(gè)測(cè)之間以及其週邊連接在一起的各項(xiàng)關(guān)連網(wǎng)路所形成的等效
電阻值。
嘉仕電子的安規(guī)測(cè)試設(shè)備內(nèi)所含蓋的絕緣電阻測(cè)試功能，是一項(xiàng)獨(dú)立的測(cè)試功能，不會(huì)與
耐壓測(cè)試的功能互相重疊，使用上更為簡便。
1.5.3 接地電阻測(cè)試(Ground Continuity Test or Ground Bond Test)
接地電阻測(cè)試的主要目的為確定被測(cè)物在故障的情況之下，安全接地線是否能承擔(dān)故障的
電流流量，接地的電阻值必須越低越好，這樣才能確認(rèn)一旦產(chǎn)品發(fā)生故障時(shí)，在輸入的電
源開關(guān)尚未切斷電源以前，可以讓使用者免於感電的危險(xiǎn)和威脅。
9第二章 安裝
本章主要介紹 嘉仕電子產(chǎn)品的拆封、檢查、使用前的準(zhǔn)備、和儲(chǔ)存等的規(guī)則。
2.1 拆封和檢查
2.1.1 包裝
嘉仕電子的產(chǎn)品是包裝在一個(gè)使用泡綿保護(hù)的包裝箱內(nèi)，如果收到時(shí)的包裝箱有破損，
請(qǐng)檢查儀器的外觀是否有無變形、刮傷、或面板損壞等。 如果有損壞，請(qǐng)立即通知嘉仕電
子或其經(jīng)銷商。 並請(qǐng)保留包裝箱和泡綿，以便了解發(fā)生的原因。 我們的服務(wù)中心會(huì)幫您
修護(hù)或更換新機(jī)。 在未通知嘉仕電子或其經(jīng)銷商前，請(qǐng)勿立即退回產(chǎn)品。
2.1.2 包裝方式
原始包裝
請(qǐng)保留所有的原始包裝材料，如果儀器必須回廠維修，請(qǐng)用原來的包裝材料包裝。 並請(qǐng)
先與嘉仕電子的維修中心連絡(luò)。 送修時(shí)，請(qǐng)務(wù)必將電源線和測(cè)試線等全部的附件一
起送回，並註明故障現(xiàn)象和原因。 另外，請(qǐng)?jiān)诎b上註明“易碎品”請(qǐng)小心搬運(yùn)。
其它包裝
如果無法找到原始包裝材料來包裝，請(qǐng)按照下列說明包裝:
1. 先用氣泡布或保麗龍將儀器包妥。
2. 再將儀器置於可以承受 150KG (350lb.) 的多層紙箱包裝。
3. 儀器的週圍必須使用可防震的材料填充，厚度大約為 70 到 100mm (3 到 4inch) ，儀
器的面板必須先用厚紙板保護(hù)。
4. 妥善密封箱體。
5. 註明“易碎品”請(qǐng)小心搬運(yùn)。
2.2 安裝
2.2.1 輸入電源的需求
本儀器使用 115V AC 或 230V AC?? 15% 47-63 Hz 單相的電源。 在開啟儀器的電源開關(guān)
以前，請(qǐng)先確認(rèn)背板上的電壓選擇開關(guān)，是否放置在正確的位置。 同時(shí)必須使用正確規(guī)
格的保險(xiǎn)絲，保險(xiǎn)絲使用規(guī)格已標(biāo)示在儀器的背板上。 更換保險(xiǎn)絲前，必須先關(guān)閉輸入
電源，以避免危險(xiǎn)。
注意 !!!
10
請(qǐng)依第三章產(chǎn)品規(guī)範(fàn)所使用的保險(xiǎn)絲更換，請(qǐng)勿任易變更保險(xiǎn)絲的規(guī)格。2.2.2 電源線
在接上輸入電源之前，必須先確認(rèn)電源線上的地線已經(jīng)接妥，同時(shí)也將地
線接到機(jī)體上的接地端子上。 儀器上的電源插頭只能插在帶有地線的電
源插座上。 如果使用延長線，必須注意延長線是否帶有接地線。 當(dāng)電纜線插到具有地線
的插座時(shí)，即已完成機(jī)體接地。
2.2.3 環(huán)境條件
操作環(huán)境
溫 度 : 0?-40?C (32?-104?F)。
相對(duì)濕度 : 在 20 到 80%之間。
高 度 : 在海拔 2000 公尺(6500 英呎)以下。
儲(chǔ)存和運(yùn)輸
週圍溫度 ................ -40?到 75?C
高度 ........................ 7620 公尺(25000 英呎)
本機(jī)必須避免溫度的急劇變化，溫度急劇變化可能會(huì)使水氣凝結(jié)於機(jī)體內(nèi)部。
11MODEL 7410 7420 7430 7440
AC WITHSTAND VOLTAGE
Output Rating 5KVAC / 30mA 5KVAC / 30mA 5KVAC / 40mA 5KVAC / 40mA
Range Resolution Accuracy
Output Voltage,ACV 0 - 5000 1 ± (2% of setting + 5V)
Output Frequency 50Hz / 60Hz ± 0.1%, User Selectable
Output Waveform Sine Wave ,THD. < 2% (Resistive Load), Crest Factor = 1.3 - 1.5
Output Regulation ± (1% of output + 5V), From no load to full load
SETTINGS
Hi - Limit AC Current, mA 0 - 30.00 0 - 30.00 0 - 40.00 0 - 40.00
Resolution : 0.01, Accuracy : ± (2% of setting + 3counts)
Lo - Limit AC Current, mA Range : 0 - 9.999
Resolution : 0.001, Accuracy : ± (2% of setting + 3counts)
Ramp Time, second 0.1 - 999.9 0.1
± (0.1% of setting + 0.05s) Dwell Time, second 0, 0.3 - 999.9
(0 = continuous) 0.1
Arc Detection The range is from 1 - 9 (9 is the most sensitive)
AC Current Offset, mA 0 - 2.000 or Auto Set
DC WITHSTAND VOLTAGE
Output Rating 6KVDC / 9999 µA
Output Voltage, DCV 0 - 6000 1 ± (2% of setting + 5V)
Output Ripple < 5% (6KV / 9999 µA at Resistive Load)
SETTINGS
Hi - Limit DC Current, µA 0 - 9999 1 ± (2% of setting + 3 counts)
Lo - Limit DC Current, µA 0 - 999.9 0.1 ± (2% of setting + 3 counts)
Ramp Time second 0.1 - 999.9 0.1
± (0.1% of setting + 0.05s) Dwell Time, second 0, 0.4 - 999.9
(0 = continuous) 0.1
Arc Detection The range is from 1 - 9 (9 is the most sensitive)
DC Current Offset, µA 0 - 200.0 or Auto Set
Ramp High, Current ON / OFF, User Selectable
Charge - Low Current, µA 0 - 350.0 or Auto Set
Discharge Time ≤ 200 msec
INSULATION RESISTANCE
Output Rating 1KVDC / 9999M?
Output Voltage, DCV 100 - 1000 1 ± (2% of setting + 3V)
Hi - Limit Resistance, M? 0, 1 - 9999 (0 = OFF) 1 100 - 499V
1 - 999.9, ± (8% of setting + 2counts)
500 - 1000V
1 - 999.9, ± (2% of setting + 2counts)
1000 - 9999, ± (8% of setting + 2counts) Lo - Limit Resistance, M? 1 - 9999 1
第三章 技術(shù)規(guī)範(fàn)
3.1 功能及規(guī)格
12Delay Time, second 0, 0.5 - 999.9
(0 = continuous) 0.1 ± (0.1% of setting + 0.05s)
Charge - Low Current, µA 0 - 3.500 or Auto Set
GROUND BOND (7440 ONLY)
Output Rating 30A / 600m?, 8V
Output AC Current, A 3.00 - 30.00 0.01 ± (2% of setting + 3 counts)
Output AC Voltage, V 3.00 - 8.00 0.01 ±(2% of setting + 3 counts) at
Open circuit
Output Frequency 50Hz / 60Hz ± 0.1%, User Selectable
SETTINGS
Hi - Limit Resistance, m? 0 - 150 (3 - 30A)
0 - 600 (3 - 10A) 1 ± (2% of setting + 2 counts) Lo - Limit Resistance, m?
Lead Resistance Offset,
m?
0 - 200 1 ± (2% of setting +2 counts)
Dwell Time, second 0, 0.5 - 999.9
(0 = continuous) 0.1 ± (0.1% of setting + 0.05s)
MEASUREMENT
AC / DC Voltage, KV 0 - 6.00 0.01 ±(1.5% of reading ) > 500V
±(1.5% of reading + 1 count) < 500V
DC Voltage, V (IR) 100 - 1000 1 ± (1.5% of reading + 3V)
AC Current Range, mA 0 - 3.500 0 - 3.500 0 - 3.500 0 - 3.500
3.00 - 30.00 3.00 - 30.00 3.00 - 40.00 3.00 - 40.00
AC Current Resolution,
mA 0.001 / 0.01
AC Current Accuracy, mA ± (2% of reading + 3 counts)
DC Current Range, µA
0 - 350.0 0.1
300 ±(2% of reading + 3counts) - 3500 1
3000 - 9999 10
AC Current, A (GB) 0 - 35.00 0.01 ±(2% of reading + 3counts)
Resistance, M? (IR) 1 - 9999
(Auto Range)
0.001
0.01
0.1
1
100 - 499V
1 - 999.9, ± (8% of reading + 2counts)
500 - 1000V
1 - 999.9, ± (2% of reading + 2counts)
1000 - 9999, ± (8% of reading +
2counts)
Resistance, m? (GB) 0 - 600 1 ± (2% of reading + 2 counts)
GENERAL
Input Voltage AC 115V / 230Vac ± 15%, 50Hz / 60Hz ± 5%, max. current 5A for 7410 model,
max. current 6.3A for 7420 / 7430 / 7440 model
PLC Remote Control Input : Test, Reset, Memory1, 2, 3
Output : Pass, Fail, Processing
Memory 50 memories, 8 steps / memory
Display 20 × 2 OLED
Key Lock To prevent unauthorized alteration of the test Parameters
Calibration Build - in software and external calibrated meters
Alarm Volume Setting Range : 0 - 9; 0 = OFF, 1 is softest volume, 9 is loudest volume
Rear Panel Output YES YES YES YES
Built - in Scanner Module - 8 CHANNELS OPTION OPTION
External Scanner Port YES YES YES YES
Smart GFI YES YES YES YES
13軟體版本 Ver
電弧偵測(cè)靈敏度
設(shè)定
Level 9
Level 8
Level 7
Level 6
Level 5 (Default)
Level 4
Level 3
Level 2
Level 1
設(shè)定範(fàn)圍：1 - 9
Analog Meter
USB & RS232 Interface
GPIB Interface
Printer Interface
- OPTION
OPTION
OPTION
- OPTION
OPTION
OPTION
YES
YES
OPTION
OPTION
YES
YES
OPTION
OPTION
Environment 0 - 40ºC, 20 - 80%RH
Dimension (W × H × D),
mm
Net Weight
430 × 133 × 300
12Kg
430 × 133 × 500
18Kg
430 × 133 × 500
22Kg
STANDARD ACCESSORIES
Power Cord (10A) ×1
Fuses × 2 (Including a spare contained in the fuse holder)
Hipot Test Lead,1.5m
(1101)
Hipot Return Lead,1.8m
(1102) ×1×1
Ground Bond Test Lead
30A, 1.5m (1103)
Ground Bond Return Lead
30A, 1.5m (1104)
Hipot Output Link Lead,
1.5m (1109)
- - -
- - -
- ×8 - ×1×1
- USB Link Cable 1.8m - - × 1 ×1
Disk (RS232 test
program) - - ×1 ×1
*Product specifications are subject to change without notice
備註 : 電弧偵測(cè)靈敏度設(shè)定，本系列儀器分為 Level 1 - 9：
143.2 前面板說明
1. POWER 開關(guān)
電源開關(guān)， I 為開啟電源 (ON)， 0 為關(guān)閉電源 (OFF)。
2. RESET 開關(guān)
重置、停止測(cè)試及停止警報(bào)聲音之開關(guān)，內(nèi)含紅色指示燈，DUT 測(cè)試異常時(shí)，紅色指示
燈會(huì)亮。
3. TEST 開關(guān)
執(zhí)行測(cè)試之開關(guān)，內(nèi)含綠色指示燈，當(dāng) DUT 通過測(cè)試時(shí)，綠色指示燈會(huì)亮。
154. MEMORY 鍵
記憶組選擇鍵，可以從 50 組記憶組之中任意選擇一組執(zhí)行測(cè)試。
5. STEP 鍵
測(cè)試步驟選擇鍵，每個(gè)記憶組含有 8 個(gè)測(cè)試步驟 (STEP)，可以使用 STEP 鍵任意選擇其
中一個(gè)步驟，設(shè)定該步驟的測(cè)試參數(shù)。
6. LOCK 鍵
鍵盤安全鎖定鍵，詳細(xì)資料請(qǐng)參考鍵盤鎖定使用說明。
7. LOCAL/PRINT 鍵
本機(jī)控制模式或列表機(jī)執(zhí)行鍵，本機(jī)若裝配有 GPIB 或 RS-232 介面時(shí)，可以按此鍵將正
由電腦控制的模式中，立即改由本機(jī)控制模式。若裝配為列表機(jī)介面，則成為列印執(zhí)行鍵。
8. AC-W 鍵
交流耐壓測(cè)試參數(shù)設(shè)定之功能選擇鍵。
9. DC-W 鍵
直流耐壓測(cè)試參數(shù)設(shè)定之功能選擇鍵。
10. INSULATION 鍵
絕緣電阻測(cè)試參數(shù)設(shè)定之功能選擇鍵。
11. GROUNDING 鍵
接地阻抗測(cè)試參數(shù)設(shè)定之功能選擇鍵，僅 7440 機(jī)型有此功能鍵。
12. ∧ 和 ∨ 鍵
選擇各種設(shè)定參數(shù)之選擇鍵， ∧ 鍵為逆向選擇，而 ∨ 鍵為順向選擇。
13. SETUP 鍵
操作和環(huán)境條件設(shè)定之選擇鍵，如 GPIB 地址、顯示器反襯亮度、蜂鳴器音量、遙控或手
動(dòng)模式選擇和 DUT 測(cè)試異常時(shí)停止或繼續(xù)測(cè)試模式之設(shè)定。
14. EXIT 鍵
清除參數(shù)設(shè)定或退出設(shè)定狀態(tài)之功能鍵。
15. 數(shù)字鍵
0 ~ 9 為各種參數(shù)數(shù)字之輸入鍵。
16. ENTER / REVIEW 鍵
輸入確認(rèn)和功能設(shè)定以及檢視測(cè)試記錄之功能鍵。
17. H. V. 端子
高壓輸出端子。
1618. RETURN 端子
回路線端子。7440 機(jī)型之端子為大電流端子(容量 30A)，其它機(jī)型為一般小電流用端子。
19. CURRENT 端子
接地電阻測(cè)試的電流輸出端子 (容量 30A )，僅 7440 機(jī)型有此端子。
CONT. CHECK 端子
檢測(cè) DUT 接地線回路接妥之檢測(cè)端子，僅 7430 機(jī)型有此端子。
20. 高壓指針錶
高壓輸出指針錶，7410 和 7420 無此指針錶。
21. GND SCANNER STATUS 指示燈
掃瞄器式接地電阻測(cè)試之輸出點(diǎn)指示燈，每次只能在 1 ~ 8 其中的一個(gè)點(diǎn)輸出，僅 7440
機(jī)型備有此功能和指示燈，指示燈亮的位置為指示輸出點(diǎn)的位置。
22. HV SCANNER STATUS 指示燈
掃瞄器式耐壓或絕緣測(cè)試之輸出點(diǎn)指示燈，除 7410 機(jī)型外都備有此功能和指示燈。上面
一排為紅色指示燈，紅色指示燈亮的點(diǎn)表示此點(diǎn)為高電壓輸出點(diǎn)，而下面一排則指示燈為
黃綠色指燈，黃綠色指示燈亮的點(diǎn)表示此點(diǎn)為低電壓回路點(diǎn)，指示燈未亮的點(diǎn)表示此點(diǎn)為
開路或未設(shè)定狀態(tài)。
23. OLED DISPLAY
點(diǎn)矩陣式顯示器，二行共二十個(gè)字。
24. BUS REMOTE 指示燈
儀器在介面遙控操作模式狀態(tài)的指示燈。
25. LOCK 指示燈
鍵盤鎖定狀態(tài)之指示燈，亮燈時(shí)為鍵盤已被鎖定，此時(shí)所設(shè)定的測(cè)試參數(shù)已無法再由鍵盤
更改。
26. ARC 指示燈
電弧檢測(cè)結(jié)果之狀態(tài)指示燈，無論是否設(shè)定電弧檢測(cè)判定之功能，只要電弧超過設(shè)定值，
指示燈都會(huì)亮。
173.3 背面板說明
1. SCANNER 1 端子排
外接矩陣式掃瞄器 # 1 控制端子排。
2. SCANNER 2 端子排
外接矩陣式掃瞄器 # 2 控制端子排。
3. SIGNAL OUTPUT 端子排
遙控訊號(hào)輸出端子排，D 型 (9PIN) 端子排母座，使用繼電器 (RELAY) 接點(diǎn)輸出 PASS、
FAIL 和 PROCESSING 等功能的訊號(hào)，以供遙控裝置使用。
4. SIGNAL INPUT 端子排
遙控訊號(hào)輸入端子排，D 型 (9PIN) 型端子排公座，可以輸入 TEST 和 RESET 的控制訊
號(hào)，以及選擇執(zhí)行記憶組 #1、#2 和 #3 等功能的遙控輸入訊號(hào)。
185. 輸入電壓選擇開關(guān)
選擇儀器的輸入電壓為 115V 或 230V 的選擇開關(guān)。
6. INTERFACE 裝置
崁入式介面槽，本儀器所附之標(biāo)準(zhǔn)介面為 RS232，可以另行選擇裝配 GPIB 或 Printer card
使用。
7. 散熱風(fēng)扇
連續(xù)運(yùn)轉(zhuǎn)排熱風(fēng)扇，請(qǐng)保持背板後方良好的排風(fēng)散熱空間。
8. 接地端子
機(jī)殼接地端子。在本儀器操作運(yùn)轉(zhuǎn)前，請(qǐng)務(wù)必將本接地安裝妥當(dāng)。
9. 保險(xiǎn)絲座
輸入電源保險(xiǎn)絲座，如需更換保險(xiǎn)絲時(shí)，請(qǐng)更換正確規(guī)格的保險(xiǎn)絲。
14.15. SCANNER 輸出裝置
掃瞄器 1~8 點(diǎn)的高壓輸出端子和接地測(cè)試電流輸出端子(GROUND CONTINUITY 輸出端
子)，連接到 DUT 的測(cè)試點(diǎn)。接地測(cè)試電流輸出端子，僅 7440 機(jī)型備有此功能和端子。
10. 輸入電源座
標(biāo)準(zhǔn) IEC 320 電源插座，用以連接 NEMA 的標(biāo)準(zhǔn)電源線。
11.CONT.CHECK端子/ CURRENT 端子
CONT.CHECK 端子：檢測(cè) DUT 接地線回路接妥之檢測(cè)端子，僅 7430 機(jī)型有此端子 (如
圖一) 。
CURRENT 端子：接地電阻測(cè)試的電流輸出端子，其容量為 30A，僅 7440 機(jī)型備有此功
能和端子(如圖二)。
12. RETURN 端子
回路線端子，7440 機(jī)型的端子容量為 30A，其它機(jī)型為一般小電流用端子。
13. H. V.端子
高壓輸出端子。
19MEMORY 2 STEP 1 STEP 2 .... STEP 8
每個(gè)測(cè)試步
驟只可選擇
一個(gè)測(cè)試功
能
ACW
DCW
IR
G-Bond
ACW
DCW
IR
G-Bond
ACW
DCW
IR
G-Bond
MEMORY 50 STEP 1 STEP 2 .... STEP 8
每個(gè)測(cè)試步
驟只可選擇
一個(gè)測(cè)試功
能
ACW
DCW
IR
G-Bond
ACW
DCW
IR
G-Bond
ACW
DCW
IR
G-Bond
MEMORY 1 STEP 1 STEP 2 .... STEP 8
每個(gè)測(cè)試步
驟只可選擇
一個(gè)測(cè)試功
能
ACW
DCW
IR
G-Bond
ACW
DCW
IR
G-Bond
ACW
DCW
IR
G-Bond
第四章 操作說明
4.1 程式鍵
4.1.1 程式記憶鍵
每個(gè)測(cè)試程式記憶組 (MEMORY) 具有 8 個(gè)測(cè)試步驟 (STEP)，每個(gè)測(cè)試步驟均可依序連
結(jié)到下一個(gè)測(cè)試程式記憶組的測(cè)試步驟。但每個(gè)測(cè)試步驟只能設(shè)定一種測(cè)試功能，下表為
各測(cè)試程式記憶組和各測(cè)試步驟功能設(shè)定的說明圖 :
註解 :
1. 在 7410、7420 和 7430 的機(jī)型上，沒有接地阻抗 G-Bond 測(cè)試功能，在儀器上也不
會(huì)出現(xiàn)這項(xiàng)功能的設(shè)定鍵和參數(shù)。
按 MEMORY 鍵，顯示器會(huì)顯示如下 :
Memory = X X
Range : 1 - 50
請(qǐng)用數(shù)字鍵輸入欲呼叫的測(cè)試程式記憶組，再按 ENTER 鍵，執(zhí)行程式會(huì)叫出該測(cè)試
程式記憶組內(nèi)所儲(chǔ)存的設(shè)定參數(shù)，並回到待測(cè)的模式，準(zhǔn)備依照所叫出的測(cè)試參數(shù)執(zhí)
行測(cè)試。
204.1.2 步驟鍵
在按 STEP 鍵後，顯示器上將會(huì)顯示，該步驟所設(shè)定測(cè)試項(xiàng)目的測(cè)試參數(shù)，也就是交流耐
壓、直流耐壓、絕緣電阻或接地阻抗的測(cè)試參數(shù)。再按一次 STEP 鍵，會(huì)依序進(jìn)入下一個(gè)
測(cè)試步驟，在第 8 個(gè)測(cè)試步驟之後，會(huì)回到第 1 個(gè)步驟。
當(dāng)測(cè)試步驟被連結(jié)到下一個(gè)測(cè)試步驟時(shí)，顯示器上會(huì)在步驟的代表數(shù)字之後顯示一個(gè) _ ，
右圖為進(jìn)行第 25 記憶組的第 1 測(cè)試步驟之後，會(huì)自動(dòng)連結(jié)到第 25 記憶組的第 2 測(cè)試步驟。
ACW Set XXX.X s
M25-1 X.XX KV XX.XX
ACW Set XXX.X s
M25-1_ X.XX KV XX.XX
4.1.3 鍵盤鎖定鍵
如儀器已被設(shè)定有密碼鎖定的方式，在按 LOCK 鎖定鍵之後，顯示器會(huì)顯示如下:
Password = _ Range : 0 - 9 9 9 9
請(qǐng)輸入正確的密碼，再按 ENTER 輸入鍵，儀器的面板鎖定 (LOCK) 的指示燈會(huì)熄滅，並
且自動(dòng)進(jìn)入待測(cè)模式。如果輸入的密碼錯(cuò)誤，蜂鳴器會(huì)發(fā)出警告或報(bào)音，同時(shí)顯示器會(huì)顯
示如下:
Password = ERROR
Range : 0 - 9 9 9 9
程式會(huì)自動(dòng)回到密碼輸入程式畫面，等待重新輸入密碼。如儀器未設(shè)密碼鎖定 (密碼設(shè)為
0 時(shí))，在按 LOCK 鎖定鍵之後，顯示器會(huì)顯示:
Key Lock = O N
?ENTER? to Select
或 Key Lock = O F F
?ENTER? to Select
請(qǐng)用 ENTER 鍵選擇鎖定 (ON) 或末鎖定 (OFF)，然後再按 EXIT 鍵進(jìn)入待測(cè)模式。當(dāng)鍵
盤鎖定方式被設(shè)於鎖定模式之下時(shí)，面板上的鎖定 (LOCK) 的指示燈會(huì)亮。如果記憶鎖定
功能 (MR-Lock) 被選擇為 ON 時(shí)，則記憶組 (MEMORY )會(huì)在鍵盤被鎖定時(shí)，一起被鎖
定而無法被呼叫，如果記憶鎖定功能被選擇為 OFF 時(shí)，則記憶組在鍵盤被鎖定時(shí)，仍然
可以被呼叫。
備註 : 1.其與鍵盤未被鎖定之不同處，為只能呼叫記憶組內(nèi)已設(shè)定的測(cè)試參數(shù)，而無法
修改測(cè)試參數(shù)和步驟。
2.本分析儀在出廠時(shí)，鍵盤鎖定功能已被預(yù)先選擇為 ON。
214.1.4 本地操作 / 列印鍵
當(dāng)本分析儀在 GPIB 或 RS232 遙控操作時(shí)，面板上的介面遙控 BUS(REMOTE) 指示燈會(huì)
亮，此時(shí)所有鍵盤都無法操作，唯獨(dú)本地操作 LOCAL 鍵可以操作，本分析儀將從遙控操
作模式下，回到本地操作模式。
當(dāng)本分析儀裝置列表機(jī)介面卡時(shí)，可以將列表機(jī)接到本分析儀上，要列印測(cè)試結(jié)果時(shí)，只
要按 PRINT 鍵，即可手動(dòng)列印出顯示器上顯示的內(nèi)容。
4.1.5 離開鍵
如所輸入的數(shù)字有錯(cuò)誤，可以按 EXIT 鍵清除錯(cuò)誤的數(shù)字，再重新輸入正確的數(shù)字，如果
所輸入的數(shù)字超出本分析儀規(guī)格範(fàn)圍，儀器會(huì)發(fā)出警報(bào)聲音，同時(shí)顯示器會(huì)顯示 Error，
然後再回到原先的參數(shù)設(shè)定模式。
4.2 功能鍵
4.2.1 交流耐壓 (ACW) 測(cè)試鍵
在按 ACW 鍵後，則進(jìn)入交流耐壓測(cè)試參數(shù)設(shè)定模式，顯示器即顯示如下:
ACW Set XXX.X s
MXX-X X.XX KV XX.XX 註明 : X 為數(shù)字 (0~9) 。
ACW Set
XXX.X s
MXX
-X
X.XX KV
XX.XX mA
:
:
:
:
:
:
交流耐壓測(cè)試參數(shù)設(shè)定模式
測(cè)試時(shí)間 (Dwell Time) 設(shè)定 (單位為 0.1 sec/step)
測(cè)試程式記憶組 (Memory) 代表數(shù)字 (1~50)
測(cè)試步驟 (Step) 數(shù)字 (1~8)
交流輸出電壓設(shè)定 (單位為 0.01 KV/step)
交流電流上限設(shè)定 (單位為 0.01 mA/step)
使用 ∧ 或 ∨ 鍵作為選擇參數(shù)項(xiàng)目的操作鍵。交流耐壓測(cè)試參數(shù)設(shè)定項(xiàng)目依序?yàn)?: 電壓
(Voltage)、電流上限 (HI-Limit)、電流下限 (LO-Limit)、緩升時(shí)間 (Ramp time)、測(cè)試時(shí)
間 (Dwell Time)、頻率 (Frequency)、電弧靈敏度 (ARC Sense)、電弧偵測(cè)判定模式 (ARC
Fail)、掃瞄器 (Scanner)、電流歸零 (Offset)、步驟連結(jié) (Step Connect)。
4.2.1.1 交流輸出電壓設(shè)定
按 ∨ 鍵至交流輸出電壓參數(shù)設(shè)定，顯示器會(huì)顯示如下:
Voltage = XXXX V
Range : 0 - 5000
22請(qǐng)用數(shù)字鍵輸入電壓數(shù)值 (其單位為 1 Volt/step)，再按 ENTER 鍵，將設(shè)定數(shù)值存入。
4.2.1.2 漏電電流上限 (HI-Limit) 設(shè)定
按 ∨ 鍵至漏電電流上限參數(shù)設(shè)定，顯示器會(huì)顯示如下:
HI-Limit = XX.XX mA
Range : 0.00 - 40.00
使用數(shù)字鍵輸入漏電電流上限值 (其單位為 0.01 mA/step)，再按 ENTER 鍵，將設(shè)定數(shù)值
存入。
4.2.1.3 漏電電流下限 (LO-Limit) 設(shè)定
按 ∨ 鍵至漏電電流下限參數(shù)設(shè)定，顯示器會(huì)顯示如下:
LO-Limit = X.XXX mA
Range : 0.000 - 9.999
使用數(shù)字鍵輸入漏電電流下限值 (其單位為 0.001 mA/step)，再按 ENTER 鍵，將設(shè)定數(shù)
值存入。如果下限設(shè)定為 0 時(shí)，則為下限值不做判定。
4.2.1.4 緩升時(shí)間設(shè)定
按 ∨ 鍵至緩升時(shí)間參數(shù)設(shè)定之後，顯示器會(huì)顯示如下:
Ramp Time =XXX.X s
Range : 0.1 - 999.9
使用數(shù)字鍵輸入緩升時(shí)間值 (其單位為 0.1 sec/step)，再按 ENTER 鍵，將設(shè)定數(shù)值存入。
4.2.1.5 測(cè)試時(shí)間設(shè)定
按 ∨ 鍵至測(cè)試時(shí)間參數(shù)設(shè)定，顯示器會(huì)顯示如下:
Dwell Time = XXX.X s
Range:0.3-999.9
使用數(shù)字鍵輸入測(cè)試時(shí)間值 (其單位為 0.1 sec/step)，再按 ENTER 鍵，將設(shè)定數(shù)值存入。
如果測(cè)試時(shí)間設(shè)定為 0 時(shí)，計(jì)時(shí)器會(huì)計(jì)數(shù)到最大數(shù)字，再重新開始計(jì)數(shù)，本分析儀會(huì)持續(xù)
進(jìn)行測(cè)試，除非按 Reset 開關(guān)或測(cè)試失敗，否則本分析儀不會(huì)停止測(cè)試。
註明 : 7420 和 7410 的輸出電流最大只能有 70%的 Duty Cycle，不能持續(xù)以滿載的 30mA
輸出。
234.2.1.6 輸出頻率設(shè)定
按 ∨ 鍵至輸出頻率參數(shù)設(shè)定，顯示器會(huì)顯示:
Frequency = 60 Hz
?ENTER? to Select
或 Frequency = 50 Hz
?ENTER? to Select
請(qǐng)用 ENTER 鍵，選擇切換輸出頻率為 50 或 60 Hz。
4.2.1.7 電弧靈敏度 (Arc Sense) 設(shè)定
按 ∨ 鍵至電弧靈敏度參數(shù)設(shè)定之後，顯示器會(huì)顯示如下:
Arc Sense = 5
Range:1-9 9=High
使用數(shù)字鍵輸入電弧靈敏度數(shù)值 (計(jì)有 1 ~ 9 段)，再按 ENTER 鍵，將設(shè)定數(shù)值存入。
4.2.1.8 電弧判定模式 (Arc Fail) 選擇設(shè)定
按 ∨ 鍵至電弧判定模式選擇參數(shù)設(shè)定之後，顯示器會(huì)顯示:
Arc Fail = O N
?ENTER? to Select
或 Arc Fail = O F F
?ENTER? to Select
請(qǐng)按 ENTER 鍵選擇電弧偵測(cè)判定模式為 ON 或 OFF，再按 ∨ 鍵，程式會(huì)自動(dòng)將設(shè)定的
模式存入記憶程式內(nèi)。如電弧偵測(cè)判定模式選擇為 ON，當(dāng)電弧的電流超過靈敏度的設(shè)定
值時(shí)，本分析儀的顯示器會(huì)顯示 Arc Fail，同時(shí)立即停止測(cè)試，並且面板上的 ARC 指示燈
會(huì)亮以及蜂鳴器會(huì)發(fā)出警報(bào)聲音。如電弧偵測(cè)判定模式選擇為 OFF，當(dāng)電弧的電流超過靈
敏度設(shè)定值時(shí)，本分析儀的顯示器並不會(huì)顯示 Arc Fail，且本分析儀不會(huì)停止測(cè)試，但是
面板上的 ARC 指示燈仍然會(huì)亮，蜂鳴器也不會(huì)發(fā)出警報(bào)聲音。
4.2.1.9 矩陣式掃瞄器設(shè)定
按 ∨ 鍵至矩陣式掃瞄器參數(shù)設(shè)定，顯示器會(huì)顯示如下:
Scanner Set CH = 1 – 16
XXXXXXXXXXXXXXX 註明 : X 為 H、O 或 L 。
如果未裝置掃瞄器，可以按 ∨ 鍵直接跳過此設(shè)定項(xiàng)目。請(qǐng)用數(shù)字鍵輸入掃瞄器各通道之
狀態(tài)設(shè)定為 High、Open 或 Low，再按 ENTER 鍵，將設(shè)定數(shù)值存入。本分析儀會(huì)在掃瞄
器通道狀態(tài)設(shè)定存入之後，自動(dòng)進(jìn)入下一個(gè)參數(shù)設(shè)定項(xiàng)目測(cè)線漏電電流歸零 (Offset)。
下列表格為掃瞄器通道設(shè)定及數(shù)字鍵使用之對(duì)照表:
24掃瞄器通道之狀態(tài) 代表數(shù)字鍵 接線說明
H (High) 1 此通道為高壓輸出(Hi-voltage)
L (Low) 0 此通道為測(cè)試回線(Retun)
O (Open) ? 此通道為開路狀態(tài)
在顯示器左下角的通道為 Channel 1，而右下角的則為 Channel 16。本分析儀會(huì)在按
ENTER 鍵，進(jìn)入電流歸零 (Offset) 設(shè)定之後，將掃瞄器未指定狀態(tài)的各通道設(shè)定為開路
狀態(tài) (Open)。掃瞄器狀態(tài) LED 指示器會(huì)依照所設(shè)定的狀態(tài)指示，紅色為 High，黃綠色為
Low，不亮燈為 Open。
如果交流耐壓測(cè)試的測(cè)試通道 (Channel) 超過 8 個(gè)點(diǎn)，必須外接掃瞄器，當(dāng)設(shè)定 Channel
9 ~16 之狀態(tài)後，外接掃瞄器的指示燈就會(huì)顯示每個(gè)通道的設(shè)定狀態(tài)。
如要設(shè)定Channel 1 及 5 為High，而Channel 3, 6 和 7 為Low時(shí)，請(qǐng)依序按數(shù)字鍵的
1、·、0、·、1、0、0、·鍵，而面板上的顯示器會(huì)顯示 H O L O H L L O 狀態(tài)。
4.2.1.10 測(cè)線漏電電流歸零設(shè)定
按 ∨ 鍵至測(cè)線漏電電流歸零參數(shù)設(shè)定，顯示器會(huì)顯示如右:
Offset = X.XXX mA
<Test> to Auto Set
可以使用數(shù)字鍵輸入已知的測(cè)線及治具的漏電電流值，讓漏電電流歸零，或直接按 Test
鍵，讓本分析儀自動(dòng)量測(cè)測(cè)線及治具的漏電電流值並做歸零動(dòng)作，此時(shí)必須先將被測(cè)物的
測(cè)線取下。
4.2.1.11 步驟連結(jié)設(shè)定
按 ∨ 鍵至步驟連結(jié)參數(shù)設(shè)定，顯示器會(huì)顯示:
Connect = O N
?ENTER? to Select 或
Connect = O F F
?ENTER? to Select
請(qǐng)用 ENTER 鍵選擇步驟連結(jié)為 ON 或 OFF。如步驟連結(jié)設(shè)定為 ON 時(shí)，在本步驟測(cè)試完
成後，會(huì)自動(dòng)連結(jié)到下一個(gè)步驟繼續(xù)進(jìn)行測(cè)試。如果設(shè)為 OFF 時(shí)，在本步驟測(cè)試完成後，
則會(huì)立即停止測(cè)試，不會(huì)接續(xù)到下一個(gè)測(cè)試步驟。
註明 : 如果步驟 8 的步驟連結(jié)被設(shè)定為 ON 時(shí)，測(cè)試程式記憶組 (MEMORY)會(huì)被連結(jié)到
下一組測(cè)試程式記憶組繼續(xù)進(jìn)行下一個(gè)步驟的測(cè)試。
254.2.2 直流耐壓(DCW)測(cè)試鍵
在按 DCW 鍵後，則進(jìn)入流耐壓測(cè)試參數(shù)設(shè)定模式，顯示器即顯示如下:
DCW Set XXX.X s
MXX-X X.XX KV XXXX 註明 : X 為數(shù)字 (0~9) 。
DCW Set
XXX.X s
MXX
-X
X.XX KV
XXXX??A
:
:
:
:
:
:
直流耐壓測(cè)試功能參數(shù)設(shè)定
測(cè)試時(shí)間 (Dwell Time) 設(shè)定 (單位 0.1 sec/step)
測(cè)試程式記憶組 (Memory ) 數(shù)字 (1~50)
測(cè)試步驟 (Step) 數(shù)字 (1~8)
直流輸出電壓設(shè)定 (單位 0.01 KV/step)
直流電流上限設(shè)定
使用 ∧ 或 ∨ 鍵作為選擇參數(shù)項(xiàng)目的操作鍵。按 ∨ 鍵為順向轉(zhuǎn)動(dòng)參數(shù)項(xiàng)目，而按 ∧ 鍵為
逆 向 轉(zhuǎn) 動(dòng) 參 數(shù) 項(xiàng) 目 。 直 流 耐 壓 測(cè) 試 參 數(shù) 設(shè) 定 項(xiàng) 目 依 序 為 : 電 壓 (Voltage) 、
電 流 上 限
(HI-Limit)、電流下限 (LO-Limit)、緩升時(shí)間 (Ramp time)、測(cè)試時(shí)間 (Dwell Time)、最低
充電電流 (Charge-LO)、緩衝電流 (Ramp-HI)、電弧靈敏度 (ARC Sense)、電弧偵測(cè)判
定模式 (ARC Fail)、掃瞄器 (Scanner)、電流歸零 (Offset)、步驟連結(jié) (Step Connect)。
4.2.2.1 直流輸出電壓設(shè)定
按 ∨ 鍵後，會(huì)進(jìn)入輸出電壓參數(shù)設(shè)定，而顯示器會(huì)顯示如下:
Voltage = XXXX V
Range : 0 - 6000
請(qǐng)用數(shù)字鍵輸入電壓數(shù)值，其單位為 1 Volt/step，然後再按 ENTER 鍵，將設(shè)定數(shù)值存入。
本分析儀會(huì)在存入電壓數(shù)值之後，自動(dòng)進(jìn)入下一個(gè)參數(shù)設(shè)定項(xiàng)目漏電電流上限設(shè)定。
4.2.2.2 漏電電流上限 (HI-Limit) 設(shè)定
在完成輸出電壓參數(shù)設(shè)定之後，顯示器會(huì)顯示如下:
HI-Limit = XXXX??A
Range : 0 - 9999
使用數(shù)字鍵輸入漏電電流上限值，其單位為 1??A/step，然後再按 ENTER 鍵，將設(shè)定數(shù)值
存入。本分析儀會(huì)在存入漏電電流上限值之後，自動(dòng)進(jìn)入下一個(gè)參數(shù)設(shè)定項(xiàng)目漏電電流下
限設(shè)定。
264.2.2.3 電流下限 (LO-Limit ) 設(shè)定
在完成漏電電流上限參數(shù)設(shè)定之後，顯示器會(huì)顯示如下:
LO-Limit = XXX.X??A
Range : 0.000-9.999
使用數(shù)字鍵輸入漏電電流下限值，其單位為 0.1??A/step，然後再按 ENTER 鍵，將設(shè)定數(shù)
值存入。本分析儀會(huì)在存入漏電電流下限值之後，自動(dòng)進(jìn)入下一個(gè)參數(shù)設(shè)定項(xiàng)目緩升時(shí)間
設(shè)定。
4.2.2.4 緩升時(shí)間設(shè)定
在完成漏電電流下限參數(shù)設(shè)定之後，顯示器會(huì)顯示如下:
Ramp Time = XXX.X s
Range : 0.1 - 999.9
使用數(shù)字鍵輸入緩升時(shí)間值，其單位為 0.1 sec/step，然後再按 ENTER 鍵，將設(shè)定數(shù)值
存入。本分析儀會(huì)在緩升時(shí)間值存入之後，自動(dòng)進(jìn)入下一個(gè)參數(shù)設(shè)定項(xiàng)目測(cè)試時(shí)間設(shè)定。
4.2.2.5 測(cè)試時(shí)間設(shè)定
在完成緩升時(shí)間參數(shù)設(shè)定之後，顯示器會(huì)顯示如下:
Dwell Time = XXX.Xs
Range : 0.4-999.9
使用數(shù)字鍵輸入測(cè)試時(shí)間值，其單位為 0.1 sec/step，然後再按 ENTER 鍵，將設(shè)定數(shù)值
存入。本分析儀會(huì)在測(cè)試時(shí)間值存入之後，自動(dòng)進(jìn)入下一個(gè)參數(shù)設(shè)定項(xiàng)目最低充電電流
(Charge-LO)。如果測(cè)試時(shí)間設(shè)定為 0 時(shí)，計(jì)時(shí)器會(huì)持續(xù)計(jì)數(shù)到最大數(shù)字，然後再由 0 開
始計(jì)數(shù)，本分析儀會(huì)持續(xù)進(jìn)行測(cè)試，除非按 Reset 開關(guān)或測(cè)試失敗，否則本分析儀不會(huì)停
止測(cè)試。 (註明:7420 和 7410 的輸出電流最大只能有 70%的 Duty Cycle，不能持續(xù)以滿
載的 10mADC 輸出。)
4.2.2.6 最低充電電流
在完成測(cè)試時(shí)間參數(shù)設(shè)定之後，顯示器會(huì)顯示如下:
Charge-LO = XXX.X?A
?TEST? to Auto Set
27最低充電電流功能是應(yīng)用於偵測(cè)測(cè)試線或測(cè)試治具的連接是否正常，以確保測(cè)試結(jié)果的正
確性。由於直流耐壓測(cè)試時(shí)漏電電流通常都非常小，所以很難以漏電電流的下限值作為判
定測(cè)試線或測(cè)試治具的連接是否正常的依據(jù)。然而被測(cè)物實(shí)際上都具有些許電容性
(Capacitive) 存在，因此可以利用偵測(cè)被測(cè)物的充電電流，作為檢測(cè)測(cè)試線或測(cè)試治具的
連接是否正常的依據(jù)。
7400 系列安規(guī)分析儀都可手動(dòng)或自動(dòng)設(shè)定最低充電電流數(shù)值。請(qǐng)用數(shù)字鍵輸入最低充電
電流數(shù)值，然後再按 ENTER 鍵存入最低充電電流的數(shù)值。本分析儀會(huì)在存入最低充電電
流值後，自動(dòng)進(jìn)入到緩衝電流 (Ramp-HI) 參數(shù)設(shè)定。最低充電電流的設(shè)定範(fàn)圍為
0.0-350.0?A ( 0.1?A/step )。
在進(jìn)行最低充電電流自動(dòng)設(shè)定時(shí)，請(qǐng)先將儀器和被測(cè)物與測(cè)線或治具接妥，並且確定所設(shè)
定的輸出電壓和緩升時(shí)間參數(shù)，與將來實(shí)際要做測(cè)試的數(shù)據(jù)完全一致。如果使用掃瞄器，
則掃瞄器的通道亦需依實(shí)際狀況設(shè)定，才能按 TEST 開關(guān)。本分析儀會(huì)依據(jù)每一記憶組內(nèi)
的每一個(gè)測(cè)試步驟中所設(shè)定的電壓，對(duì)每一個(gè)測(cè)試步驟分別做最低充電電流設(shè)定，並且分
別存入所設(shè)定的數(shù)值。
在按 TEST 開關(guān)後，本分析儀會(huì)自動(dòng)讀取被測(cè)物的充電電流，並將充電電流值大約設(shè)定在
讀取值的 1/2 左右，顯示器會(huì)顯示如下:
Charge-LO = XXX.X?A
?TEST? to Auto Set
顯示器上數(shù)值為充電電流的設(shè)定值，而非實(shí)際上的量測(cè)值。在最低充電電流設(shè)定完成後，
請(qǐng)按 ∨ 鍵，將設(shè)定轉(zhuǎn)入緩衝電流 (Ramp-Hi) 測(cè)試參數(shù)設(shè)定。
4.2.2.7 緩衝電流
在最低充電電流設(shè)定完成後，顯示器會(huì)顯示:
Ramp-HI = ON
?ENTER? to Select 或 Ramp-HI = OFF
?ENTER? to Select
請(qǐng)用 ENTER 鍵選擇緩衝電流 (Ramp-Hi) 測(cè)試參數(shù)設(shè)定為 ON 或 OFF，然後再按 ∨ 鍵，
程式會(huì)自動(dòng)將設(shè)定的模式存入記憶程式內(nèi)，並會(huì)自動(dòng)進(jìn)入到電弧靈敏度參數(shù)設(shè)定。
緩衝電流功能只針對(duì)在緩升時(shí)間中的充電電流做判定而已。其功能主要是為了避免因在直
流耐壓測(cè)試進(jìn)行時(shí)，某些被測(cè)物的充電電流值常常會(huì)高於漏電電流上限的設(shè)定值，而引起
誤判，進(jìn)而影響到漏電電流上限判定的正確性。
假如緩衝電流設(shè)定為 ON，在緩衝過程內(nèi)其上限電流可達(dá)到 12mA 左右，而設(shè)定為 OFF，
28掃瞄器通道之狀態(tài) 代表數(shù)字鍵 接線說明
H (High) 1 此通道為高壓輸出 (Hi-voltage)
L (Low) 0 此通道為測(cè)試回線 (Retun)
O (Open) ? 此通道為開路狀態(tài)
其上限電流則以所設(shè)定的漏電電流上限值為限。
4.2.2.8 電弧靈敏度 (Arc Sense) 設(shè)定及判定模式 (Arc Fail) 選擇
在完成緩衝電流參數(shù)設(shè)定之後，顯示器會(huì)顯示如下:
Arc Sense = 5
Range:1-9 9 = High
使用數(shù)字鍵輸入電弧靈敏度數(shù)值，計(jì)有 1 ~ 9 段，然後再按 ENTER 鍵，將設(shè)定數(shù)值存入。
本分析儀會(huì)在電弧靈敏度數(shù)值存入之後，自動(dòng)進(jìn)入下一個(gè)參數(shù)設(shè)定項(xiàng)目電弧偵測(cè)判定模式
設(shè)定。在完成電弧靈敏度參數(shù)設(shè)定之後，顯示器會(huì)顯示:
Arc Fail = O N
?ENTER? to Select
或 Arc Fail = O F F
?ENTER? to Select
如電弧偵測(cè)判定模式選擇為 ON，當(dāng)電弧的電流超過靈敏度的設(shè)定值時(shí)，本分析儀的顯示
器會(huì)顯示 Arc Fail，同時(shí)立即停止測(cè)試而面板上的 ARC 指示燈會(huì)亮以及蜂鳴器會(huì)發(fā)出警報(bào)
聲音。
如電弧偵測(cè)判定模式選擇為 OFF，當(dāng)電弧的電流超過靈敏度設(shè)定值時(shí)，本分析儀的顯示器
不會(huì)顯示 Arc Fail，本分析儀不會(huì)停止測(cè)試，但是面板上的 ARC 指示燈仍然會(huì)亮，蜂鳴器
也不會(huì)發(fā)出警報(bào)聲音。請(qǐng)用 ENTER 鍵選擇電弧偵測(cè)判定模式為 ON 或 OFF。再按 ∨ 鍵，
程式會(huì)自動(dòng)將設(shè)定的模式存入記憶程式內(nèi)，並進(jìn)入矩陣式掃瞄器設(shè)定。
4.2.2.9 掃瞄器通道設(shè)定
在完成電弧偵測(cè)判定參數(shù)設(shè)定之後，顯示器會(huì)顯示如下:
Scanner Set CH = 1 – 16
XXXXXXXXXXXXXXX 註明: X = H、O 或 L
如果未裝置掃瞄器，可以按 ∨ 鍵直接跳過此設(shè)定項(xiàng)目。請(qǐng)用數(shù)字鍵輸入掃瞄器各通道之
狀態(tài)設(shè)定為 High、Open 或 Low，然後再按 ENTER 鍵，將設(shè)定數(shù)值存入。本分析儀會(huì)在
掃瞄器通道狀態(tài)設(shè)定存入之後，自動(dòng)進(jìn)入下一個(gè)參數(shù)設(shè)定項(xiàng)目測(cè)線漏電電流歸零 (Offset)。
下列表格為掃瞄器通道設(shè)定及數(shù)字鍵使用之對(duì)照表。
29在顯示器左下角的通道為 Channel 1，而右下角的則為 Channel 16。 本分析儀會(huì)在按
ENTER 鍵，進(jìn)入電流歸零 (Offset) 設(shè)定之後，將掃瞄器未指定狀態(tài)的各通道設(shè)定為開路
狀態(tài) (Open)。掃瞄器狀態(tài) LED 指示器會(huì)依照所設(shè)定的狀態(tài)指示，紅色為 High，黃綠色為
Low，不亮燈為 Open。 如果交流耐壓測(cè)試的測(cè)試通道 (Channel) 超過 8 個(gè)點(diǎn)，必須外
接掃瞄器，當(dāng)設(shè)定 Channel 9 ~16 之狀態(tài)後，外接掃瞄器的指示燈就會(huì)顯示每個(gè)通道的設(shè)
定狀態(tài)。
如要設(shè)定Channel 1 及 5 為High，而Channel 3、6 和 7 為Low時(shí)，請(qǐng)依序按數(shù)字鍵的
1、·、0、·、1、0、0、·，而面板上的顯示器會(huì)顯示: H O L O H L L O
4.2.2.10 測(cè)線漏電電流歸零 (Offset) 設(shè)定
在完成掃瞄器狀態(tài)參數(shù)設(shè)定之後，顯示器會(huì)顯示如下:
Offset = X.X??A
<Test> to Auto Set
可以使用數(shù)字鍵輸入已知的測(cè)線及治具的漏電電流值，讓漏電電流歸零，或直接按 Test
鍵，讓本分析儀自動(dòng)量測(cè)測(cè)線及治具的漏電電流值並做歸零動(dòng)作，此時(shí)必須先將被測(cè)物的
測(cè)線取下。
4.2.2.11 步驟連結(jié)設(shè)定
在完成電流歸零參數(shù)設(shè)定之後，顯示器會(huì)顯示:
Connect = O N
?ENTER? to Select 或
Connect = O F F
?ENTER? to Select
如步驟連結(jié)設(shè)定為ON時(shí)，在本步驟測(cè)試完成後，會(huì)自動(dòng)連結(jié)到下一個(gè)步驟繼續(xù)進(jìn)行測(cè)試。
如果設(shè)為OFF時(shí)，在本步驟測(cè)試完成後，則會(huì)立即停止測(cè)試，不會(huì)接續(xù)到下一個(gè)測(cè)試步驟。
請(qǐng)用ENTER鍵選擇步驟連結(jié)為ON或OFF，然後再按 ∨ 鍵，程式會(huì)自動(dòng)將設(shè)定的模式存
入記憶程式內(nèi)，顯示器會(huì)回到顯示輸出電壓設(shè)定。請(qǐng)按EXIT鍵退出參數(shù)設(shè)定模式，本分析
儀即可進(jìn)行直流耐壓測(cè)試。
註明 : 如果步驟 8 的步驟連結(jié)被設(shè)定為 ON 時(shí)，測(cè)試程式記憶組會(huì)被連結(jié)到下一組測(cè)試程
式記憶組繼續(xù)進(jìn)行下一個(gè)步驟的測(cè)試。
4.2.3絕緣電阻測(cè)試鍵
在按 INSULATION 鍵後，則進(jìn)入絕緣電阻測(cè)試參數(shù)設(shè)定模式，顯示器即顯示如下:
IR Set XXX.X s
MXX-X
30
XXXX V 註明: X 為數(shù)字 0~9IR Set
XXX.X s
MXX
-X
XXXX V
XXXX M?
:
:
:
:
:
:
絕緣電阻測(cè)試設(shè)定
判定延遲時(shí)間設(shè)定 (單位 0.1 sec/step)
記憶組 (Memory 1~50)
測(cè)試步驟 (Test Step 1~8)
輸出電壓設(shè)定
絕緣電阻測(cè)試下限值 (LO-Limit)
使用 ∧ 或 ∨ 鍵作為選擇參數(shù)項(xiàng)目的操作鍵。絕緣電阻測(cè)試參數(shù)設(shè)定項(xiàng)目依序?yàn)?: 電壓
(Voltage) 、 最 低 充 電 流 (Charge-LO) 、 絕 緣 電 阻 上 限 (HI-Limit) 、 絕 緣 電 阻 下
限
(LO-Limit)、判定延遲時(shí)間 (Delay time)、掃瞄器 (Scanner)、步驟連結(jié) (Step Connect)。
4.2.3.1 輸出電壓設(shè)定
按 ∨ 鍵後，會(huì)進(jìn)入輸出電壓參數(shù)設(shè)定，而顯示器會(huì)顯示如下:
Voltage = XXXX V
Range : 100 - 1000
請(qǐng)用數(shù)字鍵輸入電壓數(shù)值 (其單位為 1 Volt/step)，然後再按 ENTER 鍵，將設(shè)定數(shù)值存入。
4.2.3.2 最低充電電流設(shè)定
按 ∨ 鍵至出現(xiàn)最低充電電流參數(shù)設(shè)定之後，顯示器會(huì)顯示如下:
Charge-LO = X.XXX??A
?TEST? to Auto Set
可手動(dòng)或自動(dòng)設(shè)定最低充電電流數(shù)值。請(qǐng)用數(shù)字鍵輸入最低充電電流數(shù)值，然後再按
ENTER 鍵存入最低充電電流的數(shù)值。在按 TEST 開關(guān)後，本分析儀會(huì)自動(dòng)讀取被測(cè)物的
充電電流，並將充電電流值大約設(shè)定在讀取值的 1/2 左右，顯示器會(huì)顯示如下:
Charge-LO = X.XXX??A
?TEST? to Auto Set
最低充電電流功能是應(yīng)用於偵測(cè)測(cè)試線或測(cè)試治具的連接是否正常，以確保測(cè)試結(jié)果的正
確性。由於直流耐壓測(cè)試時(shí)漏電電流通常都非常小，所以很難以漏電電流的下限值作為判
定測(cè)試線或測(cè)試治具的連接是否正常的依據(jù)。然而被測(cè)物實(shí)際上都具有些許電容性
(Capacitive)存在，因此可以利用偵測(cè)被測(cè)物的充電電流，作為檢測(cè)測(cè)試線或測(cè)試治具的連
接是否正常的依據(jù)。
314.2.3.3 絕緣電阻上限設(shè)定
按 ∨ 鍵至出現(xiàn)絕緣電阻上限參數(shù)設(shè)定之後，顯示器會(huì)顯示如下:
HI-Limit = XXXX M?
Range : 0 - 9999 0 = 使用數(shù)字鍵輸入絕緣電阻上限值 (其單位為 1 M?/step)，然後再按 ENTER 鍵，將設(shè)定數(shù)
值存入。如不作絕緣電阻上限判定，必須將這項(xiàng)功能的參數(shù)設(shè)定為 0。
4.2.3.4 絕緣電阻下限設(shè)定
按 ∨ 鍵至出現(xiàn)絕緣電阻下限參數(shù)設(shè)定之後，顯示器會(huì)顯示如下:
LO-Limit = XXXX M?
Range : 1 - 9999
使用數(shù)字鍵輸入絕緣電阻下限值 (單位為 1M?/step)，然後再按 ENTER 鍵，將設(shè)定數(shù)值
存入。
4.2.3.5 判定延遲時(shí)間設(shè)定
按 ∨ 鍵至出現(xiàn)判定延遲時(shí)間參數(shù)設(shè)定之後，顯示器會(huì)顯示如下:
Delay Time = XXX.X s
Range:0.5-999.9
使用數(shù)字鍵輸入判定延遲時(shí)間值 (單位為 0.1sec/step)，然後再按 ENTER 鍵，將設(shè)定數(shù)值
存入。判定延遲時(shí)間設(shè)定是作為本分析儀在執(zhí)行絕緣電阻上、下限判定的時(shí)間依據(jù)，因?yàn)?br /> 被測(cè)物大多數(shù)都具有電容性 (Capacitive) 而產(chǎn)生很大的充電電流，判定延遲時(shí)間可以讓本
分析儀在充電電流穩(wěn)定之後，才做判定。判定延遲的時(shí)間必須依據(jù)被測(cè)物的電容性大小和
絕緣電阻所需要的精確度，作為設(shè)定的參考和依據(jù)。
4.2.3.6 掃瞄器通道設(shè)定
按 ∨ 鍵至出現(xiàn)掃瞄器通道參數(shù)設(shè)定之後，顯示器會(huì)顯示如下:
Scanner Set CH = 1–16
XXXXXXXXXXXXXXX 註明: X = H、O 或 L
如果未裝置掃瞄器，可以按 ∨ 鍵直接跳過此設(shè)定項(xiàng)目。如果有裝置掃瞄器，請(qǐng)用數(shù)字鍵輸
入掃瞄器各通道之狀態(tài)設(shè)定為 High、Open 或 Low，然後再按 ENTER 鍵，將設(shè)定數(shù)值存
入。
32掃瞄器通道之狀態(tài) 設(shè)定數(shù)字鍵 接線說明
H (High) 1 此通道為高壓輸出(Hi-voltage)
L (Low) 0 此通道為測(cè)試回線(Retun)
O (Open) ? 此通道為開路狀態(tài)
下列表格為掃瞄器通道設(shè)定及數(shù)字鍵使用之對(duì)照表 :
在顯示器左下角的通道為Channel 1，而右下角的則為Channel 16。本分析儀會(huì)在按
ENTER 鍵，進(jìn)入電流歸零 (Offset) 設(shè)定之後，將掃瞄器未指定狀態(tài)的各通道設(shè)定為開路
狀態(tài) (Open)。掃瞄器狀態(tài)LED指示器會(huì)依照所設(shè)定的狀態(tài)指示，紅色為High，黃綠色為
Low，不亮燈為Open。
4.2.3.7 步驟連結(jié)設(shè)定
在完成掃瞄器通道參數(shù)設(shè)定之後，顯示器會(huì)顯示:
Connect = O N Connect = O F F
?ENTER? to Select 或 ?ENTER? to Select
如步驟連結(jié)設(shè)定為ON，在本步驟測(cè)試完成後，會(huì)自動(dòng)連結(jié)到下一個(gè)步驟繼續(xù)進(jìn)行測(cè)試。
如果設(shè)為OFF，在本步驟測(cè)試完成後，則會(huì)立即停止測(cè)試，不會(huì)接續(xù)到下一個(gè)測(cè)試步驟。
請(qǐng)用 ENTER 鍵選擇步驟連結(jié)為 ON 或 OFF，然後再按 ∨ 鍵，程式會(huì)自動(dòng)將設(shè)定的模式
存入記憶程式內(nèi)，顯示器會(huì)回到顯示輸出電壓設(shè)定。
這是絕緣電阻測(cè)試參數(shù)設(shè)定的最後一項(xiàng)，使用 ∧ 或 ∨ 檢視設(shè)定的參數(shù)是否正確，如有錯(cuò)
誤，依程序進(jìn)行修正錯(cuò)誤部份即可。請(qǐng)按 EXIT 鍵退出參數(shù)設(shè)定模式，本分析儀即可進(jìn)行
絕緣電阻測(cè)試。如果步驟 8 的步驟連結(jié)被設(shè)定為 ON 時(shí)，測(cè)試程式記憶組會(huì)被連結(jié)到下一
組測(cè)試程式記憶組繼續(xù)進(jìn)行下一個(gè)步驟的測(cè)試。
4.2.4 接地電阻測(cè)試鍵 (僅7440機(jī)型具有此項(xiàng)功能)
在按 GROUNDING 鍵後，會(huì)進(jìn)入接地電阻測(cè)試參數(shù)設(shè)定模式，顯示器即顯示如下:
GND Set XXX.X s
MXX-X XX.XX A XXX 註明: X=數(shù)字 0-9
GND Set
XXX.X s
: 接地電阻測(cè)試設(shè)定
: 測(cè)試時(shí)間設(shè)定 (單位 0.1 sec/step)
MXX
-X
XX.XX A
XXX m?
:
:
:
:
記憶組 (Memory 1~50)
測(cè)試步驟 (Test Step 1~8)
輸出電流設(shè)定 (單位 0.01A/step)
接地電阻設(shè)定 (單位 1 m?/step)
33使用 ∧ 或 ∨ 鍵作為選擇參數(shù)項(xiàng)目的操作鍵。參數(shù)設(shè)定項(xiàng)目依序?yàn)? 電流、電壓、接地電
阻上限、接地電阻下限、測(cè)試時(shí)間、輸出頻率、掃瞄器、測(cè)線電阻歸零、步驟連結(jié)。
4.2.4.1 輸出電流設(shè)定
按 ∨ 鍵後，會(huì)進(jìn)入輸出電流參數(shù)設(shè)定，而顯示器會(huì)顯示如下:
Current = XX.XX A
Range : 3.00 - 30.00
請(qǐng)用數(shù)字鍵輸入電流數(shù)值 (單位為 0.01 A/step)，然後再按 ENTER 鍵，將設(shè)定數(shù)值存入。
4.2.4.2 輸出電壓設(shè)定
按 ∨ 鍵後，會(huì)進(jìn)入輸出電壓參數(shù)設(shè)定，而顯示器會(huì)顯示如下:
Voltage = X.XX V
Range : 3.00 - 8.00
請(qǐng)用數(shù)字鍵輸入電壓數(shù)值 (單位為 0.01 V/step)，然後再按 ENTER 鍵，將設(shè)定數(shù)值存入。
本分析儀為交流恆流輸出電源，所設(shè)定的輸出電壓為開路時(shí)量測(cè)的電壓，並非在測(cè)試進(jìn)行
中所量測(cè)到的工作電壓。
註明：輸出電壓設(shè)定主要在限制輸出開路的最大電壓，也就是設(shè)定在定電壓模式下的輸出
電壓，而量測(cè)接地阻抗時(shí)為定電流模式，為確保滿足定電流模式下的所有量程規(guī)格，輸出
電壓請(qǐng)?jiān)O(shè)定在 8V。
4.2.4.3 接地電阻上限設(shè)定 (HI-Limit)
在完成接地電阻上限參數(shù)設(shè)定之後，顯示器會(huì)顯示下:
HI-Limit = XXX m?
Range : 0 - 600
使用數(shù)字鍵輸入接地電阻上限值 (單位為 1m?/step)，然後再按 ENTER 鍵，將設(shè)定數(shù)值
存入。
4.2.4.4 接地電阻下限設(shè)定 (LO-Limit)
在完成接地電阻下限參數(shù)設(shè)定之後，顯示器會(huì)顯示如下:
LO-Limit = XXX m?
Range : 0 - 600 0 = OFF
使用數(shù)字鍵輸入接地電阻下限值 (單位為 1m?/step)，然後再按 ENTER 鍵，將設(shè)定數(shù)值
34存入。如不做接地電阻下限判定，必須將這項(xiàng)功能的參數(shù)設(shè)定為 0。
4.2.4.5 測(cè)試時(shí)間設(shè)定
在完成測(cè)試時(shí)間設(shè)定之後，顯示器會(huì)顯示如下:
Dwell Time = XXX.X s
Range:0.5-999.9
使用數(shù)字鍵輸入測(cè)試時(shí)間值 (單位為 0.1 sec/step)，然後再按 ENTER 鍵，將設(shè)定數(shù)值存
入。如測(cè)試時(shí)間設(shè)定為 0 時(shí)，計(jì)時(shí)器會(huì)持續(xù)計(jì)數(shù)到最大數(shù)字持續(xù)進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試中除非按
Reset 開關(guān)或測(cè)試失敗，否則本分析儀不會(huì)停止測(cè)試。
4.2.4.6 輸出頻率設(shè)定
在完成測(cè)試時(shí)間參數(shù)設(shè)定之後，顯示器會(huì)顯示:
Frequency = 60 Hz
?ENTER? to Select
或 Frequency = 50 Hz
?ENTER? to Select
請(qǐng)用 ENTER 鍵選擇輸出頻率為 50 或 60 Hz。
4.2.4.7 掃瞄器通道設(shè)定
在完成輸出頻率參數(shù)設(shè)定之後，顯示器會(huì)顯示如下，如果未裝置掃瞄器，可以按 ∨ 鍵直接
跳過此設(shè)定項(xiàng)目。
Scanner CH = X
Range : 1 - 16 0 = OFF
請(qǐng)用數(shù)字鍵輸入要在從何通道輸出電流，進(jìn)行接地電阻測(cè)試，然後再按 ENTER 鍵，將設(shè)
定數(shù)值存入。
掃瞄器的接地電阻測(cè)試通道為 1 ~ 16，共有 16 個(gè)測(cè)試通道可以設(shè)定，每一個(gè)測(cè)試步驟只
能選擇一個(gè)測(cè)試通道。本分析儀只能內(nèi)含 8 個(gè)測(cè)試通道和 8 個(gè)測(cè)試通道的指示燈，那一個(gè)
指示燈亮燈，即表示測(cè)試電流經(jīng)由那個(gè)測(cè)試通道進(jìn)行測(cè)試。如須超過 8 個(gè)測(cè)試通道，必須
另外安裝外接掃瞄器，第 9 - 16 測(cè)試通道的指示燈會(huì)亮在外接掃瞄器的面板上。
註明 : 如果外接掃瞄器的電流是經(jīng)由前面板上的電流(Current)輸出端子，為了測(cè)試的準(zhǔn)確
度問題，測(cè)試通道必須設(shè)定為“0”。
4.2.4.8 測(cè)線電阻歸零設(shè)定 (Offset)
在完成掃瞄器狀態(tài)參數(shù)設(shè)定之後，顯示器會(huì)顯示如下:
35Offset = XXX m?
<Test> to Auto Set
本分析儀測(cè)線和治具的電阻可以用手動(dòng)和自動(dòng)輸入兩種方式，如以手動(dòng)的輸入方式，可以
使用數(shù)字鍵輸入已知的測(cè)線及治具的電阻值，讓測(cè)線和治具上的電阻存入程式內(nèi)，作為歸
零的依據(jù) (單位為 1m?/step)，測(cè)線和治具電阻歸零的範(fàn)圍為 0 ~ 200m?。
如果使用自動(dòng)電阻歸零程式，必須先將所要測(cè)試的輸出電壓、電流和頻率的測(cè)試參數(shù)設(shè)定
妥當(dāng)，並且將測(cè)線或治具以及治具上的測(cè)線接到本分析儀上，然後將測(cè)線最後端短路，最
後再按 Test 開關(guān)，本分析儀會(huì)依照記憶組內(nèi)，步驟程式中所設(shè)定的電流和頻率進(jìn)行歸零的
動(dòng)作，此時(shí)顯示器會(huì)顯示如下:
Offset = XXX m?
<Test> to Auto Set
顯示器上所顯示的電阻歸零數(shù)值為實(shí)際的量測(cè)值，程式會(huì)將數(shù)值存入程式內(nèi)，並依據(jù)此數(shù)
值作為電阻歸零的依據(jù)。每一個(gè)測(cè)試步驟都具有各別的電阻歸零數(shù)值，所以必須對(duì)每一個(gè)
測(cè)試步驟都分別作電阻歸零設(shè)定，這樣可以給予掃瞄器上不同長度的測(cè)線，具有不同的補(bǔ)
償數(shù)值或給予各種外接治具不同的補(bǔ)償。在電阻歸零設(shè)定完成後，請(qǐng)按∨鍵，將進(jìn)入步驟連
接測(cè)試參數(shù)設(shè)定。
4.2.4.9 記憶步驟連結(jié)設(shè)定
在完成電阻歸零參數(shù)設(shè)定之後，顯示器會(huì)顯示:
Connect = O N
?ENTER? to Select
或 Connect = O F F
?ENTER? to Select
如步驟連結(jié)設(shè)定為 ON，在本步驟測(cè)試完成後，會(huì)自動(dòng)連結(jié)到下一個(gè)步驟繼續(xù)進(jìn)行測(cè)試。
如設(shè)為 OFF，在本步驟測(cè)試完成後，則會(huì)立即停止測(cè)試，不會(huì)接續(xù)到下一個(gè)測(cè)試步驟。請(qǐng)
用 ENTER 鍵選擇步驟連結(jié)為 ON 或 OFF，然後再按∨ 鍵，程式會(huì)自動(dòng)將設(shè)定的模式存入
記憶程式內(nèi)，顯示器會(huì)回到顯示輸出電流設(shè)定。
這是接地電阻測(cè)試參數(shù)設(shè)定的最後一項(xiàng)，使用 ∧ 或 ∨ 鍵檢視設(shè)定的參數(shù)是否正確，如有
錯(cuò)誤，依程序進(jìn)行修正錯(cuò)誤部份即可。 請(qǐng)按 EXIT 鍵退出參數(shù)設(shè)定模式，本分析儀即可進(jìn)
行接地電阻測(cè)試。
註明:如果步驟 8 的步驟連結(jié)被設(shè)定為 ON 時(shí)，測(cè)試程式記憶組會(huì)被連結(jié)到下一組測(cè)試程
式記憶組繼續(xù)進(jìn)行下一個(gè)步驟的測(cè)試。
364.3 一般參數(shù)設(shè)定選擇鍵
使用 SETUP 鍵作為選擇一般參數(shù)項(xiàng)目的操作鍵。按一下 SETUP 鍵，會(huì)順向轉(zhuǎn)動(dòng)一個(gè)參
數(shù)項(xiàng)目，依序?yàn)?PLC 遙控 (PLC Remote)、GPIB 位址 (GPIB Address)、警報(bào)音量
(Volume)、接地電阻測(cè)試的電阻/電壓錶 (GND Meter)、測(cè)試失敗停止 (Fail Stop)、防高
壓觸電功能 (Smart GFI)、自動(dòng)列印 (AUTO Print)、列印方式(Print Mode)、列印編號(hào)
(Print Code Number)，JigA/B 自動(dòng)交換高壓測(cè)試(JA/JB)轉(zhuǎn)動(dòng)到最後一項(xiàng)後，會(huì)再轉(zhuǎn)到第
一項(xiàng)從新開始。
這些儀器的系統(tǒng)參數(shù)為測(cè)試時(shí)在儀器上的一般設(shè)定條件，與儀器測(cè)試的功能參數(shù)並無任何
關(guān)聯(lián)，這些系統(tǒng)參數(shù)設(shè)定的儲(chǔ)存的位置，也與功能參數(shù)完全分開。
4.3.1 PLC 遙控
請(qǐng)按 SETUP 鍵，顯示器會(huì)顯示:
PLC Remote = ON
?ENTER? to Select
或 PLC Remote = OFF
?ENTER? to Select
請(qǐng)使用 ENTER 鍵，選擇 PLC 遙控的模式為 ON 或 OFF。
如 PLC 遙控設(shè)定為 ON，本分析儀的測(cè)試啟動(dòng)功能必須經(jīng)由儀器背板的遙控端子控制，面
板上的 TEST 開關(guān)不會(huì)起作用，而 RESET 開關(guān)仍然維持可以操作，不受任何影響。如 PLC
遙控設(shè)定為 OFF，本分析儀的測(cè)試操作功能完全由面板上的 TEST 開關(guān)和 RESET 開關(guān)操
作，但是背板上的遙控 RESET 仍然有效。
背板上記憶組的遙控呼叫功能是隨著 PLC 遙控而設(shè)定，PLC 遙控必須被設(shè)定為 ON 時(shí)，
才能由背板上的記憶組遙控端子呼叫記憶組程式。另外不管本分析儀是在 GPIB 或 RS232
的介面控制之下，只要 PLC 遙控被設(shè)定為 ON，背板上的記憶組遙控端子都能呼叫記憶組
程式。在 PLC 遙控模式設(shè)定完成後，請(qǐng)?jiān)侔?SETUP 鍵，如果本分析儀已經(jīng)安裝好 GPIB
介面卡，程式會(huì)自動(dòng)進(jìn)入 GPIB 位址設(shè)定模式，如未安裝 GPIB 介面卡，程式會(huì)自動(dòng)轉(zhuǎn)入
反襯度設(shè)定模式，同時(shí)程式會(huì)自動(dòng)將所設(shè)定的 PLC 遙控模式存入記憶程式內(nèi)。
4.3.2 GPIB 地址設(shè)定
如本分析儀未安裝 GPIB 介面卡，程式不會(huì)出現(xiàn)這個(gè)設(shè)定模式，顯示器也不會(huì)顯示這個(gè)畫
面。
Address = XX
Range : 0 - 30
在 PLC 遙控模式設(shè)定完成和按 SETUP 鍵後，顯示器會(huì)
顯示如下:
37請(qǐng)用數(shù)字鍵輸入 GPIB 的位址 0 ~ 30，然後再按 ENTER 鍵，顯示器會(huì)立即出現(xiàn)設(shè)定的位
址數(shù)字。
在 GPIB 位址設(shè)定完成後，請(qǐng)?jiān)侔?SETUP 鍵，程式會(huì)自動(dòng)進(jìn)入反襯度設(shè)定模式，同時(shí)程
式會(huì)自動(dòng)將所設(shè)定的 GPIB 位址的數(shù)字存入記憶程式內(nèi)。
4.3.3 警報(bào)音量設(shè)定
在 PLC 遙控設(shè)定完成和按 SETUP 鍵後，顯示器會(huì)顯示如下:
Volume = X
Range:0-9 0=OFF 9=High
警報(bào)音量的設(shè)定為 0 ~ 9，0 是作為關(guān)閉警報(bào)聲音之用，1 的音量最小，而 9 為最大。請(qǐng)用
數(shù)字鍵輸入警報(bào)音量的數(shù)字，然後再按 ENTER 鍵，程式會(huì)立即改變警報(bào)音量的設(shè)定，並
發(fā)出設(shè)定之音量。在警報(bào)音量設(shè)定完成後，請(qǐng)?jiān)侔?SETUP 鍵，程式會(huì)自動(dòng)進(jìn)入接地電阻
測(cè)試的電阻錶和電壓錶的選擇模式，同時(shí)程式會(huì)自動(dòng)將所設(shè)定的警報(bào)音量數(shù)字存入記憶程
式內(nèi)。
4.3.4 接地電阻測(cè)試的電阻/電壓錶(GND Meter)選擇
在警報(bào)音量設(shè)定完成和按 SETUP 鍵後，顯示器會(huì)顯示:
GND Meter = m?
?ENTER? to Select
或 GND Meter =
?ENTER? to Select
Volt
請(qǐng)用 ENTER 鍵選擇接地電阻測(cè)時(shí)的輸出電錶要設(shè)定為“電阻錶”或“電壓錶”。如接地電阻測(cè)
時(shí)的輸出電錶被選擇為“電壓錶”時(shí)，程式將不會(huì)對(duì)接地電阻測(cè)試電阻值的上限和下限做出
測(cè)試通過或失敗的判定，只能顯示測(cè)試時(shí)接地點(diǎn)的電壓值。
在接地電阻測(cè)時(shí)的輸出電錶設(shè)定完成後，請(qǐng)?jiān)侔?SETUP 鍵，程式會(huì)自動(dòng)進(jìn)入測(cè)試失敗停
止的選擇模式，同時(shí)程式會(huì)自動(dòng)將所設(shè)定的接地電阻測(cè)時(shí)的輸出電錶設(shè)定參數(shù)存入記憶程
式內(nèi)。
4.3.5測(cè)試失敗停止模式設(shè)定 (Fail Stop)
在接地電阻測(cè)時(shí)的輸出電錶設(shè)定完成和按 SETUP 鍵後，顯示器會(huì)顯示:
Fail Stop = ON Fail Stop = OFF
?ENTER? to Select 或 ?ENTER? to Select
請(qǐng)用 ENTER 鍵選擇測(cè)試失敗停止的模式為 ON 或 OFF。這個(gè)功能主要用於多個(gè)測(cè)試步驟
被連接成為一個(gè)測(cè)試程序組合。假如測(cè)試失敗停止模式設(shè)定為 ON，測(cè)試程序會(huì)在被測(cè)物
測(cè)試失敗的步驟中停止繼續(xù)測(cè)試。如果尚有未完成的測(cè)試步驟，擬繼續(xù)完成測(cè)試，可以再
38按 TEST 開關(guān)，測(cè)試程序會(huì)往前繼續(xù)執(zhí)行。如果先按 RESET 開關(guān)，然後再按 TEST 開關(guān)，
測(cè)試程序會(huì)回到從第一個(gè)步驟，重新開始測(cè)試。
如測(cè)試失敗停止模式設(shè)定為 OFF，無論被測(cè)物在測(cè)試程序的步驟中是否失敗，本分析儀的
程式會(huì)繼續(xù)往前測(cè)試，一直到整個(gè)測(cè)試程式完成為止。在測(cè)試程序完成後，顯示會(huì)將整串
測(cè)試程序中的每個(gè)步驟的測(cè)試結(jié)果顯示出來，以下為顯示器的畫面︰
Test P F P F P F P F P F P F P F P F
Step 1 2 3 4 5 6 7 8 1 2 3 4 5 6 7 8
First Memory Program Second Memory Program
測(cè)試通過或失敗使用英文字做代表，P (Pass) 為通過測(cè)試，而 F (Fail) 則為測(cè)試失敗。第
一記憶組的通過或失敗狀態(tài)顯示於顯示器的左邊，而第二記憶組的通過或失敗狀態(tài)顯示於
顯示器的右邊。顯示器最多只能夠顯示 16 個(gè)測(cè)試步驟，而記憶組最多也只能夠儲(chǔ)存 16 個(gè)
測(cè)試步驟的通過或失敗狀態(tài)。如果測(cè)試程序超過 16 個(gè)測(cè)試步驟，超過的部份不但無法在
顯示器上顯示出來，同時(shí)也無法從記憶程式叫出測(cè)試記錄。果需要檢視各測(cè)試步驟測(cè)試結(jié)
果的內(nèi)容，可以按 ENTER / REVIEW 鍵檢視測(cè)試結(jié)果的內(nèi)容，最多只能夠檢視最前 8 個(gè)
測(cè)試步驟測(cè)試結(jié)果的內(nèi)容。
在測(cè)試失敗停止的設(shè)定完成後，請(qǐng)?jiān)侔?SETUP 鍵，如果本分析儀安裝有列印介面卡，則
程式會(huì)自動(dòng)進(jìn)入自動(dòng)列印 (AUTO Print) 的選擇模式。
如果未安裝有列印介面卡，程式會(huì)自動(dòng)回到最初的 PLC 遙控設(shè)定模式。或是直接按 EXIT
鍵，離開一般參數(shù)設(shè)定模式而進(jìn)入待測(cè)試模式，程式會(huì)自動(dòng)將所設(shè)定的測(cè)試失敗停止模式
存入記憶程式內(nèi)。
註明 : 如果本分析儀安裝有列印介面卡，程式才會(huì)進(jìn)入以下列印參數(shù)的設(shè)定程式。
4.3.6 防高壓觸電功能設(shè)定(Smart GFI)
在測(cè)試失敗停止模式設(shè)定完成和按 SETUP 鍵後，顯示器會(huì)顯示:
Smart GFI = ON Smart GFI = OFF
?ENTER? to Select 或 ?ENTER? to Select
請(qǐng)用 ENTER 鍵選擇防高壓觸電功能的模式為 ON 或 OFF。這個(gè)功能主要用於防止操作員
有可能接觸高壓電路而造成觸電現(xiàn)象所設(shè)計(jì)的保護(hù)裝置，直接量測(cè)地線的電流，如此將可
避免因地位置擺錯(cuò)造成錯(cuò)誤的判斷及誤動(dòng)作。
如 Smart GFI 設(shè)定為 ON，會(huì)自動(dòng)偵測(cè)此為高壓對(duì) Return 或高壓對(duì)地的線路，若是為高
壓對(duì)地的線路，且偵測(cè)高壓對(duì)地流過的電流 >450µA 時(shí) GFI 會(huì)動(dòng)作，並會(huì)在 1mS 內(nèi)切斷
輸出停止測(cè)試。 如 Smart GFI 設(shè)定為 OFF，則無此功能，但仍可進(jìn)行測(cè)試
394.3.7 自動(dòng)列印(AUTO Print)設(shè)定
在防高壓觸電功能設(shè)定完成和按 SETUP 鍵後，顯示器會(huì)顯示:
AUTO Print = ON AUTO Print = OFF
?ENTER? to Select 或 ?ENTER? to Select
請(qǐng)用 ENTER 鍵選擇自動(dòng)列印的模式為 ON 或 OFF。如果自動(dòng)列印模式被選擇為“ON”時(shí)，
在按 TEST 開關(guān)後會(huì)立即印出“列印編號(hào)(Print Code Number)”，然後在每一個(gè)步驟測(cè)試完
成後，自動(dòng)將顯示器上的最後一個(gè)劃面列印出來。如果設(shè)定有步驟連接測(cè)試時(shí)，在整個(gè)步
驟連接測(cè)試過程中，不會(huì)再重新列印編號(hào)，必須為重新再按 TEST 開關(guān)而重新開始另一個(gè)
新的測(cè)試，才會(huì)列印新的列印編號(hào)。列印的編號(hào)為連續(xù)式編號(hào)，每按一次 TEST 自動(dòng)往前
增加“1”，例如目前的編號(hào)為 0001，按 TEST 後會(huì)變成 0002。
如果自動(dòng)列印模式被選擇為 OFF 時(shí)，列印模式則被選擇為手動(dòng)列印方式，在測(cè)試的過程
中或測(cè)試完成後隨時(shí)都可以使用 EXIT / PRINT 鍵將顯示器上的劃面列印出來，但是不能
執(zhí)行下一個(gè)步驟的列印方式(Print Mode)功能。在自動(dòng)列印的模式設(shè)定完成後，請(qǐng)?jiān)侔?br /> SETUP 鍵，程式會(huì)自動(dòng)進(jìn)入列印方式的選擇模式。
4.3.8列印方式(Print Mode)選擇
在自動(dòng)列印模式設(shè)定完成和按 SETUP 鍵後，顯示器會(huì)顯示:
Print Mode = All
?ENTER? to Select
或 Print Mode = Fail
?ENTER? to Select
請(qǐng)用 ENTER 鍵選擇列印方式的模式為 ALL 或 FAIL。
如果列印方式被選擇為“ALL”時(shí)，程式會(huì)自動(dòng)將每一個(gè)測(cè)試步驟的最後一個(gè)結(jié)果的劃面列
印出來，包含測(cè)試通過和測(cè)試失敗的結(jié)果在內(nèi)。如果列印方式被選擇為“FAIL”時(shí)，程式只
會(huì)自動(dòng)將每一個(gè)測(cè)試失敗步驟的劃面列印出來，不會(huì)列印測(cè)試通過的劃面。在列印方式的
模式設(shè)定完成後，請(qǐng)?jiān)侔?ldquo;SETUP”鍵，程式會(huì)自動(dòng)進(jìn)入列印編號(hào)(Print Code Number)的設(shè)
定模式。
4.3.9列印編號(hào)(Print Code Number)設(shè)定
在列印方式的模式設(shè)定完成和按 SETUP 鍵，顯示器會(huì)顯示如下:
Print NO. = 0
Range : 0 - 9999
列印編號(hào)的設(shè)定為 0 ~ 999，編號(hào)為連續(xù)式編號(hào)，每按一次 TEST 自動(dòng)往前增加“1”，例如
40目前的編號(hào)為 0001，按 TEST 後會(huì)變成 0002，編號(hào)增加到“9999”後，會(huì)再從“0”開始編起，
如果關(guān)閉輸入電源則會(huì)自動(dòng)歸“0”。本分析儀的列印編號(hào)可以隨時(shí)被修改起始編號(hào)，如果要
修改起始編號(hào)，請(qǐng)用數(shù)字鍵將起始編號(hào)輸入程式內(nèi)，再按“ENTER”鍵將起始編號(hào)的數(shù)字存
入程式中。在列印編號(hào)的設(shè)定完成後，再按“SETUP”鍵時(shí)，程式會(huì)自動(dòng)回到最初的 PLC
遙控設(shè)定模式?；蚴侵苯影?ldquo;EXIT”鍵，離開一般參數(shù)設(shè)定模式而進(jìn)入待測(cè)試模式，程式會(huì)
自動(dòng)將所設(shè)定的列印編號(hào)的起始數(shù)字存入記憶程式內(nèi)。
4.3.10 JigA/B自動(dòng)交換高壓測(cè)試設(shè)定(Optional)
當(dāng)選購 Opt.727,Opt.728 JigA/B 功能後，就沒有列印功能的設(shè)定參數(shù)畫面，列印功能隨即
失效。
在測(cè)試失敗停止設(shè)定完成和按 SETUP 鍵後，顯示器會(huì)顯示:
JA/B = ON JA/B = OFF
?ENTER? to Select 或 ?ENTER? to Select
請(qǐng)用 ENTER 鍵選擇 JA/JB 自動(dòng)交換高壓測(cè)試模式的 ON 或 OFF。如果 JA/JB 自動(dòng)交換高
壓測(cè)試模式被選擇為“ON”時(shí)，在按 SETUP 鍵後會(huì)立即出現(xiàn) JigA 4W+JigB 4W 或 JigA
8W+JigB 8W 的設(shè)定，當(dāng)選擇 4W+4W 時(shí) JigA 使用 1~4、JigB 使用 5~8 輸出 H/L 設(shè)定，
當(dāng)選擇 8W+8W 時(shí) JigA:1~8(H/L)設(shè)定、JigB 使用 1~8(H/L)設(shè)定，且需搭配掃瞄器使用。
當(dāng)要輸出 8W+8W 時(shí) MODEL 7410 需外接 2 臺(tái)掃瞄器，若使用 MODEL 7420/7430/7440
可內(nèi)建 Build-in 8 通道的高壓輸出通道 + 1 臺(tái)掃瞄器使用。
4.4 顯示器訊息
4.4.1 交流耐壓測(cè)試:
4.4.1.1 測(cè)試中止(Abort)
1. 假如交流耐壓測(cè)試正在進(jìn)行之中，而按”RESET”開關(guān)或使用遙控裝置中斷測(cè)試，液
晶顯示器會(huì)顯示如下:
ACW Abort XXX.X s
MXX-X X.XX KV XX.XX
2. 假如交流耐壓測(cè)試正在進(jìn)行之中，而按”RESET”開關(guān)或使用遙控裝置中斷測(cè)試時(shí)，
其中斷測(cè)試的時(shí)間在本分析儀讀到第一筆測(cè)試結(jié)果之前，顯示器會(huì)顯示:
ACW Abort XXX.X s
MXX-X -.- - KV - -.- - mA 或 ACW Abort XXX.X s
MXX-X X.XX KV - -.- - 414.4.1.4 漏電電-流 - -.- mA上
4.4.1.2 緩升測(cè)試 (Ramp Up)
1. 如交流耐壓測(cè)試設(shè)定有緩升 (Ramp Up) 測(cè)試程序，在本分析儀讀到第一筆測(cè)試結(jié)果之
前，顯示器會(huì)顯示如下:
ACW Ramp XXX.X s
MXX-X -.- - KV - -.- - mA
2. 交流耐壓測(cè)試在緩升時(shí)間之中進(jìn)行耐壓測(cè)試時(shí)，測(cè)試的結(jié)果會(huì)不斷的被更新，顯示器會(huì)
顯示如下:
ACW Ramp XX.X s
MXX-X X.XX KV XX.XX mA
4.4.1.3 耐壓測(cè)試(Dwell)
1. 在交流耐壓測(cè)試進(jìn)行時(shí)，測(cè)試的結(jié)果會(huì)不斷的被更新，顯示器會(huì)顯示如下:
ACW Dwell XXX.X s
MXX-X X.XX KV XX.XX mA
2. 如交流耐壓測(cè)試的緩升測(cè)試時(shí)間非常短，而在本分析儀讀到第一筆測(cè)試結(jié)果之前，顯示
器會(huì)顯示如下:
ACW Dwell XXX.X s
MXX-X -.- KV限(HI-Limit)
1. 如被測(cè)物在做交流耐壓測(cè)試時(shí)的漏電電流量超過上限設(shè)定值，會(huì)被程式判定為漏電電流
上限造成的測(cè)試失敗，如果其電流值仍然在本分析儀的量測(cè)範(fàn)圍內(nèi)，顯示器會(huì)顯示如下:
ACW HI-Limit XX.X s
MXX-X X.XX KV XX.XX
2. 如被測(cè)物在做交流耐壓測(cè)試時(shí)的漏電電流量超過上限設(shè)定值，會(huì)被程式判定為漏電電流
上限造成的測(cè)試失敗，如果其電流值超出本分析儀的量測(cè)範(fàn)圍，顯示器會(huì)顯示如下:
ACW HI-Limit XXX.X s
MXX-X X.XX KV?? 40
4.4.1.5 短路(Short)
如被測(cè)物在做交流耐壓測(cè)試時(shí)，漏電電流量遠(yuǎn)超過本分析儀可以量測(cè)的範(fàn)圍之外，再加上
本分析儀特殊的短路判定電路動(dòng)作，會(huì)被程式判定為短路造成的測(cè)試失敗，顯示器會(huì)顯示
42ACW Short XXX.X s
MXX-X -.- - KV?? 40 mA
如下:
4.4.1.6 耐壓崩潰(Breakdown)
如被測(cè)物在做交流耐壓測(cè)試時(shí)的漏電電流量遠(yuǎn)超過本分析儀可以量測(cè)的範(fàn)圍，並且電弧的
電流量也遠(yuǎn)超過本分析儀所能夠量測(cè)的正常數(shù)值之外，會(huì)被程式判定為耐壓崩潰造成的測(cè)
試失敗，顯示器會(huì)顯示如下:
ACW Breakdown XXX.X s
MXX-X X.XX KV?? 40
4.4.1.7 漏電電流下限 (LO-Limit)
如被測(cè)物在做交流耐壓測(cè)試時(shí)的漏電電流量低於下限設(shè)定值，會(huì)被程式判定為漏電電流下
限造成的測(cè)試失敗，顯示器會(huì)顯示如下:
ACW LO-Limit XXX.X s
MXX-X X.XX KV XX.XX
4.4.1.8 電弧測(cè)試失敗 (Arc Fail)
如被測(cè)物在做交流耐壓測(cè)試時(shí)的漏電電流量在設(shè)定的漏電電流上限值以內(nèi)，但是電弧的電
流量超過電弧電流的設(shè)定值，並且本分析儀的電弧偵測(cè)判定功能被設(shè)定為 ON 時(shí)，造成的
測(cè)試失敗，會(huì)被程定判定為被測(cè)物的電弧造成的測(cè)試失敗，顯示器會(huì)顯示如下:
ACW Arc-Fail XXX.X s
MXX-X X.XX KV XX.XX
4.4.1.9 測(cè)試通過 (Pass)
假如被測(cè)物在做交流耐壓測(cè)試時(shí)的整個(gè)過程都沒有任何異常的現(xiàn)象發(fā)生時(shí)，被認(rèn)定為通過
測(cè)試，顯示器會(huì)顯示如下:
ACW Pass XXX.X s
MXX-X X.XX KV XX.XX
4.4.2 直流耐壓測(cè)試:
4.4.2.1 測(cè)試中止(Abort)
1. 如直流耐壓測(cè)試正在進(jìn)行之中，而按 RESET 開關(guān)或使用遙控裝置中斷測(cè)試時(shí)，顯示器
會(huì)顯示如下:
43DCW Abort XXX.X s
MXX-X X.XX KV XXXX
2. 如直流耐壓測(cè)試正在進(jìn)行之中，而按 RESET 開關(guān)或使用遙控裝置中斷測(cè)試時(shí)，其中斷
測(cè)試的時(shí)間在本分析儀讀到第一筆測(cè)試結(jié)果之前，顯示器會(huì)顯示:
DCW Abort XXX.X s
MXX-X -.- - KV - - - -??A
或 DCW Abort XXX.X s
MXX-X X.XX KV - - - -??A
4.4.2.2 緩升(Ramp Up)測(cè)試
1. 如果直流耐壓測(cè)試設(shè)定有緩升 (Ramp Up)測(cè)試程序，在本分析儀讀到第一筆測(cè)試結(jié)果
之前，顯示器會(huì)顯示如下:
DCW Ramp XXX.X s
MXX-X -.- - KV - - - -??A
2. 直流耐壓測(cè)試在緩升時(shí)間之中進(jìn)行耐壓測(cè)試時(shí)，測(cè)試的結(jié)果會(huì)不斷的被更新，顯示器會(huì)
顯示如下:
DCW Ramp XXX.X s
MXX-X X.XX KV XXXX
4.4.2.3 耐壓測(cè)試 (Dwell)
1. 在直流耐壓測(cè)試進(jìn)行時(shí)，測(cè)試的結(jié)果會(huì)不斷的被更新，顯示器會(huì)顯示如下:
DCW Dwell XXX.X s
MXX-X X.XX KV XX.XX
.2. 如直流耐壓測(cè)試的緩升測(cè)試時(shí)間非常短，而在本分析儀讀到第一筆測(cè)試結(jié)果之前，顯
示器會(huì)顯示如下:
DCW Dwell XXX.X s
MXX-X -.- - KV - - - - 4.4.2.4 緩衝電流(Ramp-HI)
在直流耐壓測(cè)試的模式下，而緩衝電流的模式被設(shè)定為 ON 時(shí)，在緩衝期的時(shí)間之內(nèi)，如
果被測(cè)物的漏電電流超過 12mA 時(shí)，會(huì)被程式判定為緩衝電流測(cè)試失敗，顯示器會(huì)顯示如
下:
44DCW Ramp-HI XXX.X s
MXX-X X.XX KV >9999
4.4.2.5 最低充電電流 (Charge-LO)
在直流耐壓測(cè)試的模式下，而最低充電電流的模式被設(shè)定為 ON 時(shí)，在緩衝期的時(shí)間之內(nèi)，
如果被測(cè)物的漏電電流低於最低充電電流值時(shí)，會(huì)被程式判定為最低充電電流測(cè)試失敗，
顯示器會(huì)顯示如下:
DCW Charge-LO XXX.X s
MXX-X X.XX KV XXX.X.
4.4.2.6 漏電電流上限 (HI-Limit)
1. 如被測(cè)物在做直流耐壓測(cè)試時(shí)的漏電電流量超過上限設(shè)定值，會(huì)被程式判定為漏電電流
上限造成的測(cè)試失敗，如果其電流值仍然在本分析儀的量測(cè)範(fàn)圍內(nèi)，顯示器會(huì)顯示如下:
DCW HI-Limit XXX.X s
MXX-X X.XX KV XXXX
2. 假如被測(cè)物在做直流耐壓測(cè)試時(shí)的漏電電流量超過上限設(shè)定值，會(huì)被程式判定為漏電
電流上限造成的測(cè)試失敗，如果電流值超出本分析儀的量測(cè)範(fàn)圍，顯示器會(huì)顯示如下:
DCW HI-Limit XXX.X s
MXX-X X.XX KV?? 9999
4.4.2.7 短路(Short)
假如被測(cè)物在做直流耐壓測(cè)試時(shí)的漏電電流量遠(yuǎn)超過可以量測(cè)的範(fàn)圍之外，再加上本分析
儀特殊的短路判定電路動(dòng)作，會(huì)被程式判定為短路造成的測(cè)試失敗，顯示器會(huì)顯示如下:
DCW Short XXX.X s
MXX-X -.- - KV?? 9999
4.4.2.8 耐壓崩潰(Breakdown)
如被測(cè)物在做直流耐壓測(cè)試時(shí)的漏電電流量在設(shè)定的漏電電流上限值以內(nèi)，但是電弧的電
流量超過電弧電流的設(shè)定值，並且本分析儀的電弧偵測(cè)判定功能被設(shè)定為 ON 時(shí)，造成的
測(cè)試失敗，會(huì)被程定判定為被測(cè)物的電弧造成的測(cè)試失敗，顯示器會(huì)顯示如下:
DCW Breakdown XXX.X s
MXX-X X.XX KV?? 9999
454.4.2.9 漏電電流下限 (LO-Limit)
如被測(cè)物在做直流耐壓測(cè)試時(shí)的漏電電流量低於下限設(shè)定值，會(huì)被程式判定為漏電電流下
限造成的測(cè)試失敗，顯示器會(huì)顯示如下:
DCW LO-Limit XXX.X s
MXX-X X.XX KV XXX.X
4.4.2.10 電弧偵測(cè)判定(Arc Fail)
如被測(cè)物在做直流耐壓測(cè)試時(shí)的漏電電流量在設(shè)定的漏電電流上限值以內(nèi)，但是電弧的電
流量超過電弧電流的設(shè)定值，並且本分析儀的電弧偵測(cè)判定功能被設(shè)定為 ON 時(shí)，所造成
的測(cè)試失敗，會(huì)被程定判定為被測(cè)物的電弧造成的測(cè)試失敗，顯示器會(huì)顯示如下:
DCW Arc-Fail XXX.X s
MXX-X X.XX KV XX.X
4.4.2.11 測(cè)試通過 (Pass)
如被測(cè)物在做直流耐壓測(cè)試時(shí)的整個(gè)過程都沒有任何異常的現(xiàn)象發(fā)生時(shí)，被認(rèn)定為通過測(cè)
試，顯示器會(huì)顯示如下 :
DCW Pass XXX.X s
MXX-X X.XX KV XXXX
4.4.3 絕緣電阻測(cè)試
4.4.3.1 測(cè)試中止(Abort)
1. 如絕緣電阻測(cè)試正在進(jìn)行之中，而按 RESET 開關(guān)或使用遙控裝置中斷測(cè)試時(shí)，顯示器
會(huì)顯示如下:
IR Abort XXX.X s
MXX-X XXXX V XXXX
2. 假如絕緣電阻測(cè)試正在進(jìn)行之中，而按 RESET 開關(guān)或使用遙控裝置中斷測(cè)試時(shí)，其中
斷測(cè)試的時(shí)間在本分析儀讀到第一筆測(cè)試結(jié)果之前，顯示器會(huì)顯示:
IR Abort XXX.X s
MXX-X - - - - V - - - - M?
46
或 IR Abort XXX.X s
MXX-X XXXX V - - - -4.4.3.2 延遲時(shí)間(Delay)
1. 在絕緣電阻測(cè)試剛開始時(shí)，測(cè)試電壓正逐步上升的期間之中，此時(shí)本分析儀尚未讀到第
一筆測(cè)試結(jié)果，顯示器會(huì)顯示如下:
IR Delay XXX.X s
MXX-X - - - - V - - - M?
2. 在絕緣電阻測(cè)試進(jìn)行時(shí)，於延遲測(cè)試期間之中，測(cè)試的結(jié)果會(huì)不斷的被更新，顯示器會(huì)
顯示如下:
IR Delay XXX.X s
MXX-X XXXX V XXXX
4.4.3.3 最低充電電流(Charge-LO)
在絕緣電阻測(cè)試的模式下，在緩衝期的時(shí)間之內(nèi)，如果被測(cè)物的充電電流低於最低充電電
流值時(shí)，會(huì)被程式判定為最低充電電流測(cè)試失敗，顯示器會(huì)顯示如下:
IR Charge-LO XXX.X s
MXX-X - - - - V - - - - M?
4.4.3.4 絕緣電阻上限(HI-Limit)
1. 如被測(cè)物在做絕緣電阻測(cè)試時(shí)的電阻值超過上限設(shè)定值，會(huì)被程式判定為絕緣電阻上限
造成的測(cè)試失敗，如果其電阻值仍然在本分析儀的量測(cè)範(fàn)圍內(nèi)，顯示器會(huì)顯示如下:
IR HI-Limit XXX.X s
MXX-X XXXX V XXXX
2. 如被測(cè)物在做絕緣電阻測(cè)試時(shí)的電阻值超過上限設(shè)定值，會(huì)被程式判定為絕緣電阻上限
造成的測(cè)試失敗，如果其電阻值超出本分析儀的量測(cè)範(fàn)圍之外，顯示器會(huì)顯示如下:
IR HI-Limit XXX.X s
MXX-X XXXX V??9999
4.4.3.5 絕緣電阻下限(LO-Limit)
1. 如被測(cè)物在做絕緣電阻測(cè)試時(shí)的電阻值低於下限設(shè)定值，會(huì)被程式判定為絕緣電阻下限
造成的測(cè)試失敗，如果其電阻值仍然在本分析儀的量測(cè)範(fàn)圍內(nèi)，顯示器會(huì)顯示如下:
IR LO-Limit XXX.X s
MXX-X XXXX V XXXX
472. 如被測(cè)物在做絕緣電阻測(cè)試時(shí)的電阻值低於下限設(shè)定值，會(huì)被程式判定為絕緣電阻下限
造成的測(cè)試失敗，如果其電阻值低於本分析儀所能量測(cè)的最低範(fàn)圍之內(nèi)，顯示器會(huì)顯示
如下:
IR LO-Limit XXX.X s
MXX-X XXXX V?? 1M?
4.4.3.6 測(cè)試通過(Pass)
假如被測(cè)物在做絕緣電阻測(cè)試時(shí)的整個(gè)過程都沒有任何異常的現(xiàn)象發(fā)生時(shí)，被認(rèn)定為通過
測(cè)試，顯示器會(huì)顯示如下:
IR Pass XXX.X s
MXX-X XXXX V XXXX
4.4.4 接地阻抗測(cè)試鍵 (僅7440機(jī)型具有此項(xiàng)功能):
4.4.4.1 測(cè)試中止(Abort)
1. 如交流接地電阻測(cè)試正在進(jìn)行之中，而按 RESET 開關(guān)或使用遙控裝置中斷測(cè)試時(shí)，顯
示器會(huì)顯示如下:
GND Abort XXX.X s
MXX-X XX.XX A
2. 如交流接地電阻測(cè)試正在進(jìn)行之中，而按 RESET 開關(guān)或使用遙控裝置中斷測(cè)試時(shí)，其
中斷測(cè)試時(shí)間在本分析儀讀到第一筆測(cè)試結(jié)果之前，顯示器會(huì)顯示:
GND Abort XXX.X s
MXX-X - -.- - A - - - m?
或 GND Abort XXX.X s
MXX-X XX.XX A - - - m?
4.4.4.2 交流接地電阻測(cè)試(Dwell)
1. 如交流接地電阻測(cè)試剛開始時(shí)，本分析儀尚未讀到第一筆測(cè)試結(jié)果之前，顯示器會(huì)顯示
如下:
GND Dwell XXX.X s
MXX-X - -.- - A - - - m?
2. 在交流接地電阻測(cè)試進(jìn)行時(shí)，測(cè)試的結(jié)果會(huì)不斷的被更新，顯示器會(huì)顯示如下:
GND Dwell XXX.X s
MXX-X XX.XX A XXX m?
484.4.4.3 交流接地電阻上限(HI-Limit)
1. 如被測(cè)物在做交流接地電阻測(cè)試時(shí)，接地電阻值超過上限設(shè)定值，會(huì)被判定為接地電阻
上限造成的測(cè)試失敗，如果其接地電阻值仍然在本分析儀的量測(cè)範(fàn)圍內(nèi)，顯示器會(huì)顯示
如下:
GND HI-Limit XX.X s
MXX-X XX.XX A XXX
2. 如被測(cè)物在做交流接地電阻測(cè)試時(shí)，接地電阻值超過上限設(shè)定值，會(huì)被判定為接地電
阻上限造成的測(cè)試失敗，如果其接地電阻值超出本分析儀的量測(cè)範(fàn)圍之外，顯示器會(huì)顯
示如下:
GND HI-Limit XXX.X s
MXX-X 0.00 A?? 600 m?
4.4.4.4 交流接地電阻下限(LO-Limit)
如被測(cè)物在做交流接地電阻測(cè)試時(shí)的接地電阻值低於下限設(shè)定值，會(huì)被程式判定為接地電
阻下限造成的測(cè)試失敗，顯示器會(huì)顯示如下:
GND LO-Limit XXX.X s
MXX-X XX.XX A XXX
4.4.4.5 測(cè)試通過 (Pass)
假如被測(cè)物在做交流接地電阻測(cè)試時(shí)的整個(gè)過程都沒有任何異常的現(xiàn)像發(fā)生時(shí)，被認(rèn)定為
通過測(cè)試，顯示器會(huì)顯示如下:
GND Pass XXX.X s
MXX-X XX.XX A XXX
4.5 操作程序及步驟
7400 系列的耐壓測(cè)試器主要是設(shè)計(jì)供生產(chǎn)線自動(dòng)化以及品質(zhì)分析和檢驗(yàn)使用，可以外接
RS232 或 GPIB (IEEE-488) 介面控制，也可以外接列印介面，將本分析儀所測(cè)試到的結(jié)
果即時(shí)列印出來，其操作和設(shè)定都非常簡便。不合理的設(shè)定和操作會(huì)給予兩聲短暫嗶的警
告，同時(shí)退回原來設(shè)定的狀態(tài)。請(qǐng)依照下列程序和步驟操作本分析儀。
1. 在將本分析儀輸入電源線的插頭接到市電電源以前，請(qǐng)先關(guān)閉本分析儀的輸入電源開
關(guān)，並將背板上的電壓選擇開關(guān)切換到正確的輸入電壓位置上，同時(shí)檢查保險(xiǎn)絲的規(guī)
格是否正確。然後再將地線接到本分析儀背板上的接地端子上。
492. 請(qǐng)將輸入電源線分別接到本分析儀和電源插座上，但是不要先將測(cè)試線接到本分析儀
的輸出端子上。
3. 先將被測(cè)物或其測(cè)試治具端的測(cè)試線全部接妥，然後再將回路線 (Return) 接到本分析
儀的回路端子上，再將接地電阻測(cè)試的電流回路測(cè)試線 (7440 機(jī)型) 或被測(cè)物接地線
測(cè)試的測(cè)試線 (7430 機(jī)型) 接到本分析儀的端子上，最後才將高壓測(cè)線接到本分析儀
的高壓端子上，並檢查所有的測(cè)試線是否全部接妥。
4. 然後開啟本分析儀的輸入電源開關(guān)，此時(shí)全部的指示燈都會(huì)一起亮而顯示器會(huì)立即出
現(xiàn)如下：在指示燈全亮?xí)r，請(qǐng)立即檢查指示燈是否正常。然後程式會(huì)自動(dòng)出現(xiàn)本分析
儀最後一次測(cè)試時(shí)的記憶組和測(cè)試參數(shù)資料，並進(jìn)入待測(cè)和參數(shù)設(shè)定模式，此時(shí)顯示
器會(huì)顯示下列四個(gè)劃面的其中一個(gè)劃面：
74XX Ver : X.X
ACW Set XXX.X s
MXX-X X.XX KV XX.XX
IR Set XXX.X s
MXX-X X.XX KV XXXX
或
或
DCW Set XXX.X s
MXX-X X.XX KV XXXXX
GND Set XXX.X s
MXX-X XX.XX A XXX
註明：如果記憶組 MXX-X_ 時(shí)，表示該步驟測(cè)試完成後，會(huì)自動(dòng)連接到下一個(gè)測(cè)試
步驟。
請(qǐng)先參考一般測(cè)試參數(shù)設(shè)定的說明 ，將本分析儀的一般測(cè)試參數(shù)，PLC遙控 (PLC
Remote)、GPIB 位址 (GPIB Address)、反襯亮度 (Contrast)、警報(bào)音量 (Volume)、接
地電電阻測(cè)試的電阻/電壓錶 (GND Meter)、測(cè)試失敗停止 (Fail Stop)，自動(dòng)列印 (AUTO
Print)、列印方式 (Print Mode)、列印號(hào)碼 (Print Code Number) 設(shè)定完成。
如果安裝有 GPIB 介面卡時(shí)，程式才會(huì)出現(xiàn) GPIB 位址設(shè)定，如果安裝有列印介面卡程式
才會(huì)出現(xiàn)自動(dòng)列印 (AUTO Print)、列印方式 (Print Mode) 和 列 印 編 號(hào) (Print Code
Number) 的設(shè)定。
5. 如果要重新設(shè)定測(cè)試參數(shù)，請(qǐng)按 SET 鍵，進(jìn)行參數(shù)設(shè)定模式，重新設(shè)定測(cè)試參數(shù)，詳
細(xì)的設(shè)定方式、程序和步驟，請(qǐng)參考測(cè)試參數(shù)設(shè)定的說明。如果鍵盤被鎖定，請(qǐng)先參
照鍵盤鎖定的說明，先將鍵盤解鎖定，才能進(jìn)行測(cè)試參數(shù)設(shè)定。
6. 如果要選擇記憶組內(nèi)的測(cè)試參數(shù)進(jìn)行測(cè)試時(shí)，請(qǐng)按 MEMORY 鍵，程式會(huì)進(jìn)入記憶組
的選擇模式，顯示器會(huì)顯示如下：
50Memory = X X
Range： 1 - 50
請(qǐng)用數(shù)字鍵將要選擇作為測(cè)試的程式記憶組的代表數(shù)字輸入程式內(nèi)，記憶組選擇完成
後，再按 ENTER 鍵將記憶組的參數(shù)輸入程式內(nèi)，程式會(huì)自動(dòng)叫出將該記憶組的測(cè)試
參數(shù)並回到等待測(cè)和設(shè)定模式。以下是以交流耐壓測(cè)試，顯示器會(huì)顯示如下:
ACW Set XXX.X s
MXX-X X.XX KV XX.XX
7. 如果要重新選擇記憶組內(nèi)測(cè)試步驟的參數(shù)進(jìn)行測(cè)試時(shí)，請(qǐng)按 STEP 鍵，程式會(huì)進(jìn)入記憶
組步驟的選擇模式，顯示器會(huì)顯示如下：
ACW Set XXX.X s
MXX-X X.XX KV XX.XX
請(qǐng)用數(shù)字鍵將要選擇程式記憶組內(nèi)測(cè)試步驟的代表數(shù)字輸入程式內(nèi)，測(cè)試步驟為 1~8
共八個(gè)步驟。如果要將測(cè)試步驟連接到下一個(gè)步驟作連接測(cè)試時(shí)，請(qǐng)參考“測(cè)試參數(shù)
設(shè)定”的說明，將 Connect 選擇為 ON。如果在第八測(cè)試步驟選擇為“ON”時(shí)，測(cè)試
步驟會(huì)被連接到下一被選擇的記憶組的測(cè)試步驟進(jìn)行測(cè)試。
選擇完成後再按 ENTER 鍵將測(cè)試步驟的參數(shù)輸入程式內(nèi)，程式會(huì)自動(dòng)叫出將該記憶
組的測(cè)試參數(shù)並回到等待測(cè)和設(shè)定模式，顯示器會(huì)顯示如右， _代表測(cè)試步驟被
連接到下一個(gè)測(cè)試步驟：
ACW Set XXX.X s
MXX-X X.XX KV XX.XX
8. 如果要進(jìn)行測(cè)試，請(qǐng)按 TEST 開關(guān)，此時(shí)面板上紅色的高電壓符號(hào)會(huì)閃爍，測(cè)試進(jìn)行
時(shí)請(qǐng)勿觸碰被測(cè)物件，以策安全。
測(cè)試完成後，本分析儀會(huì)自動(dòng)關(guān)閉輸出，TEST 開關(guān)上的綠色指示燈會(huì)亮起，同時(shí)發(fā)
出一聲嗶的聲音，確認(rèn)測(cè)試物件通過測(cè)試，顯示器會(huì)出現(xiàn) PASS 和測(cè)試結(jié)果的數(shù)值。
如果測(cè)試步驟被設(shè)定為連接測(cè)試，可以用 ENTER / REVIEW 鍵查看最初八個(gè)測(cè)試步驟
的測(cè)試結(jié)果，超過八步驟的測(cè)試結(jié)果，程式不予保留。
9. 如果在測(cè)試進(jìn)行中要中止測(cè)試，請(qǐng)按 RESET 開關(guān)，本分析儀立即停止測(cè)試，顯示器會(huì)
保留當(dāng)時(shí)的測(cè)試值。如要繼續(xù)進(jìn)行測(cè)試，請(qǐng)?jiān)侔疵姘迳系?TEST 開關(guān)，程式會(huì)重新由
第一個(gè)測(cè)試步驟再開始測(cè)試。
5110. 如果由於被測(cè)物的測(cè)試失敗，本分析儀立即停止測(cè)試並且顯示器會(huì)顯示的狀態(tài)和失敗
時(shí)的數(shù)值，此時(shí)紅色 RESET 開關(guān)內(nèi)的指示燈會(huì)亮，同時(shí)發(fā)出嗶的警告聲音。如要繼續(xù)
進(jìn)行測(cè)試，請(qǐng)?jiān)侔疵姘迳系?TEST 開關(guān)，程式會(huì)再繼續(xù)測(cè)試未完成的測(cè)試步驟，如果
要重新由第一個(gè)測(cè)試步驟再開始測(cè)試時(shí)，請(qǐng)先按 RESET 開關(guān)，再按 TEST 開關(guān)，程式
會(huì)自動(dòng)由第一個(gè)測(cè)試步驟開始測(cè)試。也可以按 RESET 開關(guān)關(guān)閉警報(bào)聲音而保留測(cè)試讀
值，但再按 TEST 開關(guān)時(shí)，程式會(huì)自動(dòng)由第一個(gè)測(cè)試步驟開始測(cè)試。有關(guān)各種測(cè)試失
敗的顯示器信息，請(qǐng)參考顯示器信息的說明。
11. 如果要使用外部遙控裝置操作本耐壓測(cè)試器，請(qǐng)將遙控器接到背板上的遙控輸入端子
上。遙控器上 TEST 和 RESET 開關(guān)的功能、作用與本分析儀上的開關(guān)完全相同。
12. 本分析儀備有 PASS、FAIL 和 PROCESSING 遠(yuǎn)端監(jiān)視信號(hào)的輸出和遙控呼三組記憶
組的功能，如要使用這些功能，請(qǐng)參考遙控輸入和輸出訊號(hào)的說明。
13. .本分析儀備有 RS232 和 GPIB 介面控制的功能，如要使用電腦控制本分析儀，請(qǐng)參考
RS232 和 GPIB 介面的說明。
14. .本分析儀備有列印測(cè)試結(jié)果的功能，如要自動(dòng)列印測(cè)試結(jié)果，請(qǐng)先安裝列印介面卡，
並依照一般測(cè)試參數(shù)設(shè)定，將要列印的方式設(shè)定完成。如果要用手動(dòng)列印測(cè)試結(jié)果，
可以在測(cè)試完成後，按 EXIT / PRINT 鍵即可將顯示器上的測(cè)試結(jié)果列印立即出來。
15. 7430、7420 和 7410 可以和本公司的交流接地電阻測(cè)試器作連接測(cè)試。連接測(cè)試的方
式分為兩種，一為同時(shí)進(jìn)行測(cè)試，另一為接地電阻測(cè)試或耐壓測(cè)試完成後，再進(jìn)行另
一項(xiàng)功能的測(cè)試。
4.6 JigA/B自動(dòng)交換高壓測(cè)試系統(tǒng)(Opt.727 & Opt.728 )
A/B 自動(dòng)交換高壓測(cè)試系統(tǒng)是針對(duì)變壓器市場需求，以系統(tǒng)理念設(shè)計(jì)出安全、標(biāo)準(zhǔn)且快速
的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，符合工廠生產(chǎn)效率，並考量其高壓測(cè)試的安全性而設(shè)計(jì)出有安全防護(hù)蓋
的 A/B 自動(dòng)交換高壓測(cè)試系統(tǒng)。 將變壓器放置於任一邊測(cè)試槽上，蓋上防護(hù)蓋即開始自
動(dòng)測(cè)試(此稱為 A 組)，測(cè)試過程中另一組(此稱為 B 組)亦可同時(shí)放置待測(cè)變壓器，且蓋上
防護(hù)蓋後將處於 stand by 狀態(tài)，待 A 組 PASS 後會(huì)立即自動(dòng)測(cè)試 B 組上的變壓器，此時(shí)
掀開 A 組防護(hù)蓋，取出變壓器，放置下一個(gè)待測(cè)變壓器於測(cè)試槽上，蓋上防護(hù)蓋後將處於
stand by 狀態(tài)，待 B 組測(cè)試 PASS 後會(huì)立即再測(cè)試 A 組，如此反覆交互測(cè)試，測(cè)試過程
中任意開啟防護(hù)蓋或測(cè)試 Fail 會(huì)立即停止測(cè)試。7410/7420/7440 全系列可選購 Opt.727
輸出 JigA 8CH /JigB 8CH Matrix Scanner 或 Opt.728 JigA 4CH /JigB 4CH Matrix
Scanner 交換輸出高壓測(cè)試。
521. A-TEST Pin-2 (Yellow) 4.B-TEST Pin-6 (Yellow)
2. A-TEST Pin-3 (Green) 5.B-TEST Pin-7 (Green)
3. A-TEST Pin-4 (Red) 6.B-TEST Pin-8 (Red)
7. GND Pin-25
MODEL7420 + Opt.727 (JigA 8CH /JigB 8CH Matrix Scanner)+1927 測(cè)試治具
7006
7420
1927
LED SIGNAL
LED SIGNAL INPUT
SIGNAL INPUT
SIGNAL OUTPUT
(一) Signal input 9 Pin D-type (MODEL 7420 at Rear panel SIGNAL INPUT socket)
(A) control Pin 7,8
(B) control Pin 7,9
(二) LED Signal Output 25 Pin D-Type(MODEL 7420 at Rear panel INTERFACE
socket )
53第五章 介面說明
5.1 標(biāo)準(zhǔn)遙控介面 (Remote I/O)
在本分析儀的背板上配置有兩個(gè) D 型 (9PIN) 連接端子，提供為遙控輸入控制訊號(hào)和輸出
信息輸出。這些連接端子和標(biāo)準(zhǔn)的 D 型 (9PIN) 連接頭互相匹配，必須由使用者自備。為
了能達(dá)到最佳的效果，建議使用隔離線作為控制或信息的連接線，為了不使隔離地線成為
一個(gè)迴路而影響隔離效果，必須將隔離線一端的隔離網(wǎng)接地。
背板遙控介面:
5.1.1 遙控訊號(hào)輸出 (Signal Output)
在本分析儀的背板上備有遙控訊號(hào)輸出端子，將儀器的測(cè)試通過 (PASS)、測(cè)試失敗
(FAIL) 和測(cè)試中 (PROCESSING) 等訊號(hào)，提供為遙控監(jiān)視之用。這些訊號(hào)的現(xiàn)狀分別
由儀器內(nèi)部三個(gè)繼電器 (Relay) 提供不帶電源的常開 (N.O.) 接點(diǎn)，其接點(diǎn)的容量為 :
AC 250V 1.0 Amp / DC 250V 0.5 Amp。
備註：這些接點(diǎn)沒有正負(fù)極性的限制，同時(shí)每一個(gè)信號(hào)是獨(dú)立的接線，沒有共同的地線
(COMMON )。訊號(hào)是由本分析儀背板上配置的 D 型 (9 PIN) 連接端子輸出，端子上附有
腳位編號(hào)的標(biāo)示，每個(gè)輸出訊號(hào)的接線分別如下:
1.PASS 訊號(hào)
2.FAIL 訊號(hào)
3.PROCESSING 訊號(hào)
4.空腳
54
接在 PIN 1 和 PIN 2 之間。
接在 PIN 3 和 PIN 4 之間。
接在 PIN 5 和 PIN 6 之間。
PIN 7、PIN 8 和 PIN 9 為未使用的空腳。5.1.2 控訊號(hào)輸入與記憶程式
在本分析儀的背板上配置有遙控訊號(hào)輸入端子，可以由外接遙控裝置操作儀器的 TEST 和
RESET 的功能或呼叫預(yù)設(shè)於三組記憶程式中的任何一組測(cè)試參數(shù)，逕行使用另外的測(cè)試
開關(guān)，直接進(jìn)行測(cè)試，不需由面板設(shè)定和使用面板上的”TEST”開關(guān)。當(dāng) PLC 遙控功能設(shè)
定為 ON 時(shí)，面板上的 TEST 開關(guān)被設(shè)定為不能操作，以避免雙重操作引起的誤動(dòng)作和危
險(xiǎn)，此時(shí)面板上的 RESET 開關(guān)依然可以操作，以便隨時(shí)在任何地方都可以關(guān)閉高壓輸出。
以下為遙控裝置的接線方式 :
1. RESET 控制，控制開關(guān)接在 PIN 2 和 PIN 5 之間
2. TEST 控制，控制開關(guān)接在 PIN 3 和 PIN 5 之間
PIN 5 為遙控電路的共同 (COMMON) 地線
注意：絕對(duì)不能再接上任何其它的電壓或電流電源，如果輸入其它的電源，會(huì)造成儀器內(nèi)
部控制電路的損壞或誤動(dòng)作。
遙控記憶程式的訊號(hào)輸入，必須使用常開(N.O.)的瞬接(MOMENTARY)開關(guān)作為控制的工
具，以下為其接線方式:
1.第一組記憶程式，控制開關(guān)接在 PIN 7 和 PIN 8 之間
2.第二組記憶程式，控制開關(guān)接在 PIN 7 和 PIN 9 之間
3.第三組記憶程式，控制開關(guān)接在 PIN7、PIN 8 和 PIN 9 三個(gè) PIN 之間
PIN 7 為遙控記憶程式的訊號(hào)輸入電路的共同(COMMON)地線
註明 :1.PIN 1、PIN 4 和 PIN 6 為未使用的空腳。
2.遙控輸入訊號(hào)分為遙控操作和遙控記憶程式組兩個(gè)組群，每一個(gè)組群的電源和共
同地線自獨(dú)立，不能混淆。
5.2 RS232/GPIB介面
本章提供 RS232 和 GPIB 介面的正確使用方法及資訊，兩種介面的指令清單完全相同。
RS232 介面為 7440 / 7430 的標(biāo)準(zhǔn)配備，7400 系列的安規(guī)分析儀都具有配置 RS232 及
GPIB 介面的能力。
5.2.1 RS232介面
RS232 連接方式必須符合 9 PIN 的串列式通信介面埠 (Serial Port ) ，如下圖所示 :
74X X P C / B u s C o n tro ller
RD
TD
S IG
GND
2
3
5
2
3
5
RD
TD
S IG
GND
55其通信埠須符合以下的結(jié)構(gòu) : 9600 baud、8 data bits、1 stop bit、no polarity 等。這個(gè)介
面不支援 XON/XOFF 的 protocol 和任何硬體方式的 Handshaking。 控制器 (Controller)
的架構(gòu)必須具有排除 Handshaking Lines DTR (PIN 4)、DSR (PIN 6)及 RTS (PIN 9)的功
能。如果這通信埠不能經(jīng)由軟體方式排除 Handshaking Lines 時(shí)，Handshaking Lines 則
應(yīng)分兩個(gè)不同組群，分別跳接在一起。PIN 4 和 6、PIN 7 和 8 必須在控制器電纜的末端接
合在一起。
當(dāng)指令經(jīng)由 RS232 Bus 送給 7400 系列的安規(guī)分析儀時(shí)，假如所傳送的字串(String)可以
被本分析儀辨識(shí)或接受，本分析儀會(huì)回應(yīng)一個(gè)證明字串給控制器。 這是一種軟體方式的
Handshaking，可以控制和監(jiān)視資料(Data)的傳送。如所傳送的指令字串有錯(cuò)誤，本分析
儀會(huì)以 15h 或 NAK 的 ASCII 控制碼作為回應(yīng)。若傳送資料被接受，會(huì)回應(yīng)原傳送字串或
電腦所需讀回之資料字串。
5.2.2 指令結(jié)束碼
本章節(jié)所使用的指令，請(qǐng)依所用的程式語言於每個(gè)字串或 Command 結(jié)束時(shí)，皆需加字元
結(jié)束碼(EOI)做結(jié)束確認(rèn)。以 FA 為例：
a. 十六進(jìn)制結(jié)束碼為 “0AH”，請(qǐng)輸入 ”0X46,0X41,0X0A” b. ASCII 碼結(jié)束碼為 ”LF” ，請(qǐng)輸入”FA” c. C 語言結(jié)束碼為 “n”，請(qǐng)輸入”FAn”。
若撰寫程式時(shí)，指令與指令間需間隔 100ms 做為緩衝時(shí)間。
5.2.3 快速設(shè)定指南
若想要增加一個(gè) ACW、IR、GND 的測(cè)試項(xiàng)，測(cè)試條件為：
ACW：測(cè)試電壓為 3000V、測(cè)試時(shí)間為 5s、電流上限為 10mA
IR：測(cè)試電壓為 1000V、測(cè)試時(shí)間為 3s、阻抗下限設(shè)定為 2M?
GND：測(cè)試電流為 30A、測(cè)試時(shí)間為 5s、阻抗上限為 100m?
其指令輸入順序如下：
1.
2.
3.
4.
5.
6.
7.
”S5 1”：設(shè)定第 1 組記憶組；
”S6 1”：設(shè)定第 1 個(gè)測(cè)試步驟；
”FC”：設(shè)定為 ACW 的測(cè)試項(xiàng)，其內(nèi)部數(shù)值為預(yù)設(shè)值或使用者修改過後的設(shè)定值；
”SA 3000”：將 ACW 的輸出電壓設(shè)定為 3000V；
”SE 5”：將 ACW 的測(cè)試時(shí)間設(shè)定為 5s；
”SB 10”：將 ACW 的漏電電流上限設(shè)定為 10mA；
”FQ”：將步驟連結(jié)開啟；
8. ”S6 2”：設(shè)定第 2 個(gè)測(cè)試步驟；
9. ”FE”：設(shè)定為 IR 的測(cè)試項(xiàng)，其內(nèi)部數(shù)值為預(yù)設(shè)值或使用者修改過後的設(shè)定值；
56指令 範(fàn)圍 說明
SA 0 - 5000 設(shè)定交流輸出電壓 (Voltage)
SB 0.00 - 40.00 設(shè)定漏電電流上限 (HI-Limit)
SC 0.000 - 9.999 設(shè)定漏電電流下限 (LO-Limit)
SD 0.1 - 999.9 設(shè)定緩升時(shí)間 (Ramp Time)
SE 0, 0.3 - 999.9 設(shè)定測(cè)試時(shí)間 (Dwell Time)
SF 1-9 設(shè)定電弧靈敏度 (Arc Sense)
SG H=Hi、L=Low、
O=Open
設(shè)定矩陣掃描器 (Scanner)
指令 範(fàn)圍 說明
FC 新增 ACW 測(cè)試項(xiàng)目
FD 新增 DCW 測(cè)試項(xiàng)目
FE 新增 IR 測(cè)試項(xiàng)目
FF 新增 GND 測(cè)試項(xiàng)目 (僅 7440 有此指令)
指令 範(fàn)圍 說明
FA 執(zhí)行測(cè)試
FB 停止測(cè)試
10. ”SS 1000”：將 IR 的輸出電壓設(shè)定為 1000V；
11. ”SW 3”：將 IR 的測(cè)試時(shí)間設(shè)定為 3s；
12. ”SV 2”：將 IR 的絕緣電阻下限設(shè)定為 2M?；
13. ”FQ”：將步驟連結(jié)開啟；
14. ”S6 3”：設(shè)定第 3 個(gè)測(cè)試步驟；
15. ”FF”：設(shè)定為 GND 的測(cè)試項(xiàng)，其內(nèi)部數(shù)值為預(yù)設(shè)值或使用者修改過後的設(shè)定值；
16. ”SY 30”：將 GND 的輸出電流設(shè)定為 30A；
17. ”S2 5”：將 GND 的測(cè)試時(shí)間設(shè)定為 5s；
18. ”S0 100”：將 GND 的接地電阻上限設(shè)定為 100m?；
19. ”FR”：將步驟連結(jié)關(guān)閉；
5.2.4指令清單
下列指令被作為驅(qū)動(dòng) ON/OFF 功能或選擇各種參數(shù)表之用。執(zhí)行這些指令時(shí)，不需使用任
何其他數(shù)值或參數(shù)。然而在使用於某項(xiàng)特定功能 (Function Specific ) 的指令時(shí)，這些功
能選擇指令，如 FC、FD、FE 或 FF 必須要先執(zhí)行，以便進(jìn)入這項(xiàng)功能的參數(shù)。
若要執(zhí)行測(cè)試，指令為”FA”。
若要停止測(cè)試，指令為”FB”。
若要新增 ACW 的測(cè)試項(xiàng)，指令為”FC”。
ACW 相關(guān)指令集
57指令 範(fàn)圍 說明
SI 0 - 6000 設(shè)定直流輸出電壓 (Voltage)
SJ 0 - 3500 設(shè)定漏電電流上限 (HI-Limit)
SK 0.0 - 999.9 設(shè)定漏電電流下限 (LO-Limit)
SL 0.4 - 999.9 設(shè)定緩升時(shí)間 (Ramp Time)
SM 0, 0.3 - 999.9 設(shè)定測(cè)試時(shí)間 (Dwell Time)
SO 0.0 - 350.0 設(shè)定最低充電電流 (Charge-LO)
SP 1-9 設(shè)定電弧靈敏度 (Arc Sense)
SQ H=Hi 、 L=Low 、
O=Open 設(shè)定矩陣掃描器 (Scanner)
SR 0 - 350.0 設(shè)定測(cè)線漏電電流歸零 (Offset)
FM 開啟電弧偵測(cè)判定模式(Arc Fail)功能
FN 關(guān)閉電弧偵測(cè)判定模式(Arc Fail)功能
FV 自動(dòng)執(zhí)行最低充電電流設(shè)定 (Auto Charge-LO)
FY 自動(dòng)執(zhí)行測(cè)線電阻歸零設(shè)定 (Auto Offset)
F8 開啟緩衝電流設(shè)定 (Ramp-HI)
F9 關(guān)閉緩衝電流設(shè)定 (Ramp-HI)
指令 範(fàn)圍 說明
SS 100 - 1000 設(shè)定輸出電壓 (Voltage)
ST 0.000 - 9.999 設(shè)定最低充電電流 (Charge-LO)
SU 0 - 9999 設(shè)定絕緣電阻上限 (HI-Limit)
SV 1 - 9999 設(shè)定絕緣電阻下限 (LO-Limit)
SW 0, 0.5 - 999.9 設(shè)定判定延遲時(shí)間 (Delay-Time)
SX H=Hi、L=Low、 設(shè)定矩陣掃描器 (Scanner)
若 ACW 的 ”輸出電壓 (Voltage)” 要設(shè)定 5000V，指令為”SA 5000”。
若 ACW 的 ”輸出頻率 (Frequency)” 要設(shè)定 60Hz，指令為”FI”。
DCW 相關(guān)指令集
若 DCW 的 ”輸出電壓 (Voltage)” 要設(shè)定 5000V，指令為”SI 5000”。
若 DCW 的 ”電弧偵測(cè)判定模式(Arc Fail)功能” 要設(shè)定為 ON，指令為”FM”。
IR 相關(guān)指令集
58
SH 0 - 3.500 設(shè)定測(cè)線漏電電流歸零 (Offset)
FI 設(shè)定輸出頻率 (Frequency) 為 60Hz
FJ 設(shè)定輸出頻率 (Frequency) 為 50Hz
FK 開啟電弧偵測(cè)判定模式 (Arc Fail) 功能
FL 關(guān)閉電弧偵測(cè)判定模式 (Arc Fail) 功能
FX 自動(dòng)執(zhí)行測(cè)線電阻歸零設(shè)定 (Auto Offset)指令 範(fàn)圍 說明
S5 1 - 50 設(shè)定記憶組 (Memory)
S6 1-8 設(shè)定測(cè)試步驟 (Step)
FQ 開啟步驟連結(jié) (Connect ON)
FR 關(guān)閉步驟連結(jié) (Connect OFF)
FS 開啟測(cè)試失敗停止模式 (Fail Stop ON)
FT 關(guān)閉測(cè)試失敗停止模式 (Fail Stop OFF)
EA 開啟防高壓觸電功能 (Smart GFI ON)
EB 關(guān)閉防高壓觸電功能 (Smart GFI OFF)
F0 Enable “All Pass” SRQ
F1 Disable “All Pass” SRQ
F2 Enable “Fail” SRQ
F3 Disable “Fail” SRQ
F4 Enable “Abort” SRQ
F5 Disable “Abort” SRQ
F6 Enable “Error Command” SRQ
F7 Disable “Error Command” SRQ
指令 範(fàn)圍 說明
SY 3.00 - 30.00 設(shè)定輸出電流 (Current)
SZ 3.00 - 8.00 設(shè)定輸出電壓 (Voltage)
S0 0 - 600 設(shè)定接地電阻上限 (HI-Limit)
S2 0.5 - 999.9 設(shè)定測(cè)試時(shí)間 (Dwell Time)
S3 1 -16 設(shè)定矩陣掃描器 (Scanner)
S4 0 - 200 設(shè)定測(cè)線電阻歸零設(shè)定 (Offset)
FO 設(shè)定輸出頻率 (Frequency) 為 60Hz
FP 設(shè)定輸出頻率 (Frequency) 為 50Hz
FU 自動(dòng)執(zhí)行測(cè)線電阻歸零設(shè)定 (Auto Offset)
若 IR 的 ”輸出電壓 (Voltage)” 要設(shè)定 1000V，指令為”SS 1000”。
若 IR 的 ”設(shè)定絕緣電阻下限 (LO-Limit)” 要設(shè)定為 2M?，指令為”SV 2”。
GND 相關(guān)指令集 (僅 7440 有此指令)
若 GND 的 ”輸出電流 (Current)” 要設(shè)定 25A，指令為”SY 25”。
若 GND 的 ”輸出頻率 (Frequency)” 要設(shè)定為 60Hz，指令為”FO”。
共用指令
若 ”記憶組 (Memory)” 要設(shè)定第 25 組，指令為”S5 25”。
59
O=Opens
FW 自動(dòng)執(zhí)行最低充電電流設(shè)定 (Auto Charge-LO)指令 所讀取資料的功能 所需 Byte
的長度 說 明
?1 測(cè)試步驟的 Buffer 1 40 讀取第一測(cè)試步驟在顯示器上的測(cè)試
結(jié)果
?2 測(cè)試步驟的 Buffer 2 40 讀取第二測(cè)試步驟在顯示器上的測(cè)試
結(jié)果
?3 測(cè)試步驟的 Buffer 3 40 讀取第三測(cè)試步驟在顯示器上的測(cè)試
結(jié)果
?4 測(cè)試步驟的 Buffer 4 40 讀取第四測(cè)試步驟在顯示器上的測(cè)試
結(jié)果
?5 測(cè)試步驟的 Buffer 5 40 讀取第五測(cè)試步驟在顯示器上的測(cè)試
結(jié)果
?6 測(cè)試步驟的 Buffer 6 40 讀取第六測(cè)試步驟在顯示器上的測(cè)試
結(jié)果
?7 測(cè)試步驟的 Buffer 7 40 讀取第七測(cè)試步驟在顯示器上的測(cè)試
結(jié)果
?8 測(cè)試步驟的 Buffer 8 40 讀取第八測(cè)試步驟在顯示器上的測(cè)試
結(jié)果
?A 接地電阻的 Offset 5 讀取接地電阻的 Offset 設(shè)定，必須在
接地電阻測(cè)試進(jìn)行時(shí)才能讀取。
?B DCW Charge-Lo 5 讀取 DCW Charge-Lo 設(shè)定，必須
DCW 測(cè)試進(jìn)行時(shí)才能讀取。
?C IR Charge-LO 5 讀取 IR Charge-Lo 設(shè)定，必須 IR 測(cè)
試進(jìn)行時(shí)才能讀取。
?D Remote Reset Status 1
01 hex = Reset ON
00 hex = Reset OFF
?K OLED Display 40 在測(cè)試後，讀取在顯示器上的測(cè)試結(jié)
果
若 ”步驟連結(jié) (Connect)” 要設(shè)定為 ON，指令為”FQ”。
當(dāng)控制器傳送一個(gè)正確的 S 或 F 指令時(shí)，如在指令字串後面跟著送出一個(gè) GPIB 讀取指令，
分析儀會(huì)回應(yīng)一個(gè)證明的指令字串。如在所送出的指令發(fā)生錯(cuò)誤，本分析儀會(huì)在收到讀取
指令之後，送出一個(gè) 15H 的 ASCII 控制碼。
下列功能表為本分析儀在執(zhí)行時(shí)用以讀取資料的指令，在寫每一個(gè)指令時(shí)，每一讀取指令
必須具有適當(dāng)?shù)拈L度(如表內(nèi)所示)的 byte 的空間，以便能夠讀取本分析儀的全部資料。
註明 : 如所送出的指令發(fā)生錯(cuò)誤，本分析儀會(huì)在收到讀取指令之後，送出一個(gè) 15h 的
ASCII 控制碼。
60IEEE-488 INTERFACE
具有完整的 Handshake 的能力
具有 Talker/Listener 的能力
具有 Service Request 的能力
沒有 Remote/Local 的能力
沒有 parallel poll 的能力
沒有 Device Clear 的能力
沒有 Device Trigger 的能力
沒有 Controller 的能力
3 state driver
設(shè)定測(cè)試狀態(tài)和參數(shù)
讀取顯示器上的資料
讀取測(cè)試結(jié)果
可控制的項(xiàng)目 Test/Reset 控制
DATA CODES ASCII
DELIMITER CR + LF (+ EOI)
指令 參數(shù) 回應(yīng)字元
b0 All Pass 41H
b1 Fail 42H
b2 Abort 44H
b3 Command ERR 48H
5.2.3 GPIB介面功能
這是一個(gè)連接到 BUS 上設(shè)備的能力，是由設(shè)備本身所具備的介面功能而定。這些功能在
於提供設(shè)備可以經(jīng)由 BUS 接收、操控和送出信息。本分析儀除了輸入電壓必須使用背板
上的切換開關(guān)選擇地以外，其餘的功能都能經(jīng)由 BUS 控制。
5.2.4 GPIB 位址
在 GPIB (IEEE-488) 介面 Bus 上的每個(gè)設(shè)備都必須有一個(gè)專用的位址，7400 系列的分析
儀的位址在出廠時(shí)已被預(yù)設(shè)為 8。
5.2.5 GPIB 的 SRQ 回應(yīng)狀態(tài)字元
在使用上述功能前，一定要先下啟動(dòng)命令,如：F0：Enable “All Pass” SRQ
5.3 IEEE-488通信範(fàn)例
如要經(jīng)由 IEEE BUS 設(shè)定輸出電壓為 1240 volts 時(shí)，請(qǐng)依照下列方式進(jìn)行：第一先傳送
FC 字串選擇 ACW 模式，然後再傳送 SA 1240 字串，這是告訴儀器要將輸出電壓設(shè)定為
AC 1240 volts。字串為一列的 ASCII characters、octal、hex bytes、特殊符號(hào)或包含雙括
61號(hào)在內(nèi)。
如測(cè)試功能已被設(shè)定為 ACW 模式，而要 ACW 測(cè)試的緩昇時(shí)間經(jīng)由 IEEE BUS 設(shè)定為 10
秒時(shí)，請(qǐng)傳送 SD 10.00 的字串，這告訴儀器要將 ACW 測(cè)試的緩昇時(shí)間設(shè)定為 10 秒。
如要設(shè)定掃瞄器通道 1 和 2 為高電壓輸出 (High)，3 和 4 為低電壓回路 (Low)，4 到 8 為
開路 (Off) 時(shí)，請(qǐng)?jiān)?ACW 測(cè)試模式選擇之後，鍵入 SGHHLLOOOO 的字串，其他未被
設(shè)定狀態(tài)的掃瞄器通道會(huì)自動(dòng)被設(shè)為 O (Open，開路)。
如要讀取 2 x 20 顯示器上的測(cè)試結(jié)果，請(qǐng)先傳送?K 的字串，然後再傳送 GPIB 的指令去
讀取 40 bytes 的資料，儀器會(huì)傳送出 40 bytes 的資料，每個(gè) byte 代表顯示器上一個(gè)字元
(character)，包含空白字元 (Space) 在內(nèi)。
5.4 不常更改的記憶體 ( Non Volatile Memory )
當(dāng)測(cè)試參數(shù)被更改時(shí)，儀器會(huì)將更改的測(cè)試參數(shù)儲(chǔ)存於不常更改 (Non Volatile)的記憶體
內(nèi)。不常更改的記憶體有重寫次數(shù)的壽命週期和限制，因此儀器備有特別的可隨時(shí)更改
(Volatile) 的記憶體位置，可以讓測(cè)試的參數(shù)在開始測(cè)試之前，事先鍵入“可隨時(shí)更改”的記
憶體內(nèi)，然後再由該記憶體叫出測(cè)試參數(shù)，以供測(cè)試之執(zhí)行。
當(dāng)程式記憶組為 50-8 和 BUS REMOTE ON 時(shí)，由介面修改的測(cè)試參數(shù)不會(huì)被存入“不常
更改的記憶體 (EEPROM)”內(nèi)。若每次測(cè)試的參數(shù)都由電腦下達(dá)參數(shù)指令，會(huì)讓“可隨時(shí)更
改記憶體”的壽命提早到達(dá)壽命次數(shù)。
本公司建議將各種測(cè)試參數(shù)先設(shè)於不同的記憶組 (有 50 組、每組 8 步驟) 內(nèi)，要測(cè)試時(shí)由
電腦直接呼叫記憶組執(zhí)行測(cè)試，以避免可隨時(shí)更改的記憶體 (EEPROM)提早到達(dá)壽命的
次數(shù)。
62第六章 校正
6.1 進(jìn)入校正模式
先同時(shí)按住面板上數(shù)字鍵的 0 和 1 鍵，然後再開啟本儀器的輸入電源開關(guān)。程式會(huì)自動(dòng)
進(jìn)入校正模式，並且顯示會(huì)顯示如下：
Calibration Mode
∨:Forward ∧:Backward
使用 ∨ 鍵 (順向捲動(dòng)) 和 ∧ 鍵 (逆向捲動(dòng)) 作為捲動(dòng)校正項(xiàng)目表的操作鍵，以下是依據(jù)
順向捲動(dòng)的順序，遂項(xiàng)說明各項(xiàng)校正程序和步驟。
6.2 密碼設(shè)定
按一下 ∨ 鍵，程式會(huì)進(jìn)入密碼 (Password) 的設(shè)定模式，顯示會(huì)顯示如下：
Password = 0
Range : 0 - 9 9 9 9
密碼是用任何 4 位數(shù)字所組成，如密碼設(shè)定為 0，鍵盤之鎖定是被選擇使用前面板上的鎖
定 (LOCK) 鍵操作，而不須使用密碼操作。
Password = X X X X
Range : 0 - 9 9 9 9
備註 : 密碼設(shè)定在出廠時(shí)，設(shè)定為 0 模式。
6.3 記憶程式鎖定選擇
再按一下 ∨ 鍵，程式會(huì)進(jìn)入記憶程式鎖定選擇的設(shè)定模式，顯示會(huì)顯示如下：
MR-Lock = O N
?ENTER? to Select
使用 ENTER 鍵作為選擇 ON 或 OFF 模式的操作鍵。如記憶程式鎖定選擇 (MR-Lock) 被
選擇為 ON，鍵盤被設(shè)定為鎖定模式時(shí)，記憶程式會(huì)一起被鎖定，而無法被呼叫，測(cè)試參
數(shù)和步驟也無法作任何更改。
63MR-Lock = O F F
?ENTER? to Select
備註 : 記憶程式鎖定選擇在出廠時(shí)，設(shè)定為 ON 模式。
6.4 校正步驟
校正交(直)流耐壓與絕緣電阻電壓連接方式
校正交(直)流電流連接方式
校正絕緣電阻連接方式
校正交流接地阻抗電壓(電流)連接方式
6.4.1 交流耐壓電壓校正
再按一下 ∨ 鍵，程式會(huì)進(jìn)入交流耐壓電壓校正模式，顯示會(huì)顯示如下：
ACW Voltage， 5000V
?TEST? to Calibrate
64將一個(gè)可以量測(cè)到 5000 V 以上的標(biāo)準(zhǔn)交流電壓錶，接至本分析儀的高壓輸出和回路的端
子上，然後再按測(cè)試 (TEST) 開關(guān)，程式會(huì)自動(dòng)產(chǎn)生一個(gè)大約 5000VAC 的輸出電壓，這
時(shí)顯示會(huì)顯示如下：
HI-Voltage = V
Enter Standard V-out
使用數(shù)字鍵將交流標(biāo)準(zhǔn)電壓錶上的數(shù)值鍵入本分析儀 (其單位為 V)，然後再按 ENTER
鍵，將交流耐壓測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)電壓值存入本分析儀，以作為校正之標(biāo)準(zhǔn)，此時(shí)顯示會(huì)顯示如
下：
ACW Voltage，5000VOK
?TEST? to Calibrate
6.4.2 直流耐壓電壓校正
再按一下 ∨ 鍵，程式會(huì)進(jìn)入直流耐壓電壓校正模式，顯示會(huì)顯示如下：
DCW Voltage, 6000V
?TEST? to Calibrate
將一個(gè)可以量測(cè)到 6000V 以上的標(biāo)準(zhǔn)直流電壓錶，接至本分析儀的高壓輸出和回路的端子
上，然後再按測(cè)試 (TEST) 開關(guān)，程式會(huì)自動(dòng)產(chǎn)生一個(gè)大約 6000VDC 的輸出電壓，這時(shí)
顯示會(huì)顯示如下：
HI-Voltage = V
Enter Standard V-out
使用數(shù)字鍵將直流標(biāo)準(zhǔn)電壓錶上的數(shù)值鍵入本分析儀 (其單位為 V)，然後再按 ENTER
鍵，將直流耐壓測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)電壓值存入本分析儀，以作為校正之標(biāo)準(zhǔn)，此時(shí)顯示會(huì)顯示如
下：
DCW Voltage，6000V OK
?TEST? to Calibrate
6.4.3 絕緣電阻電壓校正
再按一下 ∨ 鍵，程式會(huì)進(jìn)入絕緣電阻電壓校正模式，顯示會(huì)顯示如下：
65IR Voltage， 1000V
?TEST? to Calibrate
將一個(gè)可以量測(cè)到 1000V 以上的標(biāo)準(zhǔn)直流電壓錶，接至本分析儀的高壓輸出和回路的端子
上，然後再按測(cè)試 (TEST) 開關(guān)，程式會(huì)自動(dòng)產(chǎn)生一個(gè)大約 1000VDC 的輸出電壓，此時(shí)
顯示會(huì)顯示如下：
IR-Voltage = V
Enter Standard V-out
使用數(shù)字鍵將直流標(biāo)準(zhǔn)電壓錶上的數(shù)值鍵入本分析儀 (其單位為 V)，然後再按 ENTER
鍵，將直流耐壓測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)電壓值存入本分析儀，以作為校正之標(biāo)準(zhǔn)，這時(shí)顯示會(huì)顯示如
下：
IR Voltage，1000V OK
?TEST? to Calibrate
6.4.4 交流耐壓電流校正
AC 40mA 檔校正
再按一下 ∨ 鍵，程式會(huì)進(jìn)入交流耐壓測(cè)試的 AC 40mA 電流檔校正模式，顯示會(huì)顯示如下：
AC 40mA， 100K?
?TEST? to Calibrate
將一個(gè)大約 100K?/10W 的電阻與一個(gè)可以量測(cè)到 10mA 以上的標(biāo)準(zhǔn)交流電流錶串聯(lián)後，
接在本分析儀的高壓輸出和回路的端子上，電流錶必須接在靠回路端子這一端，然後再按
測(cè)試 (TEST) 開關(guān)，程式會(huì)自動(dòng)產(chǎn)生一個(gè)大約 1000VAC/10mAAC 的輸出電流，此時(shí)顯示
會(huì)顯示如下：
Current = mA
Enter Standard I-out
使用數(shù)字鍵將交流標(biāo)準(zhǔn)電流錶上的數(shù)值鍵入本分析儀 (其單位為 mA)，然後再按 ENTER
鍵，將交流耐壓測(cè)試 AC 40mA 檔的標(biāo)準(zhǔn)電流值存入本分析儀，以作為校正之標(biāo)準(zhǔn)，這時(shí)
顯示會(huì)顯示如下：
66AC 40mA， 100K? OK
?TEST? to Calibrate
AC 3.5mA 檔位校正
再按一下 ∨ 鍵，程式會(huì)進(jìn)入交流耐壓測(cè)試的 AC 3.5mA 電流檔校正模式，顯示會(huì)顯示如
下：
AC 3.5mA, 100K?
?TEST? to Calibrate
將一個(gè)大約 100K?/10W 的電阻與一個(gè)可以量測(cè)到 3mA 以上的標(biāo)準(zhǔn)交流電流錶串聯(lián)後，
接在本分析儀的高壓輸出和回路的端子上，電流錶必須接在靠回路端子這一端，然後再按
測(cè)試 (TEST) 開關(guān)，程式會(huì)自動(dòng)產(chǎn)生一個(gè)大約 300VAC/3mAAC 的輸出電流，這時(shí)顯示會(huì)
顯示如下：
Current = mA
Enter Standard I-out
使用數(shù)字鍵將交流標(biāo)準(zhǔn)電流錶上的數(shù)值鍵入本分析儀 (其單位為 mA)，然後再按 ENTER
鍵，將交流耐壓測(cè)試 AC 3.5mA 檔的標(biāo)準(zhǔn)電流值存入本分析儀，以作為校正之標(biāo)準(zhǔn)，這時(shí)
顯示會(huì)顯示如下：
AC 3.5mA， 100K? OK
?TEST? to Calibrate
6.4.5 直流耐壓電流校正
DC 10mA 檔位校正
再按一下 ∨ 鍵，程式會(huì)進(jìn)入直流耐壓測(cè)試 DC 10mA 電流檔校正模式，顯示會(huì)顯示如下：
DC 10mA， 100K?
?TEST? to Calibrate
將一個(gè)大約 100K?/10W 的電阻與一個(gè)可以量測(cè)到 10mA 以上的標(biāo)準(zhǔn)直流電流錶串聯(lián)後，
接在本分析儀的高壓輸出和回路的端子上，電流錶必須接在靠回路端子這一端，然後再按
測(cè)試 (TEST) 開關(guān)，程式會(huì)自動(dòng)產(chǎn)生一個(gè)大約 1000VDC/10mADC 的輸出電流，這時(shí)顯示
會(huì)顯示如下：
67Current = mA
Enter Standard I-out
使用數(shù)字鍵將直流標(biāo)準(zhǔn)電流錶上的數(shù)值鍵入本分析儀 (其單位為 mA)，然後再按 ENTER
鍵，將交流耐壓測(cè)試 DC 10mA 檔的標(biāo)準(zhǔn)電流值存入本分析儀，以作為校正之標(biāo)準(zhǔn)，這時(shí)
顯示會(huì)顯示如下：
DC 10mA， 100K? OK
?TEST? to Calibrate
DC 3500?A 檔位校正
再按一下 ∨ 鍵，程式會(huì)進(jìn)入直流耐壓 DC 3500?A 電流檔校正模式，顯示會(huì)顯示如下：
DC 3500?A， 100K?
?TEST? to Calibrate
將一個(gè)大約 100K?/10W 的電阻與一個(gè)可以量測(cè)到 3000?A 以上的標(biāo)準(zhǔn)直流電流錶串聯(lián)
後，接至本分析儀的高壓輸出和回路的端子上，電流錶必須接至靠回路端子這一端，然後
再按測(cè)試 (TEST) 開關(guān)，程式會(huì)自動(dòng)產(chǎn)生一個(gè)大約 300VDC/3000?ADC 的輸出電流，這
時(shí)顯示會(huì)顯示如下：
Current = ?A
Enter Standard I-out
使用數(shù)字鍵將直流標(biāo)準(zhǔn)電流錶上的數(shù)值鍵入本分析儀 (其單位為?A)，然後再按 ENTER
鍵，將交流耐壓測(cè)試 DC 3500?A 檔的標(biāo)準(zhǔn)電流值存入本分析儀，以作為校正之標(biāo)準(zhǔn)，這
時(shí)顯示會(huì)顯示如下：
DC 3500?A， 100K? OK
?TEST? to Calibrate
DC 350?A 檔位校正
再按一下∨ 鍵，程式會(huì)進(jìn)入直流耐壓測(cè)試 DC 350?A 電流檔校正模式，顯示會(huì)顯示如下：
DC 350?A， 1M?
?TEST? to Calibrate
68將一個(gè)大約 1M?/0.25W 的電阻與一個(gè)可以量測(cè)到 300?A 以上的標(biāo)準(zhǔn)直流電流錶串聯(lián)後，
接在本分析儀的高壓輸出和回路的端子上，電流錶必須接在靠回路端子這一端，然後再按
測(cè)試 (TEST) 開關(guān)，程式會(huì)自動(dòng)產(chǎn)生一個(gè)大約 300VDC/300?ADC 的輸出電流，這時(shí)顯示
會(huì)顯示如下：
Current = ?A
Enter Standard I-out
使用數(shù)字鍵將直流標(biāo)準(zhǔn)電流錶上的數(shù)值鍵入本分析儀
(其單位為?A)，然後再按 ENTER 鍵，將交流耐壓測(cè)試 DC 350?A 檔的標(biāo)準(zhǔn)電流值存入本
分析儀，以作為校正之標(biāo)準(zhǔn)，這時(shí)顯示會(huì)顯示如下：
DC 350?A， 1M? OK
?TEST? to Calibrate
6.4.6 絕緣電阻校正
XXX.XM? 檔位校正
再按一下∨ 鍵，程式會(huì)進(jìn)入絕緣測(cè)試 XXX.XM?電阻檔校正模式，顯示會(huì)顯示如下：
XXX.XM?，STD 50M?
?TEST? to Calibrate
將一個(gè)大約 50M?/0.25W/1000VDC 的標(biāo)準(zhǔn)電阻，接在本分析儀的高壓輸出 (HV 端) 和回
路 (RETURN 端) 上，然後再按測(cè)試 (TEST) 開關(guān)，程式會(huì)自動(dòng)校正絕緣測(cè)試 XXX.XM?
電阻檔電阻值，顯示會(huì)顯示如下：
XXX.XM?，STD 50M? OK
?TEST? to Calibrate
XXXXM?檔位校正
再按一下 ∨ 鍵，程式會(huì)進(jìn)入絕緣測(cè)試 XXXXM?電阻檔校正模式，顯示會(huì)顯示如下：
XXXXM?，STD 50M?
?TEST? to Calibrate
將一個(gè)大約 50M?/0.25W/1000VDC 的標(biāo)準(zhǔn)電阻，接至本分析儀的高壓輸出 (HV 端) 和回
路 (RETURN 端)上，然後再按測(cè)試 (TEST) 開關(guān)，程式會(huì)自動(dòng)校正絕緣測(cè)試的 XXXXM?
電阻檔電阻值，顯示會(huì)顯示如下：
69XXXXM?，STD 50M? OK
?TEST? to Calibrate
6.4.7 交流接地阻抗電壓校正
再按一下 ∨ 鍵，程式會(huì)進(jìn)入交流接地電阻測(cè)試輸出電壓校正模式，顯示會(huì)顯示如下：
Ground V， 7V
?TEST? to Calibrate
將一個(gè)可以量測(cè)到 10V 以上的標(biāo)準(zhǔn)交流電壓錶，接至本分析儀的電流 (Current 端)輸出和
回路 (RETURN 端)上，然後再按測(cè)試 (TEST) 開關(guān)，程式會(huì)自動(dòng)產(chǎn)生一個(gè)大約 7VAC 的
輸出電壓，顯示會(huì)顯示如下：
G-Voltage = V
Enter Standard V-out
使用數(shù)字鍵將交流標(biāo)準(zhǔn)電壓錶上的數(shù)值鍵入本分析儀 (其單位為 V)，然後再按 ENTER
鍵，將交流接地電阻測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)電壓值存入本分析儀，以作為校正之標(biāo)準(zhǔn)，這時(shí)顯示會(huì)顯
示如下：
Ground V， 7V OK
?TEST? to Calibrate
6.4.8 交流接地阻抗電流校正
再按一下 ∨ 鍵，程式會(huì)進(jìn)入交流接地電阻測(cè)試的輸出電流校正模式，顯示會(huì)顯示如下：
Ground A, 30A
?TEST? to Calibrate
將一個(gè)可以量測(cè)到 30 Amp 以上的標(biāo)準(zhǔn)交流電流錶，接至分析儀的電流輸出和回路的端子
上，然後再按測(cè)試 (TEST) 開關(guān)，程式會(huì)自動(dòng)產(chǎn)生一個(gè)大約 30AAC 的輸出電流，顯示會(huì)
顯示如下：
G- Current = A
Enter Standard I-out
使用數(shù)字鍵將交流標(biāo)準(zhǔn)電流錶上的數(shù)值鍵入本分析儀 (其單位為 A)，然後再按 ENTER
70鍵，將交流接地電阻測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)電流值存入本分析儀，以作為校正之標(biāo)準(zhǔn)，這時(shí)顯示會(huì)顯
示如下：
Ground A， 30A OK
?TEST? to Calibrate
註明：1. 接地電阻測(cè)試的電阻值是以接地電阻測(cè)試的電壓和電流計(jì)算出來的數(shù)值，不必
做任何校正。
2. 僅 7440 機(jī)型具交流接地阻抗測(cè)試功能，因此必須作交流接地阻抗測(cè)試交流電
壓及交流電流的校正。
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